[發明專利]一種硅基顯示的來料電性檢測系統在審
| 申請號： | 202110566032.8 | 申請日： | 2021-05-24 |
| 公開（公告）號： | CN113109957A | 公開（公告）日： | 2021-07-13 |
| 發明（設計）人： | 朱平;劉勝芳;李雪原;劉曉佳;趙錚濤 | 申請（專利權）人： | 安徽熙泰智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 蕪湖安匯知識產權代理有限公司 34107 | 代理人： | 朱圣榮 |
| 地址： | 241000 安徽省蕪湖市蕪湖長江*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 顯示 來料 檢測 系統 | ||
1.一種硅基顯示的來料電性檢測系統，待檢測的基底層上存在像素電極，所述基底層的邊緣設有外圍電極，其特征在于：所述基底層具有像素電極的一面上方固定有AOI，所述AOI與基底層之間設有液晶模塊。
2.根據權利要求1所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述液晶模塊自基底層向AOI一側依次為導光板、偏光片、液晶層、偏光片、ITO薄膜。
3.根據權利要求2所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述外圍電機上固定有探針或探卡，所述探針或探卡通過導線連接電源。
4.根據權利要求1、2或3所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述AOI包括固定在液晶模塊上方的采集單元、連接采集單元的圖像處理單元，以及連接圖像處理單元的顯示單元。
5.根據權利要求4所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的偏光片包括上偏光片和下偏光片，所述上偏光片與下偏光片角度成90°。
6.根據權利要求5所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的AOI相機為面陣或TDI相機，檢出精度小于等于1um；
所述的AOI相機為面陣或TDI相機，其光學像元為≤7um，其下方物鏡倍率大于等于7倍。
7.根據權利要求1或6所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的液晶層厚度為1um至5um之間。
8.根據權利要求7所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的導光板為反射底片與光學亞克力板材制成。
9.根據權利要求8所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的導光板的光學亞克力板材材料為PMMA，折射率為1.5，厚度為100um-500um。
10.根據權利要求9所述的硅基顯示的來料電性檢測系統，其特征在于：所述的反射底片材料為Ag/Al/Au/Cu中的一種或者其合金，反射率大于等于85％。
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