[發明專利]一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統及方法有效
| 申請號: | 202110872099.4 | 申請日: | 2021-07-30 |
| 公開(公告)號: | CN113670581B | 公開(公告)日: | 2022-07-22 |
| 發明(設計)人: | 張振;肖惠云;馬勇;潘武;劉藝;冉佳;黃文;郝宏剛;李國軍 | 申請(專利權)人: | 重慶郵電大學 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01N21/31 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 胡曉麗 |
| 地址: | 400000 重*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 光學 元件 瞬態 吸收 測試 系統 方法 | ||
1.一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統,其特征在于,包括激光器(1)、分光鏡(9)、透鏡(8)、透鏡組(7)和光譜儀(10);
所述激光器(1)用于發射激光;
所述分光鏡(9)用于將激光器(1)發射的激光分為兩束激光;其中一束激光用于作為泵浦光照射到樣品(5)表面誘導損傷;另一束激光經透鏡(8)匯聚激發電離空氣,產生兩束具有相同脈寬和光譜范圍的瞬態白光;
設置兩個透鏡組(7)用于收集瞬態白光,經透鏡組(7)處理的其中一束瞬態白光作為參考光,經光纖I收集于光譜儀(10);另一束瞬態白光作為探針光,經光纖II傳遞至樣品處,與泵浦光一同聚集于樣品(5)上的相同位置;
所述光譜儀(10)還用于通過光纖III收集探針光。
2.根據權利要求1所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統,其特征在于,還包括劈板(3)和能量卡計(6),所述劈板(3)用于將泵浦光分為兩束,一束用于能量卡計(6)實時監測激光器(1)輸出的能量,另一束用于誘導樣品(5)產生損傷。
3.根據權利要求1所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統,其特征在于,還包括透鏡I(4),所述透鏡I(4)用于將泵浦光聚焦在樣品(5)上。
4.根據權利要求1所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統,其特征在于,在沿泵浦光的傳輸路線上還設有若干反光鏡(2),若干反光鏡(2)依次布置作為泵浦光延時路線。
5.根據權利要求1所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試系統,其特征在于,所述透鏡組(7)由兩個焦距相同的透鏡構成。
6.一種用于光學元件的瞬態吸收測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
啟動激光器,由激光器發出的激光經分光鏡分為兩束激光;其中一束激光作為泵浦光照射到樣品表面誘導損傷;另一束激光經透鏡匯聚激發電離空氣,產生兩束具有相同脈寬和光譜范圍的瞬態白光;
設置兩個透鏡組收集瞬態白光,經透鏡組處理的其中一束瞬態白光作為參考光,經光纖I收集于光譜儀;另一束瞬態白光作為探針光,經光纖II傳遞至樣品處,與泵浦光一同聚集于樣品上的相同位置;
光譜儀通過光纖III收集探針光,獲取樣品的吸收率。
7.根據權利要求6所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試方法,其特征在于,樣品的吸收率的絕對值通過如下公式進行計算:
其中,refn是泵浦光沒有作用時瞬態白光通過樣品的光譜,samplen指代主激光作用瞬間通過樣品的探針光的光譜,darkn指代泵浦光和探針光均未經過樣品時暗室的背景光,scan指代主激光作用瞬間樣品對主激光的散射光。
8.根據權利要求6所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試方法,其特征在于,所述激光器采用納秒脈沖激光器,納秒脈沖激光器的參數設計為:主激光脈寬為6.8ns,泵浦光為355nm。
9.根據權利要求6所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試方法,其特征在于,主激光作用在樣品前表面光斑的半徑為2mm。
10.根據權利要求6所述的一種用于光學元件的瞬態吸收測試方法,其特征在于,所述光譜儀的積分時間為1000ms。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于重慶郵電大學,未經重慶郵電大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110872099.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





