[發(fā)明專利]一種門禁模塊測試裝置及其測試方法

在審

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• 申請日: 2021-08-16
• 公開（公告）號: CN113721091A
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發(fā)明（設計）人: 許哲濤
• 申請（專利權）人: 北京京東乾石科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 王寧;鄭紅娟

本發(fā)明公開了一種門禁模塊測試裝置及其測試方法。所述測試裝置包括環(huán)境模擬容器和多個測試接口，以及測試模塊；所述環(huán)境模擬容器，用于盛放至少一個門禁模塊并提供測試環(huán)境條件，所述環(huán)境模擬容器與所述測試模塊電連接；所述多個測試接口分別與所述測試模塊電連接，所述測試接口用于連接所述門禁模塊。通過環(huán)境模擬容器和多個測試接口，以及測試模塊組成專用設備，通過測試模塊接收測試接口連接門禁模塊以發(fā)送或接收信號，并記錄接收到的信號，不再采用外接引線和萬用表，并人工讀數記錄等工作，有助于解決現有技術中由于門禁模塊測試沒有專用設備，導致測試效率極其低下的技術問題。

技術領域

本發(fā)明涉及測試領域，尤其是指一種門禁模塊測試裝置及其測試方法。

背景技術

目前，對門禁模塊的測試往往通過萬用表和信號輸入設備等拼湊而成。另外，為了模擬門禁模塊的使用環(huán)境，還需要在外部設置控制溫度和濕度的獨立設備。門禁模塊在使用時可以采用多種通訊方式，根據這些不同的通訊方式還需要配置基站等，設備之間需要獨立調試，門禁模塊需要人工引線連接在萬用表上，再通過測試人員對萬用表的讀書進行讀取和記錄，測試完畢后拆除，再換上新的門禁模塊進行測試，當有大量門禁模塊需要測試時，工作量非常大，其最主要的原因在于沒有專用設備，導致測試效率極其低下。所以急需一種門禁模塊測試裝置及其測試方法，有助于解決現有技術中由于門禁模塊測試沒有專用設備，導致測試效率極其低下的技術問題。

發(fā)明內容

本申請?zhí)峁┝艘环N門禁模塊測試裝置，其目的在于，通過環(huán)境模擬容器和多個測試接口，以及測試模塊組成專用設備，通過測試模塊接收測試接口連接門禁模塊以發(fā)送或接收信號，并記錄接收到的信號，不再采用外接引線和萬用表，并人工讀數記錄等工作，有助于解決現有技術中由于門禁模塊測試沒有專用設備，導致測試效率極其低下的技術問題。

在一可選實施例中，所述測試裝置包括環(huán)境模擬容器和多個測試接口，以及測試模塊；

所述環(huán)境模擬容器，用于盛放至少一個門禁模塊并提供測試環(huán)境條件，所述環(huán)境模擬容器與所述測試模塊電連接以實現通過所述測試模塊對所述環(huán)境模擬容器測試環(huán)境條件的控制；

所述多個測試接口分別與所述測試模塊電連接，所述測試接口用于連接所述門禁模塊，以使所述門禁模塊與所述測試模塊電連接，并建立所述測試模塊與所述門禁模塊的信息交互，以及信息的讀取和記錄

在一可選實施例中，所述測試模塊包括處理器和接口切換模塊，以及測量電路和指令發(fā)射站；

所述處理器與所述接口切換模塊電連接，且所述接口切換模塊與所述多個測試接口電連接，所述接口切換模塊用于切換與所述處理器導通的所述測試接口；

所述測量電路與所述處理器電連接，且所述測量電路與所述測試接口電連接，以使所述處理器通過所述測量電路獲取測量電位，實現對所述門禁模塊的測量；

所述指令發(fā)射站與所述處理器電連接，所述指令發(fā)射站用于對所述門禁模塊發(fā)送執(zhí)行指令，以使所述處理器接收所述門禁模塊的反饋信號，所述指令發(fā)射站的第一電路連接端接地，所述指令發(fā)射站的第二電路連接端與第一電源的一端電連接，所述多個測試接口分別與所述第一電源的另一端電連接。

在一可選實施例中，所述測量電路包括第二電源和第一場效應管，以及第一電阻和第二電阻；

所述多個測試接口包括第一測試接口；

所述第一電阻的一端與所述第二電源電連接，所述第一電阻的另一端與所述第一測試接口電連接；

所述第二電阻的一端與所述第二電源電連接，所述第二電阻的另一端與所述第一場效應管的漏極電連接，所述第一場效應管的源極接地，所述第一場效應管的柵極與所述第一測試接口電連接。

在一可選實施例中，所述測量電路還包括第三電源和第二場效應管，以及第三電阻和第四電阻；