[發明專利]測試電路、測試設備以及測試電路測試方法在審

申請號：	202110485124.3	申請日：	2021-04-30
公開（公告）號：	CN113176488A	公開（公告）日：	2021-07-27
發明（設計）人：	陳躍俊;鞏志遠;劉興;袁鑫	申請（專利權）人：	北京華峰測控技術股份有限公司
主分類號：	G01R31/26	分類號：	G01R31/26;G01R31/52;G01R31/14
代理公司：	北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606	代理人：	吳娜娜
地址：	100071 北京***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	測試電路設備以及方法
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【說明書】：

本申請實施例提供一種測試電路、測試設備以及測試電路測試方法。需要對被測試器件測試時，控制第一開關導通，控制被測試器件開啟。此時電源的正極、第一開關、電感、測試端、電源的負極依次連接構成回路。電源給電感充電。電感的電流逐漸增大。當電感的電流增大到一定程度后，控制第一開關斷開，并且關斷被測試器件、導通第二開關。此時第二開關、電源的正極、電源的負極、二極管、電感的第一端、電感的第二端依次連接形成第二回路。電感中的電流可以依次通過第二開關、電源、二極管釋放。電感中的電流還可以被電源回收。因此測試電路能夠快速實現電感中的電流清零，便于快速進行下一次的測試，提高了測試效率。

技術領域

本申請涉及測試領域，特別是涉及一種測試電路、測試設備以及測試電路測試方法。

背景技術

雪崩能力是功率器件(MOSFET、IGBT)的關鍵參數。隨著功率器件開關速度的不斷提高，當負載是大電流感性負載，比如電機，關斷瞬間感性負載會產生電壓尖峰。此時功率器件處于雪崩擊穿的狀態，要承受雪崩能量。因此雪崩能力就是在這種大電流感性負載的情況下，看被測器件能否承受設定的雪崩能量。因此雪崩測試是被測試器件出廠前的重要測試指標。

但是，在對大量被測試器件測試時，現有的測試設備測試效率較低，這都影響了工作效率。

發明內容

基于此，有必要針對上述問題，提供一種測試電路、測試設備以及測試電路測試方法。

一種測試電路，包括：

電源；

第一開關和二極管，所述第一開關和所述二極管串聯于所述電源的正極和所述電源的負極之間，所述二極管的陽極與所述電源的正極連接；

電感，所述電感包括第一端和第二端，所述電感的第一端與所述二極管的陰極連接；

第二開關，所述第二開關的一端與所述電源的正極連接，所述第二開關的另一端與所述電感的第二端連接；以及

測試端，所述測試端的一端與所述電感的第二端連接，所述測試端的另一端與所述電源的負極連接。

在一個實施例中，所述第一開關、所述第二開關中至少一個為絕緣柵雙極型晶體管。

在一個實施例中，還包括控制電路，所述控制電路分別與所述電源、所述第一開關、所述第二開關、所述測試端連接，所述控制電路用于控制所述電源、所述第一開關、所述第二開關和所述測試端的工作狀態。

在一個實施例中，所述電源包括電容，所述電容的正極板作為所述電源的正極、所述電容的負極板作為所述電容的負極，所述電容的正極板與所述第一開關的一端連接，所述第一開關的另一端與所述二極管的陰極連接，所述二極管的陽極與所述電容的負極板連接。