[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110588932.2
• 申請(qǐng)日: 2021-05-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113310992A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-08-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許方威
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中山市滿鑫科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京高航知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11530
• 代理人: 喬浩剛

1.一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括拍攝模塊、圖像識(shí)別模塊和結(jié)果顯示模塊；

所述拍攝模塊用于獲取壓鑄成品的圖像，并將所述圖像傳輸至所述圖像識(shí)別模塊；

所述圖像識(shí)別模塊用于對(duì)所述圖像進(jìn)行圖像識(shí)別處理，判斷所述圖像中是否包含有預(yù)設(shè)的類(lèi)型的缺陷，若是，則將所述缺陷的類(lèi)型和缺陷的位置發(fā)送至所述結(jié)果顯示模塊；

所述結(jié)果顯示模塊用于對(duì)所述缺陷的類(lèi)型和缺陷的位置進(jìn)行可視化展示。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述拍攝模塊包括攝像機(jī)、MCU和通信芯片；

MCU用于控制攝像機(jī)獲取壓鑄成品的預(yù)設(shè)角度的圖像；

MCU用于判斷所述圖像是否符合預(yù)設(shè)的質(zhì)量判斷條件，若是，則將所述圖像傳輸至所述通信芯片；若否，則MCU控制攝像機(jī)重新獲取壓鑄成品的預(yù)設(shè)角度的圖像；

通信芯片用于將MCU發(fā)送過(guò)來(lái)的圖像發(fā)送至所述圖像識(shí)別模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像識(shí)別模塊包括預(yù)處理單元、特征獲取單元和特征識(shí)別單元；

所述預(yù)處理單元用于對(duì)拍攝模塊發(fā)送過(guò)來(lái)的圖像進(jìn)行預(yù)處理，獲得預(yù)處理圖像；

所述特征獲取模塊用于獲取所述預(yù)處理圖像中包含的特征數(shù)據(jù)，并將所述特征數(shù)據(jù)傳輸至所述特征識(shí)別單元；

所述特征識(shí)別單元用于基于所述特征數(shù)據(jù)判斷所述圖像中是否包含有預(yù)設(shè)的類(lèi)型的缺陷，若是，則將所述缺陷的類(lèi)型和缺陷的位置發(fā)送至所述結(jié)果顯示模塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)拍攝模塊發(fā)送過(guò)來(lái)的圖像進(jìn)行預(yù)處理，包括：

將所述圖像轉(zhuǎn)換灰度圖像；

對(duì)所述灰度圖像進(jìn)行光照調(diào)節(jié)處理，獲得光照調(diào)節(jié)圖像

對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行降噪處理，獲得降噪圖像；

對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別處理，獲得邊緣像素點(diǎn)；

對(duì)所述降噪圖像進(jìn)行邊緣增強(qiáng)處理，獲得預(yù)處理圖像。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述獲取所述預(yù)處理圖像中包含的特征數(shù)據(jù)，包括：

使用Haar算法提取所述預(yù)處理圖像中包含的特征數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述基于所述特征數(shù)據(jù)判斷所述圖像中是否包含有預(yù)設(shè)的類(lèi)型的缺陷，包括：

將所述圖像的特征數(shù)據(jù)與各種缺陷類(lèi)型的標(biāo)準(zhǔn)特征數(shù)據(jù)分別進(jìn)行匹配，獲取所述特征數(shù)據(jù)和各種缺陷類(lèi)型的標(biāo)準(zhǔn)特征數(shù)據(jù)之間的相似度；

將大于預(yù)設(shè)的相似度閾值的相似度對(duì)應(yīng)的缺陷類(lèi)型作為所述圖像中包含的缺陷；

獲取所述缺陷在所述圖像中對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)的坐標(biāo)的集合。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)所述灰度圖像進(jìn)行光照調(diào)節(jié)處理，包括：

使用retinex算法對(duì)所述灰度圖像進(jìn)行光照調(diào)節(jié)處理。

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行降噪處理，包括：

使用非局部均值降噪算法對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行降噪處理。

9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于圖像識(shí)別技術(shù)的壓鑄成品檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別處理，獲得邊緣像素點(diǎn)，包括：

使用sobel算法對(duì)所述光照調(diào)節(jié)圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別處理，獲得邊緣像素點(diǎn)。