[發(fā)明專利]一種量子比特控制脈沖的反饋優(yōu)化方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110533099.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-05-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113177641A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉幼航;李彥禎;劉強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東浪潮科學(xué)研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06N10/00 | 分類號(hào): | G06N10/00;H03D7/16 |
| 代理公司: | 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100 | 代理人: | 闞恭勇 |
| 地址: | 250100 山東省濟(jì)*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 量子 比特 控制 脈沖 反饋 優(yōu)化 方法 | ||
本發(fā)明提供一種量子比特控制脈沖的反饋優(yōu)化方法,屬于量子計(jì)算技術(shù)領(lǐng)域,本發(fā)明所提出的技術(shù)方案:針對(duì)AWG的波形輸出以一定間隔添加數(shù)據(jù)標(biāo)記點(diǎn)(Marker),通過(guò)調(diào)節(jié)各個(gè)Marker點(diǎn)處的振幅整形X門所對(duì)應(yīng)的微波脈沖,同時(shí)對(duì)微波控制后的量子態(tài)進(jìn)行重復(fù)讀取,優(yōu)化過(guò)程中的反饋信號(hào)為讀取到量子態(tài)被翻轉(zhuǎn)到|1態(tài)的概率。本發(fā)明能夠提高單量子比特控制保真度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及量子計(jì)算技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種量子比特控制脈沖的反饋優(yōu)化方法。
背景技術(shù)
量子計(jì)算的結(jié)果輸出依賴于量子門序列對(duì)量子比特初態(tài)的操作,然而,由于對(duì)單個(gè)量子比特而言,作用于其上的量子門序列采用串行操作,因此,單個(gè)量子門所導(dǎo)致的錯(cuò)誤將會(huì)累積到下一個(gè)量子門的輸入。也就是說(shuō),量子計(jì)算輸出結(jié)果的準(zhǔn)確度將隨操作中作用在單個(gè)量子比特上門操作的個(gè)數(shù)呈指數(shù)式下降。例如,假設(shè)某種單比特門操作的保真度為99.9%,那么作用了1000個(gè)相同的單比特門后最后結(jié)果的準(zhǔn)確度大約僅有36.77%。而對(duì)于一般的量子算法而言,想得到有價(jià)值的計(jì)算結(jié)果一般需要對(duì)單個(gè)量子比特進(jìn)行更高數(shù)量級(jí)的量子門操作。因此,量子門操作的保真度將對(duì)量子計(jì)算輸出結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生直接影響。
對(duì)于超導(dǎo)量子計(jì)算而言,單量子比特門的實(shí)現(xiàn)方式為,將IQ混頻器的兩端分別接到任意波形發(fā)生器(AWG)的兩個(gè)輸出通道上,利用AWG所輸出的中頻信號(hào)對(duì)IQ混頻器本振端(local)所接入的微波信號(hào)進(jìn)行調(diào)制,調(diào)制后的射頻輸出(RF)即可用于實(shí)現(xiàn)單量子比特門操作。然而,由于IQ混頻器本身并非理想的器件,因此輸出的RF信號(hào)與理想信號(hào)有一定差距,反應(yīng)在頻譜上即為在目標(biāo)頻率附近有一些雜散信號(hào)出現(xiàn)。而目前最常見(jiàn)的Transmon量子比特非諧性較弱,因此不理想的波形輸出常導(dǎo)致向更高能級(jí)的泄露。此外,不理想的RF波形輸出也導(dǎo)致無(wú)法校準(zhǔn)出完美的控制波形。目前常采用的量子比特門保真度提高方案為一些解析方案,例如廣泛使用的絕熱導(dǎo)數(shù)修正方案(Drag),可以降低量子比特向計(jì)算基矢以外希爾伯特空間的泄露。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決以上技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種量子比特控制脈沖的反饋優(yōu)化方法,通過(guò)波形修正可進(jìn)一步提高單比特門保真度。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:
針對(duì)單比特門操作的AWG的波形輸出部分以一定間隔添加數(shù)據(jù)標(biāo)記點(diǎn)(Marker),通過(guò)調(diào)節(jié)各個(gè)Marker點(diǎn)處的振幅整形X門所對(duì)應(yīng)的微波脈沖,同時(shí)對(duì)微波控制后的量子態(tài)進(jìn)行重復(fù)讀取,優(yōu)化過(guò)程中的反饋信號(hào)為讀取到量子態(tài)被翻轉(zhuǎn)到|1態(tài)的概率。
為了放大單個(gè)X門的誤差,可將控制微波由單個(gè)X門擴(kuò)展到奇數(shù)個(gè)X門操作。這種反饋優(yōu)化方案除了可用于X門的優(yōu)化外,還可擴(kuò)展至Y門和X/2門、Y/2門,Y門實(shí)現(xiàn)思路與X門一致,X/2門和Y/2門只需將對(duì)應(yīng)門操作的個(gè)數(shù)提升至2n個(gè)即可,其中n為正奇數(shù)。
考慮到一般AWG輸出信號(hào)的采樣率約為109,即每1ns有一個(gè)采樣點(diǎn),因此在不考慮計(jì)算能力的限制條件時(shí)每一秒最多可設(shè)置109個(gè)Marker點(diǎn),采用此反饋優(yōu)化方案可實(shí)現(xiàn)ns級(jí)別的信號(hào)微調(diào)。
另外,由于常用的Drag修正等解析方案本質(zhì)上也屬于波形整形方案,區(qū)別在于Drag修正為在AWG的輸出中附加上原本輸出信號(hào)的導(dǎo)數(shù)波形乘以振幅因子,因此所提出的此反饋優(yōu)化方案其實(shí)完全覆蓋了常用的Drag修正方案,理論上可以得到更高保真度下的單比特門操作。
具體步驟如下:
1)隨機(jī)調(diào)節(jié)所選Marker點(diǎn)的振幅;
2)利用新波形對(duì)量子比特作用單比特門序列;
3)對(duì)量子比特狀態(tài)進(jìn)行讀取,獲取得到|1的概率;
4)此次得到|1的概率是否大于預(yù)設(shè)閥值,是則跳出循環(huán);否則進(jìn)行下一步;
5)此次得到|1的概率是否大于上次得到|1的概率,
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