[發明專利]一種大型回轉體內孔測量系統和測量方法有效
| 申請號: | 202110677622.8 | 申請日: | 2021-06-18 |
| 公開(公告)號: | CN113375577B | 公開(公告)日: | 2023-03-24 |
| 發明(設計)人: | 馬興江;王強;王漢煬 | 申請(專利權)人: | 明峰醫療系統股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/08 | 分類號: | G01B11/08;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海雍灝知識產權代理事務所(普通合伙) 31368 | 代理人: | 沈汶波 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 大型 回轉 體內 測量 系統 測量方法 | ||
本發明提供了一種大型回轉體內孔測量系統和測量方法,涉及醫學設備測量技術領域,包括:基準平臺、測量裝置,包括依次設置的固定底座、升降機構和旋轉盤;兩個激光測距傳感器,同軸安裝在旋轉盤上且測距激光在同一直線上方向相反;激光測距傳感器可繞與旋轉盤連接處轉動,且兩個激光測距傳感器上采集點之間距離為定值,記為輔助距離;測量過程中,采集激光測距傳感器位于同一位置下各個角度的距離數據、位于不同位置下各個角度的距離數據、位于不同高度下且不同位置下各個角度的距離數據,根據輔助距離基于預設規則計算獲得內孔直徑、圓度和圓柱度,用于解決現有技術中對大型回轉體的測量方式較繁瑣,成本高,而人工測量結果準確度較低的問題。
技術領域
本發明涉及醫學設備測量技術領域,尤其涉及一種大型回轉體內孔測量系統和測量方法。
背景技術
大型回轉體包括各種直徑大小不一的內孔,對于不同的大型回轉體產品和應用,有不同的指標參數要求,其中,大型回轉體產品的加工參數與設計指標的符合程度則是其質量優劣的直接體現。因此,大型回轉體的參數的測量就顯得至關重要。
對于CT系統的大型回轉體,一般為大直徑孔工件,其內孔直徑、圓度及圓柱度等參數的測量,通常依靠三坐標檢測或其延伸方法,但是三坐標設備價格昂貴,并且有最大測量尺寸限制,或者可以運送至第三方機構檢測,則需要轉運以及在轉運過程中可能會造成工件損壞的情況。
實際工作中還可手動利用大直徑內徑千分尺進行直徑測量,但是精度較差,且只能獲取有限數量的直徑數據,無法得到可靠的圓度以及圓柱度數據,對于高精度精密機械部件,測量精度及其置信度都較低。
發明內容
為了克服上述技術缺陷,本發明的目的在于提供一種大型回轉體內孔測量系統和測量方法,用于解決現有技術中對大型回轉體的測量方式較繁瑣,成本高,而人工測量結果準確度較低的問題。
本發明公開了一種大型回轉體內孔測量系統,用于測量待測件的內孔直徑、圓度和圓柱度,包括:
基準平臺,設置有用于放置所述待測件的承載部;
測量裝置,包括依次設置的固定底座、升降機構和旋轉盤,放置在所述基準平臺上;
兩個激光測距傳感器,同軸安裝在所述旋轉盤上且測距激光在同一直線上方向相反;
所述旋轉盤和所述激光測距傳感器延伸至所述待測件的內孔中;
所述激光測距傳感器可繞與所述旋轉盤連接處轉動,且兩個激光測距傳感器上采集點之間距離為定值,記為輔助距離;
測量過程中,兩個激光測距傳感器同步繞與所述旋轉盤連接處轉動,采集激光測距傳感器位于同一位置下各個角度的距離數據,旋轉盤轉動,采集激光測距傳感器位于不同位置下各個角度的距離數據,升降機構控制升降,獲得激光測距傳感器位于不同高度下且不同位置下各個角度的距離數據,根據所述同一位置下各個角度的距離數據、所述不同位置下各個角度的距離數據、所述不同高度下且不同位置下各個角度的距離數據以及所述輔助距離基于預設規則計算獲得內孔直徑、圓度和圓柱度。
優選地,所述升降機構一端與所述固定底座固定連接,另一端與所述旋轉盤轉動連接。
本發明還公開了一種大型回轉體內孔測量方法,應用上述測量系統,包括以下步驟:
將待測件和測量裝置放置在基準平臺,使得測量裝置上的旋轉盤以及兩個同軸安裝的激光測距傳感器位于所述待測件的內孔中;
所述激光測距傳感器在旋轉盤上轉動,和/或轉動盤帶動激光測距傳感器轉動,和/或升降機構升降帶動轉動盤和激光測距傳感器上下移動;
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