[發(fā)明專利]一種提高天線方向圖零深位置測試精度的方法

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• 申請日: 2021-08-11
• 公開（公告）號: CN113777412A
• 公開（公告）日: 2021-12-10
• 發(fā)明（設計）人: 胡正;郭利強;顏振;周楊;曹桂財;耿祖琨;米郁;陳安濤;張文濤;時建樹
• 申請（專利權）人: 中電科思儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 青島智地領創(chuàng)專利代理有限公司 37252
• 代理人: 陳海濱

1.一種提高天線方向圖零深位置測試精度的方法，其特征在于，根據(jù)零深附近方向圖呈現(xiàn)近似對稱分布的特點，將廣義互相關時延估計方法應用到零深估計，提高零深位置測試精度；具體包括如下步驟：

S1.選取零深附近呈現(xiàn)近似對稱分布部分的數(shù)據(jù)段作為有效數(shù)據(jù)，記為x[n]；

S2.對選取的數(shù)據(jù)類型進行判斷并處理，將處理后的數(shù)據(jù)記為y[n]；

S3.在零深附近選取一點作為零深的估計粗值，假設該值的索引為m,以x＝m為對稱軸，將y[n]進行翻褶，得到數(shù)據(jù)序列為y′[n]＝y(tǒng)[-(n-2m)]；

S4.利用廣義互相關時延估計方法計算互功率譜G[n]；

S5.對G[n]補零，記G[n]的數(shù)據(jù)長度為M，補零操作后的總數(shù)據(jù)長度為a·M，a為數(shù)據(jù)長度的倍數(shù)；

S6.進行傅里葉反變換得到時域互相關函數(shù)值，進行峰值檢測，得到峰值對應的索引值為N，則零深的位置為N/(2a)+m。

2.根據(jù)權利要求1所述提高天線方向圖零深位置測試精度的方法，其特征在于，所述步驟S1中，x[n]選取的具體過程為：根據(jù)零深附近方向圖的數(shù)值，取經(jīng)驗值L，選取直線y＝L與零深附近方向圖進行相交，直線橫截零深附近方向圖后直線以下部分就是選取的離散數(shù)據(jù)x[n]。

3.根據(jù)權利要求1所述提高天線方向圖零深位置測試精度的方法，其特征在于，所述步驟S2中判斷并處理的具體內(nèi)容為：如果選取的數(shù)據(jù)是線性值，對x[n]取倒數(shù)；如果是分貝值，對x[n]取絕對值。

4.根據(jù)權利要求1所述提高天線方向圖零深位置測試精度的方法，其特征在于，所述步驟S4中，G[n]的計算采用廣義互相關時延估計中的PHAT加權法，計算表達式為：其中S[n]＝fft(y[n])·conj(fft(y[n]))，fft表示快速傅里葉變換，conj表示取共軛。