[發(fā)明專利]一種基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜影像分類方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110962828.5 | 申請日: | 2021-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN113673599A | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于純妍;宋梅萍;鞏寶玉;王玉磊;張建祎 | 申請(專利權(quán))人: | 大連海事大學(xué) |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司: | 大連至誠專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 21242 | 代理人: | 張海燕;涂文詩 |
| 地址: | 116000 遼寧省*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 校正 原型 學(xué)習(xí) 光譜 影像 分類 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜影像分類方法,包括選取高光譜場景圖像,隨機(jī)提取部分樣本作為訓(xùn)練集;隨機(jī)選出支持集和查詢集;搭建深度網(wǎng)絡(luò)模型,并計算學(xué)習(xí)度量空間中的初始類原型;搭建帶有殘差塊的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);S4:訓(xùn)練所述深度網(wǎng)絡(luò)模型;S5:選取測試數(shù)據(jù)集,從中隨機(jī)選取監(jiān)督樣本,并對所述監(jiān)督樣本的分布做校正標(biāo)準(zhǔn)化處理;S6:計算測試集樣本與所述測試類原型的歐式距離。本發(fā)明利用基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜分類方法對高光譜圖像進(jìn)行分類,通過選取支持集和查詢集,避免使用大量的標(biāo)記樣本,節(jié)省樣本標(biāo)記成本。與傳統(tǒng)原型網(wǎng)絡(luò)相比,得到了更好的分類精度,在高光譜圖像地表精細(xì)分類等方面具有重要的應(yīng)用價值。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于高光譜影像分類技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜影像分類方法。
背景技術(shù)
高光譜遙感實(shí)現(xiàn)了圖譜合一,包含豐富的光譜信息和空間信息,在精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)、軍事偵察、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。高光譜圖像分類是高光譜圖像研究的熱點(diǎn),并且隨著深度學(xué)習(xí)的深入探索和應(yīng)用,高光譜圖像分類技術(shù)取得了很大的進(jìn)展。然而,有限的有標(biāo)簽樣本是制約高光譜圖像分類發(fā)展的一個重要原因。現(xiàn)有的網(wǎng)絡(luò)模型和方法大多是基于人工標(biāo)注的樣本數(shù)據(jù),但這種方法費(fèi)時費(fèi)力且效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜影像分類方法,以克服現(xiàn)有的網(wǎng)絡(luò)模型和方法大多是基于人工標(biāo)注的樣本數(shù)據(jù),費(fèi)時費(fèi)力且效率低下,且有限的有標(biāo)簽樣本制約高光譜圖像分類發(fā)展的技術(shù)問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種基于校正原型學(xué)習(xí)的高光譜影像分類方法,包括:如下步驟:
S1:選取高光譜場景圖像,從中隨機(jī)提取部分樣本作為訓(xùn)練集;并從所述訓(xùn)練集中隨機(jī)選出支持集和查詢集,以作為為后續(xù)獲取校正的類原型和學(xué)習(xí)度量空間的訓(xùn)練集;
S2:搭建深度網(wǎng)絡(luò)模型以提取所述樣本的空間-光譜特征和學(xué)習(xí)度量空間,并計算學(xué)習(xí)度量空間中的初始類原型;
S3:搭建帶有殘差塊的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對所述初始類原型進(jìn)行校正,以獲取校正的類原型;
S4:采用校正的學(xué)習(xí)度量方法訓(xùn)練所述深度網(wǎng)絡(luò)模型,得到校正的深度網(wǎng)絡(luò)模型,以使得所述校正的類原型更加穩(wěn)健;
S5:在所述高光譜場景圖像中選取測試數(shù)據(jù)集,從中隨機(jī)選取監(jiān)督樣本,并對所述監(jiān)督樣本的分布做校正標(biāo)準(zhǔn)化處理,以采用所述校正的深度網(wǎng)絡(luò)模型獲取測試數(shù)據(jù)集中每一類的測試類原型;
S6:計算測試集樣本與所述測試類原型的歐式距離,以獲得對所述高光譜圖像的分類結(jié)果。
進(jìn)一步的,所述深度網(wǎng)絡(luò)模型是基于二維卷積操作的深度網(wǎng)絡(luò)而搭建,包括歸一化層、最大池化層、非線性激活函數(shù)層和全連接層。
進(jìn)一步的,所述殘差塊包括第1層、第1+1層和第1+2層;
所述殘差塊的第1層和第1+2層均包括第一卷積層和ReLU層;
所述殘差塊的第1+1層包括第二卷積層、ReLU層和第三卷積層。
進(jìn)一步的,所述卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括一個殘差塊和一個softmax層。
進(jìn)一步的,所述支持集和查詢集的選取方法采用的是元學(xué)習(xí)策略;所述支持集為包含有標(biāo)簽樣本的集合,所述查詢集為不包含標(biāo)簽樣本的集合。
進(jìn)一步的,獲取校正的類原型的步驟如下:
S31:建立所述初始類原型為:
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