[發(fā)明專利]基于電力設(shè)備的圖像融合顯示方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110656041.6
• 申請(qǐng)日: 2021-06-11
• 公開（公告）號(hào): CN113284128B
• 公開（公告）日: 2023-05-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姚傳濤;鄭豐;李標(biāo)俊;戴甲水;葛菁;王健;關(guān)宇洋;祝海峰;孫浩;包也
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司天生橋局
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T5/50
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 馮右明

1.一種基于電力設(shè)備的圖像融合顯示方法，其特征在于，應(yīng)用于巡檢機(jī)器人，所述巡檢機(jī)器人設(shè)置于電力區(qū)域中，所述方法包括：

獲取待處理的紅外圖像；所述紅外圖像中包括電力設(shè)備的圖像；所述電力設(shè)備包括電力設(shè)備部件；

獲取電力設(shè)備模板圖像中與所述電力設(shè)備部件對(duì)應(yīng)的模板圖像，并獲取所述模板圖像中預(yù)設(shè)數(shù)量的表征所述電力設(shè)備部件的特征的數(shù)據(jù)塊；

獲取所述待處理的紅外圖像中與每個(gè)所述數(shù)據(jù)塊相似度最高的目標(biāo)數(shù)據(jù)塊，根據(jù)預(yù)設(shè)數(shù)量的目標(biāo)數(shù)據(jù)塊確定所述電力設(shè)備部件在所述待處理的紅外圖像中的目標(biāo)位置信息，包括：針對(duì)每個(gè)目標(biāo)數(shù)據(jù)塊，獲取該目標(biāo)數(shù)據(jù)塊在所述紅外圖像中對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)；獲取所述電力設(shè)備部件對(duì)應(yīng)的模板圖像中所述電力設(shè)備部件對(duì)應(yīng)的輪廓信息；獲取所述輪廓信息中預(yù)設(shè)數(shù)量的節(jié)點(diǎn)，作為預(yù)設(shè)數(shù)量的所述電力設(shè)備部件的特征點(diǎn)；針對(duì)每個(gè)所述特征點(diǎn)，獲取該特征點(diǎn)與其他特征點(diǎn)的第一距離；針對(duì)每個(gè)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)塊，獲取該目標(biāo)數(shù)據(jù)塊的坐標(biāo)與其他目標(biāo)數(shù)據(jù)塊的坐標(biāo)的第二距離；若每個(gè)所述第二距離均與該目標(biāo)數(shù)據(jù)塊對(duì)應(yīng)的特征點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的其他特征點(diǎn)的第一距離的差值小于預(yù)設(shè)閾值，確定該目標(biāo)數(shù)據(jù)塊對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)為目標(biāo)坐標(biāo)；根據(jù)多個(gè)所述目標(biāo)坐標(biāo)，得到所述待處理的電力設(shè)備部件在所述紅外圖像中的目標(biāo)位置信息；

根據(jù)所述目標(biāo)位置信息、所述紅外圖像對(duì)應(yīng)的紅外校正坐標(biāo)以及所述電力設(shè)備對(duì)應(yīng)的可見光圖像對(duì)應(yīng)的可見光校正坐標(biāo)，將所述待處理的紅外圖像中電力設(shè)備部件的圖像與所述待處理的可見光圖像進(jìn)行融合顯示；所述紅外校正坐標(biāo)表征所述紅外圖像中的所述電力設(shè)備的邊緣位置的坐標(biāo)；所述可見光圖像表征基于人眼可感知的電磁波形成的高分辨率圖像；所述可見光校正坐標(biāo)表征所述可見光圖像中所述電力設(shè)備的邊緣位置的坐標(biāo)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取紅外基準(zhǔn)圖像以及可見光基準(zhǔn)圖像；所述紅外基準(zhǔn)圖像包括所述電力設(shè)備所在的電力區(qū)域的多個(gè)樣本紅外圖像；所述可見光基準(zhǔn)圖像中包括所述電力區(qū)域的多個(gè)樣本可見光圖像；

針對(duì)每個(gè)樣本紅外圖像，獲取該樣本紅外圖像中電力設(shè)備的設(shè)備對(duì)角坐標(biāo)，作為該樣本紅外圖像對(duì)應(yīng)的第一紅外校正坐標(biāo)和第二紅外校正坐標(biāo)；

針對(duì)每個(gè)樣本可見光圖像，獲取該樣本可見光圖像中電力設(shè)備的設(shè)備對(duì)角坐標(biāo)，作為該樣本可見光圖像對(duì)應(yīng)的第一可見光校正坐標(biāo)和第二可見光校正坐標(biāo)；

根據(jù)多個(gè)所述第一紅外校正坐標(biāo)和多個(gè)所述第二紅外校正坐標(biāo)，得到所述紅外校正坐標(biāo)，以及，根據(jù)多個(gè)所述第一可見光校正坐標(biāo)和多個(gè)所述第二可見光校正坐標(biāo)，得到所述可見光校正坐標(biāo)；

獲取多個(gè)所述樣本紅外圖像中的電力設(shè)備部件的輪廓信息，作為所述電力設(shè)備模板圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述模板圖像中預(yù)設(shè)數(shù)量的表征所述電力設(shè)備部件的特征的數(shù)據(jù)塊，包括：

獲取所述電力設(shè)備部件對(duì)應(yīng)的模板圖像中所述電力設(shè)備部件對(duì)應(yīng)的輪廓信息；

獲取所述輪廓信息中預(yù)設(shè)數(shù)量的節(jié)點(diǎn)，作為預(yù)設(shè)數(shù)量的所述電力設(shè)備部件的特征點(diǎn)；

針對(duì)每個(gè)所述特征點(diǎn)，以該特征點(diǎn)為中心，生成預(yù)設(shè)大小的數(shù)據(jù)塊，作為該特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的表征所述電力設(shè)備部件的特征的數(shù)據(jù)塊；

根據(jù)多個(gè)所述數(shù)據(jù)塊，得到所述預(yù)設(shè)數(shù)量的表征所述電力設(shè)備部件的特征的數(shù)據(jù)塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取所述待處理的紅外圖像中與每個(gè)所述數(shù)據(jù)塊相似度最高的目標(biāo)數(shù)據(jù)塊，包括：

針對(duì)所述紅外圖像中的每個(gè)坐標(biāo)，以該坐標(biāo)為中心生成所述預(yù)設(shè)大小的第一數(shù)據(jù)塊；

針對(duì)每個(gè)所述數(shù)據(jù)塊，根據(jù)多個(gè)所述第一數(shù)據(jù)塊與該數(shù)據(jù)塊的比值，得到該數(shù)據(jù)塊與多個(gè)所述第一數(shù)據(jù)塊對(duì)應(yīng)的多個(gè)數(shù)據(jù)塊相似度；

獲取所述多個(gè)數(shù)據(jù)塊相似度中的最大值，將所述最大值對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)塊作為所述該數(shù)據(jù)塊在所述紅外圖像中對(duì)應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)塊。