[發(fā)明專利]一種大氣參數(shù)測(cè)量方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110707189.8
• 申請(qǐng)日: 2021-06-24
• 公開（公告）號(hào): CN113433569A
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊少辰;冼錦洪;徐文靜;孫東松;龍傳德;宋慶春
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳大舜激光技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01S17/95
• 分類號(hào): G01S17/95;G01N21/27;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市弘為力創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44751
• 代理人: 康曉春

1.一種大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

將高度方向上與激光雷達(dá)的垂直距離作為反射高度z_j；

在同一所述反射高度z_j的情況下，記錄所述激光雷達(dá)所接收的不同角度的反射光束的回波信號(hào)P_ij，所述反射光束與所述高度方向Z成角度α_ij；

對(duì)所述回波信號(hào)P_ij進(jìn)行處理，得到所述回波信號(hào)P_ij對(duì)應(yīng)的光功率信號(hào)RCS_ij；

在同一所述反射高度z_j情況下，計(jì)算所述光功率信號(hào)RCS_ij和所述角度α_ij的關(guān)系式的斜率τ_0j；

計(jì)算每個(gè)所述反射高度z_j所對(duì)應(yīng)的斜率τ_0j；

建立斜率函數(shù)τ(z)，對(duì)所述斜率函數(shù)τ(z)求導(dǎo)得到大氣消光系數(shù)R(z)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述在同一所述反射高度z_j情況下，計(jì)算所述光功率信號(hào)RCS_ij和所述角度α_ij的關(guān)系式的斜率τ_0j，包括：

將同一所述反射高度z_j情況下的各個(gè)所述角度α_ij和對(duì)應(yīng)的所述光功率信號(hào)RCS_ij代入下式，計(jì)算得到所述斜率τ_0j：

In(RCS_i(z))＝In(C·β_i(z))-2τ_0j·x_ij

其中，x_ij＝1/cosα_ij，大氣的后向散射體積系數(shù)β_i(z)在高度方向Z上為常數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

將所述斜率函數(shù)τ(z)代入下式，得到大氣的后向散射體積系數(shù)β(z)：

In(RCS(z))＝In(C·β(z))-2τ(z)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

通過(guò)下式計(jì)算所述激光雷達(dá)的激光雷達(dá)比LR(z)：

LR(z)＝R(z)/β(z)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

通過(guò)下式計(jì)算大氣的光學(xué)厚度AOD(z)：

其中z_m為所述反射高度z_j的最大值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

通過(guò)下式計(jì)算大氣的透過(guò)率T_i(z)：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

通過(guò)下式計(jì)算大氣的能見(jiàn)度V(z)：

8.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的大氣參數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，

所述方法還包括：

通過(guò)顯示器顯示所測(cè)量的大氣參數(shù)中的一個(gè)或多個(gè)；所述大氣參數(shù)包括大氣消光系數(shù)R(z)、后向散射體積系數(shù)β(z)、光學(xué)厚度AOD(z)、透過(guò)率T_i(z)和能見(jiàn)度V(z)。