[發明專利]一種柔性顯示屏的mura處理方法及裝置

在審

• 申請號: 202110556801.6
• 申請日: 2021-05-21
• 公開（公告）號: CN113160043A
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 楊杰;王佳祥;許志財;李時超;劉昌;劉少寧
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06T3/00
• 分類號: G06T3/00;G06T7/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;胡影

本發明提供一種柔性顯示屏的mura處理方法及裝置。所述柔性顯示屏的mura處理方法包括：獲取所述柔性顯示屏的mura檢測圖像；獲取所述柔性顯示屏顯示點陣圖片時的第一檢測圖像，其中，所述點陣圖片中包括若干陣列分布的點；利用所述第一檢測圖像中的點擬合得到第一曲面；根據所述第一檢測圖像中的點的坐標參數以及各點之間的距離參數，將所述第一曲面還原為第一平面，得到所述第一檢測圖像與所述第一平面的映射關系；根據所述映射關系，對所述柔性顯示屏的mura檢測圖像進行還原，得到所述柔性顯示屏的mura信息。根據本發明實施例的處理方法，可以最大程度上還原柔性顯示屏的mura信息，確保后續進行補償時的準確性，提高了柔性顯示屏的顯示質量。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種柔性顯示屏的mura處理方法及裝置。

背景技術

對于OLED(OrganicLight-Emitting Diode，有機發光半導體)產品來說，由于有機發光材料和制程等因素，OLED產品難免會出現各種各樣的mura，即亮度顯示不均勻，采用demura(光學補償)的方式，可以對mura進行補償。demura對畫質的提升效果非常明顯，但若處理不好則會造成負面效果，其中，mura信息提取的精度尤為重要。

在獲取mura信息時，常規的demura拍照時，通常只選擇顯示區的四個角生成對位信息，通過計算實際拍照得到的顯示信息與設定顯示區的顯示信息之間的差異來處理mura信息。但由于柔性顯示模組通常都比較薄，自身難以避免地會存在翹曲、變形等問題，并且demura拍照時柔性顯示屏放置在工位上也會不可避免地存在翹曲等形變，最終體現在顯示區邊緣的形變會非常大，導致demura算法無法處理，繼而影響拍照精度和mura信息的提取精度，最終導致亮度補償發生偏移。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種柔性顯示屏的mura處理方法及裝置，能夠解決現有技術中由于柔性顯示屏存在翹曲、變形等情況，使得提取到的mura信息精度下降，最終導致亮度補償發生偏移的問題。

為解決上述技術問題，本發明采用以下技術方案：

本發明第一方面實施例提供了一種柔性顯示屏的mura處理方法，該方法包括：

獲取所述柔性顯示屏的mura檢測圖像；

獲取所述柔性顯示屏顯示點陣圖片時的第一檢測圖像，其中，所述點陣圖片中包括若干陣列分布的點；

利用所述第一檢測圖像中的點擬合得到第一曲面；

根據所述第一檢測圖像中的點的坐標參數以及各點之間的距離參數，將所述第一曲面還原為第一平面，得到所述第一檢測圖像與所述第一平面的映射關系；

根據所述映射關系，對所述柔性顯示屏的mura檢測圖像進行還原，得到所述柔性顯示屏的mura信息。

可選的，所述利用所述第一檢測圖像中的點擬合得到第一曲面包括：

獲取所述點陣圖片以及所述第一檢測圖像中各點的坐標參數以及各點之間的距離參數，得到所述點陣圖片以及所述第一檢測圖像中各點的對應關系；

根據所述對應關系，對所述第一檢測圖像中的點進行擬合，得到第一曲面。

可選的，所述根據所述對應關系，對所述第一檢測圖像中的點進行擬合，得到第一曲面包括：

將所述第一檢測圖像中的點劃分為若干子點陣，每一所述子點陣包括第一數量的點；

利用每一所述子點陣中的點進行曲面擬合，得到若干第二曲面；

將若干所述第二曲面進行拼接，得到第一曲面。

可選的，所述根據所述第一檢測圖像中的點的坐標參數以及各點之間的距離參數，將所述第一曲面還原為第一平面之前，還包括：