[發明專利]一種基于蒙特卡洛的最小實體要求下直線度測量方法在審
| 申請號: | 202110716076.4 | 申請日: | 2021-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN113483720A | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發明(設計)人: | 黃美發;茍國秋;梁健偉 | 申請(專利權)人: | 桂林電子科技大學 |
| 主分類號: | G01B21/22 | 分類號: | G01B21/22;G01B21/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 541004 廣*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 蒙特卡洛 最小 實體 要求 直線 測量方法 | ||
1.一種快速、穩定地標注有直線度公差應用LMR的圓柱體零件檢測時最佳測量點數推理方法,其特征在于,具體步驟如下:
步驟1:研究零件加工時懸臂裝夾方式下其加工對尺寸誤差的影響,分析切削加工時主切削力(
步驟1結束后進行步驟2;
步驟2:假設圓柱體零件的截面上有
在步驟1的尺寸誤差形貌變化的基礎上,對被測要素應用LMR直線度公差的零件進行直線度度誤差形貌分析,假設徑向圓柱體截面
然后,當一次測量隨機變量
然后,當時,一次測量不超出的概率為99.73%,由于,則,所以徑向截面上某個測量點的實際直徑,從而得到標注有直線度誤差應用LMR時,實際零件的形貌變化函數;
步驟2后進入步驟3;
步驟3:假設被測圓柱體提取點的誤差在Z軸方向上是線性的,在X、Y方向分別由三個尺度的軸向誤差和徑向誤差合成,根據步驟2求出圓柱體的直線度誤差形貌變化函數,模擬實際被測圓柱體的所有截面的所有測點{
其中,
步驟3結束進入步驟4;
步驟4: 被測要素應用LMR直線度誤差評定;根據步驟3得到的零件模擬測點集{
步驟4結束后進入步驟5;
步驟5:由于測點模擬基于“直線度誤差評定的結果服從正態分布”這一理論,設計判斷條件:極限當量尺寸平均值的變化量小于0.001mm時,模擬測點符合所要求大樣本條件,且直線度誤差服從正態分布,執行步驟6,否則返回步驟2,直到符合判斷條件;
步驟5結束后進入步驟6;
步驟6:步驟5完成之后,計算極限當量尺寸平均值與其測量指標的差值,即測量誤差,比較:測量誤差與測量允差,當測量誤差大于等于測量允差時,輸出最后得到的最佳截面個數;否則增加截面個數再返回到步驟2,循環迭代直到符合判斷條件。
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