[發明專利]用于檢測量子通信系統的方法和裝置

有效

• 申請號: 202110657972.8
• 申請日: 2021-06-15
• 公開（公告）號: CN113114355B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 陳柳平;王其兵;萬相奎;王林松;范永勝
• 申請（專利權）人: 國開啟科量子技術（北京）有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04B10/70;H04L9/08;G01J9/02;G01J1/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于檢測量子通信系統的方法，其特征在于，所述方法包括：

在未向不等臂干涉儀輸入光脈沖的情況下，獲取在不等臂干涉儀的輸出端所連接的第一單光子探測器中探測到的第一本底計數以及在不等臂干涉儀的輸出端所連接的第二單光子探測器中探測到的第二本底計數；

在向不等臂干涉儀輸入光脈沖的情況下，獲取從所述第一單光子探測器中探測到的在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數以及從所述第二單光子探測器中探測到的在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數；

分別從所述第一本底計數和所述在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數以及所述第二本底計數和所述在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數中導出不等臂干涉儀的兩臂插損值之間的第一差值和第二差值；

響應于不等臂干涉儀的兩臂插損值之間的第一差值與第二差值之間的差值達到系統設計閾值而使用不等臂干涉儀進行編碼和/或解碼。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一本底計數由光源的本地噪聲和/或所述第一單光子探測器的暗計數產生。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述兩臂插損值之間的第一差值基于所述在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數與所述第一本底計數之差的比值而被導出。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二本底計數由光源的本地噪聲和/或所述第二單光子探測器的暗計數產生。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述兩臂插損值之間的第二差值基于所述在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數與所述第二本底計數之差的比值而被導出。

6.一種用于檢測量子通信系統的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

本底計數獲取單元，被配置為在未向不等臂干涉儀輸入光脈沖的情況下，獲取在不等臂干涉儀的輸出端所連接的第一單光子探測器中探測到的第一本底計數以及在不等臂干涉儀的輸出端所連接的第二單光子探測器中探測到的第二本底計數；

峰值計數獲取單元，被配置為在向不等臂干涉儀輸入光脈沖的情況下，獲取從所述第一單光子探測器中探測到的在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數以及從所述第二單光子探測器中探測到的在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數；

插損值導出單元，被配置為分別從所述第一本底計數和所述在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數以及所述第二本底計數和所述在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數中導出不等臂干涉儀的兩臂插損值之間的第一差值和第二差值；

插損值分析單元，被配置為響應于不等臂干涉儀的兩臂插損值之間的第一差值與第二差值之間的差值達到系統設計閾值而使用不等臂干涉儀進行編碼和/或解碼。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一本底計數由光源的本地噪聲和/或所述第一單光子探測器的暗計數產生。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述兩臂插損值之間的第一差值基于所述在延時位置上相鄰的兩個第一峰值計數與所述第一本底計數之差的比值而被導出。

9.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第二本底計數由光源的本地噪聲和/或所述第二單光子探測器的暗計數產生。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述兩臂插損值之間的第二差值基于所述在延時位置上相鄰的兩個第二峰值計數與所述第二本底計數之差的比值而被導出。

11.一種存儲有計算機程序的計算機可讀存儲介質，其特征在于，當所述計算機程序被處理器執行時，實現權利要求1至5中任意一項所述的用于檢測量子通信系統的方法。

12.一種計算裝置，其特征在于，包括：

處理器；

存儲器，存儲有計算機程序，當所述計算機程序被處理器執行時，實現權利要求1至5中任意一項所述的用于檢測量子通信系統的方法。