[發(fā)明專利]一種適用于多規(guī)格3C產品蓋板的檢測載臺及檢測系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2021-05-06
• 公開（公告）號: CN113155028A
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發(fā)明（設計）人: 吳江;孫繼忠;谷孝東;曹葵康;周明
• 申請（專利權）人: 蘇州天準科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01N21/88
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 徐穎聰

本發(fā)明提供了一種適用于多規(guī)格3C產品蓋板的檢測載臺及檢測系統(tǒng)，檢測載臺包括轉接底板、支撐柱、調平板、載物底板、調高螺絲、彈簧螺栓組件和鎖緊銷；載物底板相對于下方調平板的高度和水平度通過調高螺絲和彈簧螺栓組件調節(jié)，待測件通過鎖緊銷調整定位。檢測系統(tǒng)包括檢測臺座、光源投影模組和圖像光學采集模組，系統(tǒng)使用條紋反射法，通過投影和采集條紋圖像計算曲率實現對于待測件的尺寸測量和缺陷檢測。本檢測載臺可以適用于多種規(guī)格的3C產品的玻璃蓋板的量檢測，同時設置多個載板及載臺，可以提高檢測效率，本系統(tǒng)的結構簡單，模塊化設計，降低了成本提高了擴展適配性。

技術領域

本發(fā)明涉及基于圖像數據處理的量檢測技術，具體涉及一種適用于多規(guī)格3C產品蓋板的檢測載臺及檢測系統(tǒng)。

背景技術

隨著3C產品(計算機-Computer、通信-Communication和消費類電子產品-Consumer Electronics)的普及，產品表面的waviness的量檢測顯得越來越重要。

然而，現有的檢測設備或系統(tǒng)，存在結構復雜，不宜調整，且適應的待測件單一等問題。具體的，對于玻璃蓋板等待測件，存在多種規(guī)格，長度寬度不同，而現有的都是固定的載臺，對不同類型和規(guī)格的待測件，此類載臺和系統(tǒng)適配性不夠。

因此，需簡要一個高效、結構簡單且能調整的量檢測系統(tǒng)。

發(fā)明內容

為了克服現有技術的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種適用于多規(guī)格3C產品蓋板的檢測載臺及檢測系統(tǒng)，其能解決上述問題。

一種適用于多規(guī)格3C產品蓋板的檢測載臺，所述檢測載臺包括轉接底板、支撐柱、調平板、載物底板、調高螺絲、彈簧螺栓組件和鎖緊銷；所述載物底板相對于下方調平板的高度和水平度通過所述調高螺絲和彈簧螺栓組件調節(jié)，待測件通過所述鎖緊銷調整定位。

優(yōu)選的，所述檢測載臺還包括載物墊板和推塊；其中，所述載物墊板采用PEEK塑料制造用以支撐和匹配不同型號的待測件底面；其中，所述推塊設置在非基準邊側以對待測件靠位定位，以適應不同寬度的待測件定位。

本發(fā)明還提供了一種檢測系統(tǒng)，檢測系統(tǒng)包括檢測臺座、光源投影模組和圖像光學采集模組，在所述檢測臺座的上表面上水平的并排設置多個前述的檢測載臺，所述光源投影模組角度可調的設置在多個所述檢測載臺上方，且光源投影模組投射的多頻條紋圖覆蓋所述檢測載臺；所述圖像光學采集模組角度和間距可調的設置在多個所述檢測載臺上方，且與所述光源投影模組鄰接設置，所述圖像光學采集模組的相機個數與檢測載臺的載物底板個數相等；系統(tǒng)使用條紋反射法，通過投影和采集條紋圖像計算曲率實現對于待測件的尺寸測量和缺陷檢測。

相比現有技術，本發(fā)明的有益效果在于：通過本發(fā)明的檢測載臺，可以適用于多種規(guī)格的3C產品的玻璃蓋板的量檢測，同時設置多個載板及載臺，可以提高檢測效率，本系統(tǒng)的結構簡單，模塊化設計，降低了成本提高了擴展適配性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明檢測載臺的結構示意圖；

圖2為兩檢測載臺四載物底板俯視示意圖；

圖3為檢測系統(tǒng)的示意圖；

圖4為光源投影模組、檢測臺座及圖像光學采集模組的角度布置關系圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

第一實施例