[發明專利]砂巖樣品掃描試驗方法和系統

在審

• 申請號: 202110754164.3
• 申請日: 2021-07-02
• 公開（公告）號: CN113607764A
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: 李曙光;李校珂;楊星智;王存寶;劉博;謝江勝;仲維玲;王平安;王青松
• 申請（專利權）人: 中鐵二十局集團有限公司
• 主分類號: G01N23/2206
• 分類號: G01N23/2206;G01N23/2251;G01N23/2202;G01N23/20;G01N23/20008;G01N23/20091;G01N17/00
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 李宇翔

1.一種砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標砂巖；

對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣；

將所述目標巖樣加工成薄片，獲得巖樣薄片；

對所述巖樣薄片進行鍍金處理，獲得目標巖樣薄片；

通過電子顯微鏡對所述目標巖樣薄片進行掃描，獲得巖樣掃描圖像。

2.如權利要求1所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣的步驟之前，所述方法還包括：

對所述目標砂巖進行干燥處理；

所述對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣的步驟，具體包括：

對干燥處理后的目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣。

3.如權利要求1所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述不同程度的酸腐蝕試驗包括受同一酸堿度的酸溶液腐蝕不同天數或受不同酸堿度的酸溶液腐蝕相同天數，所述酸溶液包括鹽酸溶液或硫酸溶液。

4.如權利要求3所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣的步驟，具體包括：

將所述目標砂巖浸泡在pH＝7的蒸餾水中不同天數后，采集所述目標砂巖表面腐蝕區的巖樣，獲得第一巖樣；

將所述目標砂巖浸泡在pH＝5的酸溶液中不同天數后，采集所述目標砂巖表面腐蝕區的巖樣，獲得第二巖樣；

將所述目標砂巖浸泡在pH＝3的酸溶液中不同天數后，采集所述目標砂巖表面腐蝕區的巖樣，獲得第三巖樣；

將所述目標砂巖浸泡在pH＝1的酸溶液中不同天數后，采集所述目標砂巖表面腐蝕區的巖樣，獲得第四巖樣。

5.如權利要求4所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗，獲得目標巖樣的步驟，還包括：

將所述目標砂巖置于自然環境下不同天數后，采集所述目標砂巖內部未腐蝕區的巖樣，獲得原巖巖樣。

6.如權利要求1所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述將所述目標巖樣加工成薄片，獲得巖樣薄片的步驟，具體包括：

將所述目標巖樣加工成指定長寬高的薄片，并利用吹氣裝置清除所述薄片表面的碎屑，獲得巖樣薄片。

7.如權利要求1所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述對所述巖樣薄片進行鍍金處理，獲得目標巖樣薄片的步驟，具體包括：

通過離子濺射儀對所述巖樣薄片進行鍍金處理，以消除電荷聚集，獲得目標巖樣薄片。

8.如權利要求1所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述通過電子顯微鏡對所述目標巖樣薄片進行掃描，獲得巖樣掃描圖像的步驟，具體包括：

將所述目標巖樣薄片固定在所述電子顯微鏡的載物臺上；

抽出所述目標巖樣薄片與所述載物臺之間的空氣；

調節所述電子顯微鏡的工作參數；

通過所述電子顯微鏡對所述目標巖樣薄片進行掃描，獲得目標巖樣的掃描圖像。

9.如權利要求1至8任一項所述的砂巖樣品掃描試驗方法，其特征在于，所述電子顯微鏡包括設置有X射線能譜儀的電子顯微鏡；

所述方法還包括：

通過X射線能譜儀對所述巖樣掃描圖像中的標記孔隙進行能譜分析，獲得對應的巖樣能譜圖。

10.一種砂巖樣品掃描試驗系統，其特征在于，所述系統用于執行權利要求1至9中任一項所述的砂巖樣品掃描試驗方法；所述系統包括：

吹氣裝置，用于在將目標巖樣加工成薄片時，清除所述薄片表面的碎屑，獲得巖樣薄片；

離子濺射儀，用于對所述巖樣薄片進行鍍金處理，獲得目標巖樣薄片；

電子顯微鏡，用于對所述目標巖樣薄片進行掃描，獲得巖樣掃描圖像；

其中，所述目標巖樣基于獲取目標砂巖后，對所述目標砂巖進行不同程度的酸腐蝕試驗獲得。