[發(fā)明專利]一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110830024.X | 申請(qǐng)日: | 2021-07-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113567436A | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石劍虹;李永豪;曾貴華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84;G01N21/01;G06N3/04;G06K9/62 |
| 代理公司: | 上海旭誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31220 | 代理人: | 鄭立 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 深度 卷積 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 顯著 目標(biāo) 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,包括光源、空間光調(diào)制裝置、透鏡、探測(cè)器與處理器模塊,其中,所述空間光調(diào)制裝置用于調(diào)制所述光源發(fā)射的光并照射至目標(biāo)場(chǎng)景,所述空間光調(diào)制裝置使用預(yù)置的調(diào)制信息進(jìn)行光場(chǎng)調(diào)制,所述空間光調(diào)制裝置生成的空間光場(chǎng)為離散余弦結(jié)構(gòu)光分布的光場(chǎng),所述透鏡用于匯聚所述目標(biāo)場(chǎng)景的反射光,所述探測(cè)器用于探測(cè)所述反射光的強(qiáng)度,所述處理器模塊用于采集所述探測(cè)器的數(shù)據(jù)并對(duì)所述目標(biāo)場(chǎng)景進(jìn)行顯著性目標(biāo)檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述處理器分別與所述空間光調(diào)制裝置和所述探測(cè)器連接,實(shí)現(xiàn)同步控制。
3.如權(quán)利要求1所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述離散余弦結(jié)構(gòu)光由以下公式獲得:
其中,當(dāng)u或v取值為0時(shí),當(dāng)u或v取值不為0時(shí),α(u or v)=1;x,y,u,v,M,N為離散余弦變換中的變量,取值范圍為0到128之間。
4.如權(quán)利要求1所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述探測(cè)器為陣列探測(cè)器或單像素探測(cè)器,所述單像素探測(cè)器為光電二極管或光電倍增管。
5.如權(quán)利要求1所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光源為單色LED光源或熱光源,所述透鏡為凹透鏡或凸透鏡。
6.如權(quán)利要求1所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述空間光調(diào)制裝置為空間光調(diào)制器或數(shù)字投影儀。
7.一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
步驟1、空間光調(diào)制裝置調(diào)制光源發(fā)射的光并照射至目標(biāo)場(chǎng)景處;
步驟2、透鏡匯聚所述目標(biāo)場(chǎng)景的反射光;
步驟3、處理器模塊采集探測(cè)器探測(cè)的所述反射光的強(qiáng)度;
步驟4、對(duì)所述處理器模塊采集的光強(qiáng)值矩陣進(jìn)行一次離散余弦變換,并經(jīng)過近似濾波和一次離散余弦反變換獲得所述目標(biāo)場(chǎng)景的離散余弦系數(shù)矩陣;
步驟5、對(duì)所述離散余弦系數(shù)矩陣進(jìn)行一次離散余弦反變換之后,輸入到深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)獲取所述目標(biāo)場(chǎng)景中的顯著性目標(biāo)區(qū)域。
8.如權(quán)利要求7所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟1中,所述空間光調(diào)制裝置使用預(yù)置調(diào)制信息進(jìn)行光場(chǎng)調(diào)制,生成的空間光場(chǎng)為離散余弦結(jié)構(gòu)光分布的光場(chǎng)。
9.如權(quán)利要求8所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于,所述離散余弦結(jié)構(gòu)光由以下公式獲得:
其中,當(dāng)u或v取值為0時(shí),當(dāng)u或v取值不為0時(shí),α(u or v)=1;x,y,u,v,M,N為離散余弦變換中的變量,取值范圍為0到128之間。
10.如權(quán)利要求7所述的一種基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的顯著性目標(biāo)檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟4中,所述離散余弦系數(shù)矩陣D(u,v)采用以下方式獲得:
DI(u',v')=D{I(u,v)}
DI(0,0)=[DI(0,1)+DI(1,0)+DI(1,1)]/3
D(u,v)=D-1{DI(u',v')}
其中,D{}表示離散余弦變換;D-1{}表示離散余弦逆變換;I(u,v)對(duì)應(yīng)于離散余弦光P(x,y;u,v)的探測(cè)器的響應(yīng),即探測(cè)到的總光強(qiáng)值。
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
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