[發明專利]顯示基板及其制備方法、顯示裝置

在審

• 申請號: 202110822041.9
• 申請日: 2021-07-20
• 公開（公告）號: CN113555404A
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: 李孟
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: H01L27/32
• 分類號: H01L27/32;H01L23/544
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 曲鵬

本公開提供了一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置。顯示基板包括有效區域和邊框區域，有效區域包括顯示區和至少一個測試區，顯示區包括多個子像素，至少一個子像素包括像素驅動電路，測試區包括至少一個測試單元，測試單元包括測試晶體管、多個測試引線和多個測試端子，測試晶體管與像素驅動電路中至少一個晶體管的結構相同，多個測試端子通過多個測試引線與測試晶體管連接；邊框區域設置有多個測試引腳和多條連接線，多個測試引腳通過多條連接線與多個測試端子對應連接。本公開通過在有效區域形成測試電路，測試電路中測試晶體管的特性與顯示區中對應的晶體管特性基本上一致，測試晶體管能夠準確地反映顯示區中晶體管的實際特性。

技術領域

本公開涉及但不限于顯示技術領域，尤指一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置。

背景技術

有機發光二極管(Organic Light Emitting Diode，簡稱OLED)為主動發光顯示器件，具有自發光、廣視角、高對比度、低耗電、極高反應速度、輕薄、可彎曲和成本低等優點。隨著顯示技術的不斷發展，以OLED為發光器件、由薄膜晶體管(Thin Film Transistor，簡稱TFT)進行信號控制的柔性顯示裝置(Flexible Display)已成為目前顯示領域的主流產品。

經本申請發明人研究發現，現有OLED顯示基板上的測試組件不能準確反映顯示區域中晶體管的實際特性。

發明內容

以下是對本文詳細描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權利要求的保護范圍。

本公開所要解決的技術問題是，提供一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置，解決現有測試組件不能準確反映顯示區域中晶體管的實際特性的問題。

本公開提供了一種顯示基板，包括有效區域以及位于所述有效區域外圍的邊框區域，所述有效區域包括顯示區和至少一個測試區，所述顯示區包括多個子像素，至少一個子像素包括像素驅動電路，所述測試區包括至少一個測試單元，所述測試單元包括測試晶體管、多個測試引線和多個測試端子，所述測試晶體管與所述像素驅動電路中至少一個晶體管的結構相同，所述多個測試端子通過所述多個測試引線與所述測試晶體管連接；所述邊框區域設置有多個測試引腳和多條連接線，所述多個測試引腳通過多條連接線與所述多個測試端子對應連接。

在示例性實施方式中，至少一個測試端子以及連接所述測試端子的測試引線同層設置，且為相互連接的一體結構。

在示例性實施方式中，所述測試單元還包括多個輔助引腳，所述多個輔助引腳通過所述多條連接線與所述多個測試引腳對應連接，所述多個測試端子通過過孔與所述多個輔助引腳對應連接。

在示例性實施方式中，至少一個測試引腳、至少一個輔助引腳以及連接所述測試引腳和輔助引腳的連接線同層設置，且為相互連接的一體結構。

在示例性實施方式中，所述多個測試端子至少包括柵測試端子、源測試端子和漏測試端子，所述多個測試引線至少包括柵測試引線、源測試引線和漏測試引線；所述測試晶體管的控制極通過所述柵測試引線與所述柵測試端子連接，所述測試晶體管的第一極通過所述源測試引線與所述源測試端子連接，所述測試晶體管的第二極通過所述漏測試引線與所述漏測試端子連接。

在示例性實施方式中，所述測試區還包括至少一個虛擬像素，至少一個虛擬像素包括虛擬像素驅動電路，所述虛擬像素驅動電路與所述像素驅動電路的結構相同，所述虛擬像素驅動電路設置在相鄰的測試引線之間。