[發(fā)明專利]非接觸電壓測量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110657186.8 | 申請日: | 2021-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN113238093B | 公開(公告)日: | 2022-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李鵬;周柯;田兵;駱柏鋒;張佳明;尹旭;劉仲;王志明;孫宏棣;呂前程;陳仁澤;李立浧;王曉明;金慶忍 | 申請(專利權(quán))人: | 廣西電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院;南方電網(wǎng)數(shù)字電網(wǎng)研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 別亞琴 |
| 地址: | 530023 廣西壯*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 接觸 電壓 測量方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種非接觸電壓測量方法,其特征在于,應(yīng)用于預(yù)先設(shè)定的電氣回路的非接觸電壓測量裝置中,所述非接觸電壓測量裝置包括探頭和電壓傳感組件,所述探頭包括第一探頭和第二探頭,所述電壓傳感組件包括分壓單元和檢測單元,所述第一探頭與待測電路耦合形成第一耦合電容,所述第二探頭與零線電路耦合形成第二耦合電容,所述分壓單元分別與所述第一耦合電容和所述第二耦合電容連接形成所述電氣回路,所述檢測單元和所述分壓單元并聯(lián)連接,所述檢測單元用于檢測所述分壓單元的電壓,所述方法包括:
根據(jù)所述檢測單元的檢測結(jié)果獲取所述分壓單元上的電壓的波形信息;
根據(jù)所述波形信息向所述電氣回路輸入與所述分壓單元上的電壓同頻同相的第一參考電壓信號,并檢測所述分壓單元上的電壓,得到第一電壓信號;
在所述第一參考電壓信號輸入完成之后,根據(jù)所述波形信息向所述電氣回路輸入與所述分壓單元上的電壓同頻反相的第二參考電壓信號,并檢測所述分壓單元上的電壓,得到第二電壓信號;其中,所述第一參考電壓信號與所述第二參考電壓信號的幅度相等;
根據(jù)所述第一電壓信號和所述第二電壓信號計(jì)算所述待測電路的電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述分壓單元上的電壓的波形信息,包括:
在所述電氣回路中未有外部輸入信號的情況下,檢測所述分壓單元上的電壓,得到第三電壓信號;
對所述第三電壓信號進(jìn)行信號分析得到所述分壓單元上的電壓的波形信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第三電壓信號進(jìn)行信號分析得到所述分壓單元上的電壓的波形信息,包括:
利用鎖相電路對所述第三電壓信號進(jìn)行信號分析得到所述分壓單元上的電壓的波形信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第三電壓信號進(jìn)行信號分析得到所述分壓單元上的電壓的波形信息,包括:
對所述第三電壓信號進(jìn)行放大處理和模數(shù)轉(zhuǎn)換處理,得到轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號;
對所述轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號進(jìn)行傅里葉變換處理得到所述轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號的頻率和相位信息,根據(jù)所述轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號的頻率和相位信息確定所述分壓單元上的電壓的波形信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一電壓信號和所述第二電壓信號計(jì)算所述待測電路的電壓,包括:
根據(jù)所述第一電壓信號和所述第二電壓信號確定電壓系數(shù);
根據(jù)所述電壓系數(shù)與所述第一參考電壓信號的幅值計(jì)算所述待測電路的電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一電壓信號和所述第二電壓信號計(jì)算所述待測電路的電壓,包括:
將所述第一電壓信號、所述第二電壓信號和所述第三電壓信號輸入至預(yù)先設(shè)定的電壓計(jì)算模型中,其中,所述電壓計(jì)算模型為的關(guān)系式,其中,V1為所述第一電壓信號的幅值,V2為所述第二電壓信號的幅值,Ur為所述第一參考電壓信號的幅值或者所述第二參考電壓信號的幅值;Us為所述待測電路的電壓。
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