[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110602287.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-05-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113327865A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚丹祥 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廣州貝萊光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/66 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/66;H01L29/861 |
| 代理公司: | 北京高航知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11530 | 代理人: | 王卓 |
| 地址: | 510665 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 半導(dǎo)體 二極管 制造 過(guò)程 擊穿 電壓 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,包括轉(zhuǎn)動(dòng)裝置(1),其特征在于:所述轉(zhuǎn)動(dòng)裝置(1)的右側(cè)設(shè)置有測(cè)試裝置(2),所述測(cè)試裝置(2)的右側(cè)設(shè)置有推出裝置(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述轉(zhuǎn)動(dòng)裝置(1)包括動(dòng)力輪(11),所述動(dòng)力輪(11)的表面轉(zhuǎn)動(dòng)連接有固定齒輪(12),所述動(dòng)力輪(11)的表面固定連接有轉(zhuǎn)動(dòng)架(13),所述轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)的后側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有傳動(dòng)軸(14),所述傳動(dòng)軸(14)的兩端固定連接有傳動(dòng)齒輪(15),所述轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)的右端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有配合齒輪(16),所述配合齒輪(16)的表面固定連接有托盤(pán)(17),所述托盤(pán)(17)的表面設(shè)置有夾持架(18)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述動(dòng)力輪(11)與外部電機(jī)連接,固定齒輪(12)固定并與動(dòng)力輪(11)轉(zhuǎn)動(dòng)連接且共圓心;所述轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)有三個(gè),轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)的一端與動(dòng)力輪(11)固定連接,且在動(dòng)力輪(11)的徑向上,且三個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)之間的角度相等。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述傳動(dòng)軸(14)有三個(gè),分別設(shè)置在三個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)上,并分別與它們平行且轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述傳動(dòng)齒輪(15)有六個(gè),每個(gè)傳動(dòng)軸(14)的兩端分別固定連接有兩個(gè)傳動(dòng)齒輪(15),其中靠近固定齒輪(12)的一端的傳動(dòng)齒輪(15)與之嚙合。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述配合齒輪(16)有三個(gè),分別轉(zhuǎn)動(dòng)連接在三個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)架(13)的遠(yuǎn)離動(dòng)力輪(11)的一端,并與這一端的傳動(dòng)齒輪(15)嚙合;所述托盤(pán)(17)和夾持架(18)分別有三個(gè),三個(gè)托盤(pán)(17)分別與三個(gè)配合齒輪(16)固定連接且共圓心,三個(gè)夾持架(18)分別設(shè)置在三個(gè)托盤(pán)(17)上,且方向與水平線垂直。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述測(cè)試裝置(2)包括右測(cè)試塊(21),所述右測(cè)試塊(21)的左側(cè)表面設(shè)置有正極觸點(diǎn)(22),所述右測(cè)試塊(21)的表面固定連接有連接桿(23),所述連接桿(23)的左端固定連接有左測(cè)試塊(24),所述左測(cè)試塊(24)的右側(cè)表面設(shè)置有負(fù)極觸點(diǎn)(25)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述右測(cè)試塊(21)固定并與水平線垂直,正極觸點(diǎn)(22)與外部電源的正極電連接,所述連接桿(23)與水平線平行,左測(cè)試塊(24)與右測(cè)試塊(21)正對(duì),負(fù)極觸點(diǎn)(25)與正極觸點(diǎn)(22)正對(duì)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述推出裝置(3)包括轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31),所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)的表面固定連接有限位扇形塊(32),所述限位扇形塊(32)的表面設(shè)置有觸動(dòng)按鈕(33),所述限位扇形塊(32)的右側(cè)設(shè)置有轉(zhuǎn)動(dòng)輪(34),所述轉(zhuǎn)動(dòng)輪(34)的表面固定連接有轉(zhuǎn)動(dòng)推桿(35),所述轉(zhuǎn)動(dòng)輪(34)的表面固定連接有間歇輪(36)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或8所述的一種用于半導(dǎo)體二極管制造過(guò)程中擊穿電壓檢測(cè)裝置,其特征在于:所述轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)有兩個(gè),兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)的一端固定連接,且連接位置與外部電機(jī)鉸接,該外部電機(jī)與負(fù)極觸點(diǎn)(25)電連接,轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中帶動(dòng)間歇輪(36)間歇轉(zhuǎn)動(dòng);所述限位扇形塊(32)與兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)固定連接的一端固定連接,限位扇形塊(32)的轉(zhuǎn)動(dòng)軌跡與間歇輪(36)接觸,接觸時(shí)限制間歇輪(36)轉(zhuǎn)動(dòng);所述轉(zhuǎn)動(dòng)推桿(35)有兩個(gè),兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)推桿(35)關(guān)于轉(zhuǎn)動(dòng)輪(34)中心對(duì)稱(chēng),轉(zhuǎn)動(dòng)推桿(35)的遠(yuǎn)離轉(zhuǎn)動(dòng)臂(31)的一端的轉(zhuǎn)動(dòng)軌跡經(jīng)過(guò)右測(cè)試塊(21)和左測(cè)試塊(24)之間。
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H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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