[發明專利]離子遷移譜-質譜聯用分析裝置

在審

• 申請號: 202110921377.0
• 申請日: 2021-08-11
• 公開（公告）號: CN115705992A
• 公開（公告）日: 2023-02-17
• 發明（設計）人: 孫文劍;曾國峯;王珂珂;張小強
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;G01N27/62;G01N27/624
• 代理公司: 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291
• 代理人: 劉振綺;毛立群

1.一種離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，包括：

電離源，用于產生目標分析物離子；

離子遷移率過濾器，接收所述電離源的至少一部分所述目標分析物離子，該離子遷移率過濾器在低于大氣壓的環境中工作，從所述目標分析物離子中選擇規定遷移率范圍內的離子通過；

質量過濾器，連接于所述離子遷移率過濾器的后級，從所述規定遷移率范圍內的離子中選擇規定質荷比范圍內的離子通過。

2.如權利要求1所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述離子遷移率過濾器為低真空差分遷移率分析儀。

3.如權利要求1所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述離子遷移率過濾器為U型離子遷移率分析儀。

4.如權利要求3所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述U型離子遷移率分析儀的工作氣壓為50-300Pa。

5.如權利要求1所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述質量過濾器為四極桿質量過濾器、磁偏轉型質量過濾器或雙聚焦型質量過濾器。

6.如權利要求1所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，還包括連接于所述質量過濾器后級的質量分析器，所述質量分析器為四極桿質量分析器、磁偏轉型質量分析器、雙聚焦型質量分析器、飛行時間質譜、離子阱質譜、軌道阱質譜或傅里葉變換離子回旋共振質譜。

7.如權利要求1所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述離子遷移率過濾器與所述質量過濾器之間安裝有第一離子解離裝置，所述第一離子解離裝置為碰撞誘導解離裝置、表面誘導解離裝置、光誘導解離裝置或者電子捕獲解離裝置。

8.如權利要求5所述的離子遷移譜-質譜聯用分析裝置，其特征在于，所述質量過濾器和所述質量分析器之間安裝有第二離子解離裝置，所述第二離子解離裝置為碰撞誘導解離裝置、表面誘導解離裝置、光誘導解離裝置或者電子捕獲解離裝置。

9.一種離子遷移譜-質譜聯用分析方法，其特征在于，包括以下步驟：

產生目標分析物離子；

在低于大氣壓的環境中工作的離子遷移率過濾器接收至少一部分所述目標分析物離子，并從所述目標分析物離子中選擇規定遷移率范圍內的離子通過；

使用連接于所述離子遷移率過濾器后級的質量過濾器，從所述規定遷移率范圍內的離子中選擇規定質荷比范圍內的離子通過。

10.如權利要求9所述的離子遷移譜-質譜聯用分析方法，其特征在于，還包括以下步驟：

在不連續的多個離子遷移率通道間切換選取一個離子遷移率通道，作為所述規定遷移率范圍，其中，每個所述離子遷移率通道對應一個或多個所述質量過濾器的質荷比通道。

11.如權利要求10所述的離子遷移譜-質譜聯用分析方法，其特征在于，所述在不連續的多個離子遷移率通道間切換選取一個離子遷移率通道的步驟中，在特定時刻同時切換所述離子遷移率通道和所述質荷比通道，以改變目標分析物。

12.如權利要求10所述的離子遷移譜-質譜聯用分析方法，其特征在于，還包括以下步驟：

提供連接于所述質量過濾器后級的質量分析器，并且，一個所述離子遷移率通道和一個所述質量過濾器的質荷比通道的組合對應一個或者多個所述質量分析器的質荷比通道。

13.如權利要求9所述的離子遷移譜-質譜聯用分析方法，其特征在于，所述離子遷移率過濾器為在50-300Pa環境中工作的U型離子遷移率分析儀。