[發明專利]數據校驗方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110707659.0
• 申請日: 2021-06-24
• 公開（公告）號: CN113435170A
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發明（設計）人: 陸海鵬
• 申請（專利權）人: 平安國際智慧城市科技股份有限公司
• 主分類號: G06F40/177
• 分類號: G06F40/177;G06F40/194;G06F16/25
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

1.一種數據校驗方法，其特征在于，所述方法包括：

當檢測到表格校驗指令時，根據所述表格校驗指令獲取待校驗表格，并獲取針對所述待校驗表格所配置的指令集；所述指令集包括所述待校驗表格的待校驗列序號以及所述待校驗列序號對應的校驗項列表，所述校驗項列表包括至少一個校驗項；

讀取所述待校驗表格的每一個行數據，并從所述每一個行數據中獲取所述待校驗列序號對應的列數據；

根據所述校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果；

根據所述校驗結果，將所述列數據所在的行數據添加至目標表格中，并通過用戶終端輸出所述目標表格。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果，包括：

利用權重參數列表對所述校驗項列表中各個校驗項進行排序，得到排序后的校驗項列表；所述權重參數列表包括多個校驗項中每個校驗項的權重參數；

按照所述排序后的校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述多個校驗項中每個校驗項的平均校驗時長；

根據所述每個校驗項的平均校驗時長確定所述每個校驗項的權重參數；

根據所述每個校驗項的權重參數生成所述權重參數列表。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述按照所述排序后的校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果，包括：

確定所述排序后的校驗項列表中各個校驗項對應的校驗函數；

按照所述排序后的校驗項列表所指示的校驗順序，依次調用所述各個校驗項對應的校驗函數對所述列數據進行校驗，得到校驗結果。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述從所述每一個行數據中獲取所述待校驗列序號對應的列數據，包括：

從所述指令集讀取所述待校驗列序號；

生成包括所述待校驗列序號的列序號表格；

遍歷所述列序號表格，以從所述每一個行數據中獲取所述待校驗列序號對應的列數據。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據校驗結果將所述列數據所在的行數據添加至目標表格中，包括：

當所述校驗結果為校驗失敗的結果時，將所述列數據所在的行數據添加至校驗失敗的表格；所述校驗失敗的表格為所述目標表格；

當所述校驗結果為校驗成功的結果時，將所述列數據所在的行數據添加至校驗成功的表格；所述校驗成功的表格為所述目標表格。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待校驗表格包括至少兩個待校驗子表格；所述方法還包括：

統計所述待校驗子表格的數量；

根據所述待校驗子表格的數量創建目標數量個線程，并為所述目標數量個線程中每個線程分配至少一個所述待校驗子表格；

所述根據所述校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果，包括：

調用所述每個線程，以根據各自分配的至少一個所述待校驗子表格中的待校驗列序號對應的校驗項列表，對所述待校驗列序號對應的列數據進行校驗，得到所述校驗結果。

8.一種數據校驗裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，用于當檢測到表格校驗指令時，根據所述表格校驗指令獲取待校驗表格，并獲取針對所述待校驗表格所配置的指令集；所述指令集包括所述待校驗表格的待校驗列序號以及所述待校驗列序號對應的校驗項列表，所述校驗項列表包括至少一個校驗項；

所述獲取模塊，還用于讀取所述待校驗表格的每一個行數據，并從所述每一個行數據中獲取所述待校驗列序號對應的列數據；

校驗模塊，用于根據所述校驗項列表對所述列數據進行校驗，得到校驗結果；

輸出模塊，用于根據所述校驗結果，將所述列數據所在的行數據添加至目標表格中，并通過用戶終端輸出所述目標表格。