[發(fā)明專利]測試結(jié)構(gòu)件和測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110793721.2 | 申請日: | 2021-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN115616455A | 公開(公告)日: | 2023-01-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉詩濤;畢煜;易畢 | 申請(專利權(quán))人: | 中興智能科技南京有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/66 | 分類號: | G01R31/66;H01R4/60 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;馮建基 |
| 地址: | 210000 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 結(jié)構(gòu)件 系統(tǒng) | ||
本公開提供一種測試結(jié)構(gòu)件,包括通用匹配件、連接器匹配件、多條信號傳輸線和至少一個接地信號線;所述通用匹配件包括匹配平面和與所述匹配平面相對的參考面,所述接地信號線與所述參考面電連接;所述連接器匹配件包括參考?xì)んw和阻抗調(diào)節(jié)部,所述阻抗調(diào)節(jié)部設(shè)置在所述阻抗調(diào)節(jié)部中,待測試的連接器的導(dǎo)電探針能夠在所述參考?xì)んw的底端面的任意位置插入所述參考?xì)んw中;所述接地信號線設(shè)置在所述阻抗調(diào)節(jié)部中,所述信號傳輸線貫穿所述通用匹配件和所述阻抗調(diào)節(jié)部,且相鄰兩個信號傳輸線的第一端之間的間隔大于該相鄰兩個信號傳輸線的第二端之間的間隔。本公開還提供一種測試系統(tǒng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及通信設(shè)備的測試領(lǐng)域,具體地,涉及一種測試結(jié)構(gòu)件和一種包括該測試結(jié)構(gòu)件的測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
連接器是通信系統(tǒng)的重要組成部分,主要作用是將通信系統(tǒng)中的兩個電氣器件電連接、并為連接在一起的電氣器件提供力學(xué)支撐。隨著通信技術(shù)的發(fā)展,通信系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)也越來越復(fù)雜,用到連接器的場合也越來越多。隨著通信過程中對時延要求、以及數(shù)據(jù)處理量要求越來越高,相應(yīng)地,對通信系統(tǒng)中的連接器的電氣性能和指標(biāo)要求也越來越嚴(yán)格。
為了確定連接器的電氣性能和指標(biāo),需要對連接器進(jìn)行性能測試。在相關(guān)技術(shù)中,常用的測試方法如下:
利用待測試的連接器與定制好的至少兩塊測試用印刷電路板(PCB,printcircuit board)電連接,隨后使用網(wǎng)絡(luò)分析儀與測試用PCB電連接,通過網(wǎng)絡(luò)分析儀分析連接器的電氣性能和指標(biāo)。
但是,利用上述測試方法時,需要針對連接器定子測試用PCB,提高了測試成本。并且,使用上述方法對連接器進(jìn)行測試后,也對連接器造成了不可逆轉(zhuǎn)的損傷。
發(fā)明內(nèi)容
本公開提供一種測試結(jié)構(gòu)件和一種包括該測試結(jié)構(gòu)件的測試系統(tǒng)。
作為本公開的第一個方面,提供一種測試結(jié)構(gòu)件,其中,所述測試結(jié)構(gòu)件包括通用匹配件、連接器匹配件、多條信號傳輸線和至少一個接地信號線;
所述通用匹配件包括匹配平面和與所述匹配平面相對的參考面,所述接地信號線與所述參考面電連接;
所述連接器匹配件包括參考?xì)んw和阻抗調(diào)節(jié)部,所述阻抗調(diào)節(jié)部設(shè)置在所述阻抗調(diào)節(jié)部中,所述參考?xì)んw的頂端面與所述參考面電連接,待測試的連接器的導(dǎo)電探針能夠在所述參考?xì)んw的底端面的任意位置插入所述參考?xì)んw中;
所述接地信號線設(shè)置在所述阻抗調(diào)節(jié)部中,且所述接地信號線分別與所述參考?xì)んw以及所述參考面電連接,所述信號傳輸線貫穿所述通用匹配件和所述阻抗調(diào)節(jié)部,所述信號傳輸線上用于與待測試的連接器的導(dǎo)電探針電連接的端面的朝向與所述底端面的朝向相同,所述信號傳輸線的第一端從所述匹配平面穿出。
可選地,所述參考?xì)んw由第一導(dǎo)電材料制成,所述第一導(dǎo)電材料的硬度低于第一預(yù)設(shè)閾值,以使得所述導(dǎo)電探針能夠插入所述參考?xì)んw的底端面中。
可選地,所述第一預(yù)設(shè)閾值的肖氏硬度取值在70至90之間,所述第一導(dǎo)電材料的電阻率不超過100Ω·m,所述第一導(dǎo)電材料的屏蔽效能不低于90dB。
可選地,所述信號傳輸線的第二端從所述阻抗調(diào)節(jié)部的底端面穿出,相鄰兩個信號傳輸線的第二端之間的間隔與待測試的連接器的相鄰兩個導(dǎo)電探針之間的間隔相匹配,且相鄰兩個信號傳輸線的第一端之間的間隔大于該相鄰兩個信號傳輸線的第二端之間的間隔。
可選地,所述信號傳輸線包括電連接的第一信號傳輸部和第二信號傳輸部,所述第一信號傳輸部貫穿所述通用匹配件,所述第二信號傳輸部貫穿所述阻抗調(diào)節(jié)部中;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中興智能科技南京有限公司,未經(jīng)中興智能科技南京有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110793721.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種橙味汽水配方
- 下一篇:接口訪問方法、裝置及設(shè)備
- 同類專利
- 專利分類





