[發明專利]電子裝置控制方法、其電子裝置和軟件產品

在審

• 申請號: 202110487823.1
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113608576A
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: F·里扎爾迪尼;S·P·里沃爾塔;L·布拉科;M·比安科
• 申請（專利權）人: 意法半導體股份有限公司
• 主分類號: G06F1/16
• 分類號: G06F1/16
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 董莘

1.一種用于根據電子裝置的第一硬件元件和第二硬件元件之間的蓋角的值來控制所述電子裝置的至少一個功能的方法，其中所述第一硬件元件容納第一磁力計，并且所述第二硬件元件容納第二磁力計，并且所述第二硬件元件能夠相對于所述第一硬件元件取向，所述方法包括：

由所述第一磁力計以及由所述第二磁力計生成第一信號，所述第一信號指示所述電子裝置外部的磁場的測量，并且指示所述第一硬件元件相對于所述第二硬件元件的相對取向；

由所述電子裝置的處理單元獲取所述第一信號；

由所述處理單元并且根據所述第一信號生成校準參數，所述校準參數指示所述第一磁力計和所述第二磁力計的校準的條件；

由所述處理單元并且根據所述第一信號生成可靠性值，所述可靠性值指示所述第一信號的可靠性的條件；

由所述處理單元基于所述第一信號計算所述蓋角的第一中間值；

由所述處理單元基于所述校準參數、所述可靠性值和所述蓋角的所述第一中間值，來計算所述蓋角的當前值；以及

根據所述蓋角的所述當前值控制所述電子裝置的所述功能。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一硬件元件和所述第二硬件元件能夠圍繞旋轉軸相對于彼此旋轉，

其中所述第一硬件元件和所述第二硬件元件具有相應的第一表面和相應的第二表面，所述第一表面和所述第二表面能夠彼此直接面對，并且在所述第一表面和所述第二表面之間限定所述蓋角，以及

其中所述第一磁力計是具有相應的第一感測軸、相應的第二感測軸和相應的第三感測軸的三軸磁力計，并且所述第二磁力計是具有相應的第一感測軸、相應的第二感測軸和相應的第三感測軸的三軸磁力計，所述第一感測軸平行于所述旋轉軸。

3.根據權利要求2所述的方法，其中計算所述第一中間值包括執行以下操作：

其中Gy₁是由所述第一磁力計沿相應的第二感測軸檢測的所述第一信號的分量，Gz₁是由所述第一磁力計沿相應的第三感測軸檢測的所述第一信號的分量，Gy₂是由所述第二磁力計沿相應的第二感測軸檢測的第二信號的分量，并且Gz₂是由所述第二磁力計沿相應的第三感測軸檢測的所述第二信號的分量。

4.根據權利要求3所述的方法，其中生成所述可靠性值包括：

基于所述第一信號計算可靠性角；以及

基于所述可靠性角與閾值角之間的比較來生成所述可靠性值。

5.根據權利要求4所述的方法，其中所述可靠性角在所述旋轉軸和所述電子裝置外部的所述磁場之間被測量，并且其中計算所述可靠性角包括：

通過執行以下操作，基于所述第一磁力計的所述第一信號計算第一中間角：

或者通過執行以下操作，基于所述第二磁力計的所述第一信號計算第二中間角：

其中Gx₁是由所述第一磁力計沿相應的第一感測軸檢測的所述第一信號的分量，并且Gx₂是由所述第二磁力計沿相應的第一感測軸檢測的所述第二信號的分量；以及

基于所述第一中間角或所述第二中間角生成所述可靠性角，其中：所述可靠性角等于第一角，或所述可靠性角等于第二角，或所述可靠性角等于所述第一角和所述第二角的平均值，或所述可靠性角等于所述第一角和所述第二角的加權平均值。

6.根據權利要求3所述的方法，其中生成所述可靠性值包括：

通過執行以下操作，基于所述第一信號計算第一可靠性角：

其中Gx₁是由所述第一磁力計沿相應的第一感測軸檢測的所述第一信號的分量；

通過執行以下操作，基于所述第一信號計算第二可靠性角：

其中Gx₂是由所述第二磁力計沿相應的第一感測軸檢測的所述第二信號的分量；以及

基于所述第一可靠性角與閾值角之間的第一比較、以及基于所述第二可靠性角與所述閾值角之間的第二比較，來生成所述可靠性值。