[發(fā)明專利]片式封裝外殼在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110812455.3 | 申請日: | 2021-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN113707634A | 公開(公告)日: | 2021-11-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊振濤;高嶺;于斐;劉林杰;淦作騰;畢大鵬;王東生;張騰;劉彤 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L23/49 | 分類號: | H01L23/49;H05K1/02 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人: | 付曉娣 |
| 地址: | 050051 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 封裝 外殼 | ||
1.一種片式封裝外殼,其特征在于,包括:
陶瓷體,形成用于容置芯片的容置腔,所述陶瓷體底部設(shè)有焊盤;以及
引線,上表面與所述焊盤連接,所述引線具有從上至下順次連接的引線上部、引線中部和引線下部,所述引線中部的寬度小于所述引線上部的寬度,且所述引線中部的寬度小于所述引線下部的寬度。
2.如權(quán)利要求1所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述引線上部的寬度等于所述引線下部的寬度。
3.如權(quán)利要求1或2所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述引線中部的側(cè)面、所述引線上部的底面和所述引線下部的頂面均為平直面,所述引線中部的側(cè)面與所述引線上部的底面之間,以及所述引線中部的側(cè)面和所述引線下部的頂面之間均呈夾角設(shè)置。
4.如權(quán)利要求1或2所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述引線中部的側(cè)面與所述引線上部的底面均為圓滑過渡的弧面,所述引線中部的側(cè)面與所述引線下部的頂面均為圓滑過渡的弧面。
5.如權(quán)利要求1所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述陶瓷體的底面開設(shè)有引線容置槽,所述引線部分容置于所述引線容置槽中,所述陶瓷體的底端面與所述引線下部的底端面平齊。
6.如權(quán)利要求1所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述片式封裝外殼還包括平板狀的熱沉,所述陶瓷體呈環(huán)狀,所述陶瓷體的底部形成階梯槽,所述階梯槽的底部內(nèi)徑小于所述階梯槽的頂部內(nèi)徑,所述熱沉嵌裝于所述階梯槽。
7.如權(quán)利要求6所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述熱沉與所述階梯槽的頂面焊接,所述熱沉的上表面開設(shè)有第一阻焊槽,所述第一阻焊槽位于所述容置腔內(nèi),且靠近所述陶瓷體與所述熱沉的連接面設(shè)置。
8.如權(quán)利要求6所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述熱沉包括:
主體,所述主體上開設(shè)有上下貫通且呈蜂窩狀分布的通孔;以及
填充芯體,填充于所述通孔內(nèi),所述填充芯體的熱導(dǎo)率大于所述主體的熱導(dǎo)率。
9.如權(quán)利要求6所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述熱沉的上表面還設(shè)有第二阻焊槽,所述第二阻焊槽靠近所述熱沉上表面上的芯片安裝區(qū)域設(shè)置。
10.如權(quán)利要求1所述的片式封裝外殼,其特征在于,所述陶瓷體的外周面設(shè)有側(cè)面空心孔,所述側(cè)面空心孔為金屬化孔,所述陶瓷體內(nèi)的鍵合指通過所述側(cè)面空心孔實現(xiàn)與所述焊盤的導(dǎo)電連接。
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