[發明專利]一種紫外LED封裝膠質量的評估方法

在審

• 申請號: 202110649593.4
• 申請日: 2021-06-10
• 公開（公告）號: CN113418837A
• 公開（公告）日: 2021-09-21
• 發明（設計）人: 高春瑞;鄭劍飛;涂舒;蘇水源
• 申請（專利權）人: 廈門多彩光電子科技有限公司
• 主分類號: G01N15/04
• 分類號: G01N15/04;H01L33/56
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司 35218
• 代理人: 劉建科

1.一種紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于，包括如下步驟：

A1，提供多組實驗組，每組實驗組均設置標有刻度尺的透明容器，在每組實驗組的透明容器內倒入相同高度的透明膠，且多組實驗組的透明容器內的透明膠均不相同；

A2，待透明膠平穩后，往每組實驗組的透明容器的透明膠表面放置相同的熒光粉顆粒；

A3，同時加熱多組實驗組的透明膠；

A4，記錄同一實驗組的熒光粉顆粒在相同溫度下不同時間段的沉降位置，得到同一組實驗組中的熒光粉顆粒的沉降速率；

A5，對比不同實驗組之間熒光粉顆粒的沉降速率，沉降速率越低代表采用這組實驗組的透明膠進行制備的封裝膠質量越好。

2.根據權利要求1所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：步驟A3和步驟A4是一個重復循環的步驟，用于檢測不同加熱溫度下熒光粉顆粒的沉降速率，當完成所有溫度下的測試后再進入步驟A5。

3.根據權利要求2所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：步驟A3中，先將透明膠加熱至紫外LED封裝時點膠環境溫度，進入步驟A4，記錄同一實驗組的熒光粉顆粒在點膠環境溫度下不同時間段的沉降位置，得到沉降速率；完成后再返回步驟A3，再將透明膠加熱至LED封裝時烘烤環境溫度，進入步驟A4，記錄同一實驗組的熒光粉顆粒在烘烤環境溫度下不同時間段的沉降位置，得到沉降速率；最后再進入步驟A5，對比不同實驗組之間熒光粉顆粒的沉降速率，只有在兩個溫度下沉降速率均低的，才代表采用這組實驗組的透明膠進行制備的封裝膠質量越好。

4.根據權利要求3所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：紫外LED封裝時點膠環境溫度為25℃；LED封裝時烘烤環境溫度為100℃。

5.根據權利要求1所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：步驟A3和A4之間還包括步驟A3-4，提供激發光源，通過激發光源照射熒光粉顆粒，以激發熒光粉顆粒發光。

6.根據權利要求5所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：所述激發光源為藍光光源，所述激發光源發出藍光以激發熒光粉顆粒發出白光。

7.根據權利要求6所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：所述激發光源為藍光LED光源。

8.根據權利要求1所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：步驟A3中，提供一個帶有溫控的恒溫加熱裝置，通過所述恒溫加熱裝置同時加熱多組實驗組的透明膠。

9.根據權利要求1所述的紫外LED封裝膠質量的評估方法，其特征在于：所述透明容器為玻璃燒杯。