[發明專利]一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法

在審

• 申請號: 202110622493.2
• 申請日: 2021-06-04
• 公開（公告）號: CN113324739A
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 魏偉;黃飛
• 申請（專利權）人: 鹽城東紫光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26
• 代理公司: 南京眾聯專利代理有限公司 32206
• 代理人: 郭微

本發明公開了一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法，包括步驟一：將帶有LED陣列的藍膜平鋪到平臺部件之上；步驟二：調整LED陣列與探針陣列相適應；步驟三：將陣列探針扎到陣列LED的對應電極上；步驟四：通過計算機程序控制電源通電同時測量陣列LED的光電參數并通過定位測量的LED的位置；步驟五：通過計算機程序控制移動馬達將探針扎到下一批LED的電極上并進行測量；步驟六：重復四五步驟四和步驟五將所有陣列的LED光電參數測量一遍并結合定位數據保存。本方案介紹了帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法,通過本使用方法，可以快速實現陣列LED的探測，提高了工作效率，降低了測量時間，降低了成本，增加了利潤。

技術領域

本發明涉及光電技術領域，具體為一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法。

背景技術

傳統的LED的測試設備，采用多陣列測試方式，通過逐一加上脈沖電流逐個測量一批LED的光電參數，由于需要逐一通電，所以消耗的時間較長，成本較高，缺乏一種低成本檢測的方法。帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備通過點對點多光通路光學部件可以實現同時測量一批LED的光電參數，而不必逐一測量每個LED的光電參數，此種方法提高了效率，降低了成本，增加了利潤，但是，現在缺乏一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法。

為了解決以上的技術難題，本發明提出了一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法，以解決上述背景技術提出的現有的光學檢測效率低下，不能同時拾取有損傷的LED。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法，包括步驟一：將帶有LED陣列的藍膜平鋪到平臺部件之上；步驟二：調整LED陣列與探針陣列相適應；步驟三：將陣列探針扎到陣列LED的對應電極上；步驟四：通過計算機程序控制電源通電同時測量陣列LED的光電參數并通過定位測量的LED的位置；步驟五：通過計算機程序控制移動馬達將探針扎到下一批LED的電極上并進行測量；步驟六：重復步驟四和步驟五將所有陣列的LED光電參數測量一遍并結合定位數據保存。

進一步的，步驟一：將帶有LED陣列的藍膜平鋪到平臺部件之上，平臺部件上的定位部件之間的距離至少一組大于LED陣列的直徑。

更進一步的，步驟二：調整LED陣列與探針陣列相適應，包括調整LED陣列方向與探針陣列方向相平行，調整LED陣列間距與探針陣列間距要等距。

更進一步的，步驟三：將陣列探針扎到陣列LED的對應電極上,此步驟要求探針不要穿透電極。

更進一步的，步驟四：通過計算機程序控制電源通電同時測量陣列LED的光電參數并通過定位測量的LED的位置，陣列LED通電后發出的光線經過點對點多光通路光學部件進入陣列探測器進行探測，由于多光通路相互間互不影響，將使得陣列LED的光電參數同時被不同的探測器探測，同時通過定位部件和定位系統測量此一批LED的位置。

更進一步的，步驟五：通過計算機程序控制移動馬達將探針扎到下一批LED的電極上并進行測量，移動馬達首先下移，讓電極脫離電極，然后平移，讓探針對起下一批LED，然后上移，讓探針扎到下一批LED的電極上，然后進行測量。

更進一步的，步驟六：重復步驟四和步驟五將所有陣列的LED光電參數測量一遍并結合定位數據保存，每測量一批陣列LED的時候，測得的光電參數都會跟相應的定位數據進行結合保存。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：可以快速實現陣列LED的探測，提高了工作效率，降低了測量時間，降低了成本，增加了利潤。

附圖說明