[發(fā)明專(zhuān)利]處理由輻射熱計(jì)檢測(cè)器和相關(guān)設(shè)備收集的原始圖像的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110690212.7
• 申請(qǐng)日: 2021-06-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113837954A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-12-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: L.基耶西
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 施耐德電器工業(yè)公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06T5/00
• 分類(lèi)號(hào): G06T5/00;G01J5/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 薛韻然

一種用于處理原始圖像的方法，其特征在于由檢測(cè)器的輻射熱計(jì)組Bol(i,j)中的第一輻射熱計(jì)Bol₁(i,j)和第二輻射熱計(jì)Bol₂(i,j)收集的第一原始測(cè)量值Pix₁(i,j)和第二原始測(cè)量值Pix₂(i,j)，第一輻射熱計(jì)Bol₁(i,j)關(guān)閉，由計(jì)算機(jī)基于參考測(cè)量值Pix_REF(i,j)來(lái)執(zhí)行該方法，該參考測(cè)量值Pix_REF(i,j)包括分別與第一輻射熱計(jì)Bol₁(i,j)和第二輻射熱計(jì)Bol₂(i,j)相關(guān)聯(lián)的第一參考測(cè)量值Pix_1REF(i,j)和第二參考測(cè)量值Pix_2REF(i,j)，該方法包括：a)相關(guān)步驟，將第一原始測(cè)量值Pix₁(i,j)和第一參考測(cè)量值Pix_1REF(i,j)關(guān)聯(lián)；b)校正原始圖像的步驟，其包括基于參考測(cè)量值Pix_REF(i,j)和步驟(a)的結(jié)果，計(jì)算每個(gè)輻射熱計(jì)Bol(i,j)的校正圖像的校正測(cè)量值Pix_Cor(i,j)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于處理由設(shè)置有輻射熱計(jì)矩陣陣列的檢測(cè)器收集的原始圖像的方法。根據(jù)本發(fā)明的處理方法尤其旨在校正由檢測(cè)器的輻射熱計(jì)的特征中的離散引起的不均勻性。

本發(fā)明還涉及能夠?qū)崿F(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的方法的所有步驟的計(jì)算機(jī)程序。

本發(fā)明最后涉及一種包括輻射熱計(jì)的檢測(cè)器以及一種實(shí)施該計(jì)算機(jī)程序的計(jì)算機(jī)。

背景技術(shù)

從現(xiàn)有技術(shù)已知的紅外檢測(cè)器(或成像器)通常包括以n行和m列的矩陣陣列的形式組織的輻射熱計(jì)。

當(dāng)它們暴露在場(chǎng)景中以獲取圖像時(shí)，這些對(duì)場(chǎng)景溫度敏感的輻射熱計(jì)會(huì)經(jīng)歷電阻的變化。換句話(huà)說(shuō)，在每個(gè)輻射熱計(jì)中流動(dòng)的電流取決于場(chǎng)景的溫度，但也取決于環(huán)境溫度。

特別是，輻射熱計(jì)矩陣陣列的輻射熱計(jì)Bol(i，j)的測(cè)量值Sp(i，j)根據(jù)以下規(guī)律發(fā)展：

其中：

-T_amb是環(huán)境溫度，也與成像器的溫度有關(guān)；

-T_scene是輻射熱計(jì)i，j所見(jiàn)場(chǎng)景的溫度；

-R_esp是輻射熱計(jì)的響應(yīng)能力；

-S_0，Tamb是輻射熱計(jì)在場(chǎng)景溫度等于成像器溫度時(shí)的輸出值。

項(xiàng)R_esp反映了輻射熱計(jì)將輸入信號(hào)(特別是輻射)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，尤其是電流的能力。項(xiàng)R_esp取決于用于設(shè)計(jì)輻射熱計(jì)的材料及其架構(gòu)，與其電阻率密切相關(guān)。后者作為環(huán)境溫度的函數(shù)以及該環(huán)境溫度與場(chǎng)景溫度之間的差異的函數(shù)而變化。推算場(chǎng)景溫度需要知道成像器T_amb的溫度，因此檢測(cè)器一般還設(shè)置有溫度傳感器。

在實(shí)踐中，這種檢測(cè)器還設(shè)置有另外的輻射熱計(jì)，稱(chēng)為盲測(cè)輻射熱計(jì)，它們不暴露在場(chǎng)景中。它們的電阻率以及因此流過(guò)它們的電流僅取決于環(huán)境溫度T_amb。

因此，流過(guò)盲測(cè)輻射熱計(jì)和輻射熱計(jì)矩陣陣列的輻射熱計(jì)的電流的差分測(cè)量可以推斷其電阻率的變化。

通常，輻射熱計(jì)矩陣陣列的每一列與在差分測(cè)量期間為所述列的輻射熱計(jì)中的每一個(gè)實(shí)施的盲測(cè)輻射熱計(jì)相關(guān)聯(lián)。然而，可以設(shè)想其他配置，特別是為多列輻射熱計(jì)合并單個(gè)盲測(cè)輻射熱計(jì)。

能夠使用這種設(shè)備獲得的場(chǎng)景的原始圖像(圖1)通常無(wú)法使用，并且需要額外的處理。