[發(fā)明專利]一種老化測(cè)試系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110778857.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113406424B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-01-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 聶世球;張揚(yáng)揚(yáng);王金福;葉鏡波;姚鑫榮;張偉釗;李業(yè)華;朱泓衍;姜承湘;周義貴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳前海驍客影像科技設(shè)計(jì)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G06K7/10 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區(qū)綜合*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 老化 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種老化測(cè)試系統(tǒng)和方法,該系統(tǒng)包括:老化測(cè)試裝置,包括測(cè)試模塊和第一定位模塊,測(cè)試模塊用于連接待測(cè)試的顯示屏以檢測(cè)顯示屏的老化情況;老化測(cè)試架,包括固定架和第二定位模塊,固定架包括測(cè)試裝置支架,測(cè)試裝置支架用于固定老化測(cè)試裝置,第二定位模塊與測(cè)試裝置支架對(duì)應(yīng)設(shè)置,第一定位模塊用于識(shí)別第二定位模塊以確定老化測(cè)試裝置在固定架上的物理位置;老化管理中心,用于獲取并展示老化測(cè)試裝置返回的老化信息,老化信息包括老化情況和物理位置。本發(fā)明實(shí)施例對(duì)顯示屏進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)無(wú)需手動(dòng)確定老化測(cè)試裝置的物理位置,方便快捷,也避免了人工操作出錯(cuò)的可能性,提高了老化測(cè)試系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及老化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種老化測(cè)試系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
在顯示屏老化測(cè)試領(lǐng)域,為了方便對(duì)顯示屏老化測(cè)試的管理,通常需要知道某一臺(tái)顯示屏老化裝置在老化測(cè)試架上的物理位置,以方便通過(guò)PC機(jī)進(jìn)行管理和監(jiān)測(cè)工作狀況,特別是大型的顯示屏老化生產(chǎn)線,一臺(tái)PC機(jī)通常會(huì)管理多個(gè)老化測(cè)試架上幾百臺(tái)顯示屏老化測(cè)試裝置。目前傳統(tǒng)的老化測(cè)試系統(tǒng)中,顯示屏老化測(cè)試裝置物理位置的確定需要人工在顯示屏老化裝置上設(shè)定位置編碼,或者在物理位置上增加位置編碼器再通過(guò)接線連接到老化測(cè)試裝置上,人工設(shè)置有可能設(shè)置錯(cuò)誤,或者忘記設(shè)置,通過(guò)接線連接的方式受接觸狀態(tài)影響很大,接觸不良會(huì)造成編碼讀取錯(cuò)誤。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例提供一種老化測(cè)試系統(tǒng)和老化測(cè)試管理方法,以自動(dòng)確定老化測(cè)試裝置在老化測(cè)試架上的物理位置,無(wú)需人工定位,方便快捷且不易出錯(cuò),提高了老化測(cè)試系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
為達(dá)此目的,第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種老化測(cè)試系統(tǒng),應(yīng)用于顯示屏老化生產(chǎn)線,包括:
老化測(cè)試裝置,包括測(cè)試模塊和第一定位模塊,所述測(cè)試模塊用于連接待測(cè)試的顯示屏以檢測(cè)所述顯示屏的老化情況;
老化測(cè)試架,包括固定架和第二定位模塊,所述固定架包括測(cè)試裝置支架,所述測(cè)試裝置支架用于固定所述老化測(cè)試裝置,所述第二定位模塊與所述測(cè)試裝置支架對(duì)應(yīng)設(shè)置,所述第一定位模塊用于識(shí)別所述第二定位模塊以確定所述老化測(cè)試裝置在所述固定架上的物理位置;
老化管理中心,用于獲取并展示老化測(cè)試裝置返回的老化信息,所述老化信息包括所述老化情況和所述物理位置。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述固定架還包括:顯示屏支架,所述顯示屏支架用于固定待測(cè)試的顯示屏。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述第一定位模塊包括RFID讀卡器,所述第二定位模塊包括RFID卡。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述第一定位模塊包括掃碼器,所述第二定位模塊包括識(shí)別碼。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述固定架還包括定位模塊支架,所述定位模塊支架用于固定所述RFID卡或識(shí)別碼。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述第一定位模塊固定于所述測(cè)試模塊的底部,且所述第一定位模塊的識(shí)別方向朝下。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述RFID卡或識(shí)別碼與所述定位模塊支架可拆卸連接
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種老化測(cè)試管理方法,基于老化測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn),包括:
通過(guò)測(cè)試模塊檢測(cè)待測(cè)試的顯示屏的老化情況,通過(guò)第一定位模塊配合第二定位模塊確定所述測(cè)試模塊的物理位置;
將所述老化情況與所述物理位置匹配確定并通過(guò)老化管理中心顯示老化測(cè)試系統(tǒng)的老化信息。
可選的,在一些實(shí)施例中,所述將所述老化情況與所述物理位置匹配確定并通過(guò)老化管理中心顯示老化測(cè)試系統(tǒng)的老化信息,包括:
根據(jù)所述物理位置確定老化測(cè)試系統(tǒng)中老化測(cè)試架的擺放情況;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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