[發明專利]一種模型的映射方法和裝置有效
| 申請號: | 202110511566.0 | 申請日: | 2021-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN113282276B | 公開(公告)日: | 2023-02-17 |
| 發明(設計)人: | 肖瑾;肖志穎;胡曉光;周慶 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G06F8/20 | 分類號: | G06F8/20 |
| 代理公司: | 北京開陽星知識產權代理有限公司 11710 | 代理人: | 安偉 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 模型 映射 方法 裝置 | ||
1.一種模型的映射方法,其特征在于,包括:
獲取基于系統建模語言的系統模型的第一目標文件,獲取基于機載能力環境的數據模型的第二目標文件;
對所述第一目標文件中的模型信息和模型概要信息進行解析,得到系統目標信息;
對所述第二目標文件中的數據模型信息進行解析,得到數據目標信息;
根據所述系統目標信息和所述數據目標信息,確定所述系統模型與所述數據模型的映射關系;
其中,所述對所述第一目標文件中的模型信息和模型概要信息進行解析,得到系統目標信息,包括:
對所述第一目標文件中的模型信息中的內部組成進行解析,得到系統模塊,其中,所述系統模塊包括非關聯系統模塊和關聯系統模塊,所述非關聯系統模塊包括第一屬性,所述關聯系統模塊包括第二屬性和關聯標識;
對所述第一目標文件中的模型概要信息進行解析,得到模型數據類型;
根據所述非關聯系統模塊、所述關聯系統模塊和所述模型數據類型,得到系統目標信息。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述第二目標文件中的數據模型信息進行解析,得到數據目標信息,其中,所述數據模型包括概念層數據模型、邏輯層數據模型、平臺層數據模型以及可移植組件數據模型,所述方法具體包括:
對所述第二目標文件中的所述概念層數據模型的信息進行解析,得到概念層目標參數,所述概念層目標參數包括概念層可觀測量庫、概念層實體和概念層關聯實體;
對所述第二目標文件中的所述邏輯層數據模型的信息進行解析,得到邏輯層目標參數,所述邏輯層目標參數包括邏輯層實體、邏輯層單元和邏輯層測量;
對所述第二目標文件中的所述平臺層數據模型的信息進行解析,得到平臺層目標參數,所述平臺層目標參數包括平臺層實體、平臺層關聯實體、平臺層數據類型和平臺層視圖;
對所述第二目標文件中的所述可移植組件數據模型的信息進行解析,得到多個可移植組件,所述可移植組件包括消息接口;
根據所述概念層目標參數、所述邏輯層目標參數、所述平臺層目標參數和所述可移植組件,得到數據目標信息。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第二目標文件中的所述概念層數據模型的信息進行解析,得到概念層目標參數,所述概念層目標參數包括概念層可觀測量庫、概念層實體和概念層關聯實體,其中,所述概念層可觀測量庫包括多個概念層可觀測量;
其中,所述概念層實體中的第一元素節點與所述概念層可觀測量中的元素關聯;
其中,所述概念層關聯實體包括第二元素節點和第一關聯實體,所述第二元素節點與所述概念層可觀測量中的元素關聯,所述第一關聯實體與所述概念層實體關聯。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第二目標文件中的所述邏輯層數據模型的信息進行解析,得到邏輯層目標參數,所述邏輯層目標參數包括邏輯層實體、邏輯層關聯實體、邏輯層單元和邏輯層測量,其中,所述邏輯層實體用于實現所述概念層實體;
其中,所述邏輯層單元包括單位元素,所述單位元素確定所述邏輯層測量的單位;
其中,所述邏輯層測量與所述概念層可觀測量中的元素對應。
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述第二目標文件中的所述平臺層數據模型的信息進行解析,得到平臺層目標參數,所述平臺層目標參數包括平臺層實體、平臺層關聯實體、平臺層數據類型和平臺層視圖,其中,所述平臺層實體中包括與所述平臺層數據類型對應的元素。
6.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述系統目標信息和所述數據目標信息,確定所述系統模型與所述數據模型的映射關系,包括:
確定所述系統目標信息與所述數據目標信息中所述概念層目標參數的第一映射關系;
確定所述系統目標信息與所述數據目標信息中所述邏輯層目標參數的第二映射關系;
確定所述系統目標信息與所述數據目標信息中所述平臺層目標參數的第三映射關系;
確定所述系統目標信息與所述數據目標信息中所述可移植組件的第四映射關系。
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