[發(fā)明專利]一種測距方法、裝置、機(jī)器人和存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110477259.5
• 申請日: 2021-04-29
• 公開（公告）號: CN114608520B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊廣振;于煬
• 申請（專利權(quán)）人: 北京石頭創(chuàng)新科技有限公司
• 主分類號: G01C3/00
• 分類號: G01C3/00
• 代理公司: 北京睿馳通程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11604
• 代理人: 張文平;唐華

1.一種測距方法，應(yīng)用于配置有圖像采集裝置的自移動機(jī)器人，其特征在于包括：

采集第一圖像，所述第一圖像中至少包括待測物體及所述待測物體所在的地面；

基于所述第一圖像確定所述地面的初始約束條件；

采集第二圖像，所述第二圖像中至少包括線結(jié)構(gòu)光與所述地面的交線和/或與所述待測物體的交線；

基于所述第二圖像確定所述地面的位置參數(shù)，并根據(jù)所述位置參數(shù)修正所述地面的初始約束條件；

基于修正后的所述地面的初始約束條件及所述第一圖像確定所述待測物體的距離。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集第二圖像之前，包括：

通過線結(jié)構(gòu)光源發(fā)射至少一條非平行于所述地面的面掃描光，所述面掃描光形成至少一條與所述地面的交線。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述通過線結(jié)構(gòu)光源發(fā)射至少一條非平行于所述地面的面掃描光，所述面掃描光形成至少一條與所述地面的交線，包括：

通過線結(jié)構(gòu)光源交替發(fā)射至少兩條垂直于所述地面的面掃描光，所述面掃描光形成至少兩條與所述地面的交線；或者，

通過線結(jié)構(gòu)光源發(fā)射一條橫向的非平行于所述地面的面掃描光以及一條垂直于所述地面的面掃描光，所述面掃描光形成至少兩條與所述地面的交線。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述通過線結(jié)構(gòu)光源發(fā)射一條橫向的非平行于所述地面的面掃描光以及一條垂直于所述地面的面掃描光，所述面掃描光形成至少兩條與所述地面的交線，包括：

通過線結(jié)構(gòu)光源向所述自移動機(jī)器人行進(jìn)方向發(fā)射一條橫向的非平行于所述地面的面掃描光；以及，

向所述自移動機(jī)器人行進(jìn)側(cè)向發(fā)射一條垂直于所述地面的面掃描光；所述面掃描光形成至少兩條與所述地面的交線。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述向所述自移動機(jī)器人行進(jìn)側(cè)向發(fā)射一條垂直于所述地面的面掃描光，包括：

向所述自移動機(jī)器人行進(jìn)側(cè)向下方向發(fā)射一條垂直于所述地面的面掃描光。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，采集所述第一圖像的圖像采集裝置為紅外圖像采集裝置或可見光圖像采集裝置；采集所述第二圖像的圖像采集裝置為紅外圖像采集裝置。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一圖像采集裝置和所述第二圖像采集裝置為同一紅外圖像采集裝置。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，還包括：

控制紅外光源分別在不同時段發(fā)射紅外光；

控制拍攝時序，通過所述同一紅外圖像采集裝置分別在不同時段獲得所述第一圖像和第二圖像。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于修正后的所述地面的初始約束條件及所述第一圖像確定所述待測物體的距離，包括：

在所述第一圖像中確定所述待測物體的物體區(qū)域,其中，所述物體區(qū)域?yàn)榘ㄋ龃郎y物體在內(nèi)的最小矩形；

基于修正后的所述地面的初始約束條件確定所述物體區(qū)域的下邊緣位置參數(shù)與所述第一圖像的下邊緣位置參數(shù)；

基于所述物體區(qū)域的下邊緣位置參數(shù)與所述第一圖像的下邊緣位置參數(shù)，確定所述待測物體的距離。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述物體區(qū)域的下邊緣位置參數(shù)與所述第一圖像的下邊緣位置參數(shù)，確定所述待測物體的距離，包括：

在所述第一圖像中確定一基準(zhǔn)位置作為坐標(biāo)原點(diǎn)；

在所述最小矩形的下邊緣中選取任意一點(diǎn)作為第一參考點(diǎn)，在所述第一圖像的下邊緣根據(jù)所述第一參考點(diǎn)確定第二參考點(diǎn)；

根據(jù)所述第一參考點(diǎn)以及所述第二參考點(diǎn)的位置坐標(biāo)，計算所述待測物體的距離。