[發(fā)明專利]一種通信芯片的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110456596.6
• 申請日: 2021-04-27
• 公開（公告）號: CN113098632B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發(fā)明（設計）人: 曹佶;趙寶忠
• 申請（專利權）人: 浙江杭可儀器有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開了一種通信芯片的檢測方法，包括，步驟A：讀取被測通信芯片中的ID信息，分別檢查被測通信芯片與供電電源的接觸是否正常，通信芯片與信號發(fā)生單元的通訊是否正常；步驟B：讀取供電電源的輸出電流，并與理論電流進行比較；步驟C：運用信號發(fā)生單元，對通信芯片執(zhí)行讀寫操作，以檢測通信芯片的讀寫功能是否正常；步驟D：通過被測通信芯片按設定算法執(zhí)行的結果，去判斷通信芯片的內部寄存器是否失效；步驟E：通過信號發(fā)生單元對通信芯片輸入功能信號，并判斷通信芯片輸出的功能數(shù)據(jù)是否與期望數(shù)據(jù)一致。其能通過信號發(fā)生單元輸入功能信號對通信芯片進行功能測試，而能全面的檢測通信芯片的性能。

技術領域

本發(fā)明涉及電子芯片技術領域，尤其涉及一種通信芯片的檢測方法。

背景技術

近年來通信芯片的需求量大幅度增長，給全球半導體業(yè)注入新的活力，通信芯片廣泛應用于移動通信、無線internet和無線數(shù)據(jù)傳輸業(yè)，即將成為21世紀初全球半導體芯片業(yè)最大的應用市場。

傳統(tǒng)的通信芯片的測試，主要是反復的向通信芯片進行基本的讀寫操作測試，這種方式能夠檢測通信芯片的基本讀寫功能，但缺乏對通信芯片功能的檢測，而不能全面的檢測通信芯片的性能。

發(fā)明內容

為了克服現(xiàn)有技術的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種通信芯片的檢測方法，其能通過信號發(fā)生單元輸入功能信號對通信芯片進行功能測試，而能全面的檢測通信芯片的性能。

本發(fā)明的目的采用以下技術方案實現(xiàn)：

一種通信芯片的檢測方法，包括，

步驟A：讀取被測通信芯片中的ID信息，分別檢查被測通信芯片與供電電源的接觸是否正常，通信芯片與信號發(fā)生單元的通訊是否正常；如果都正常，執(zhí)行下一步；如果不正常，則重新連接線路；

步驟B：讀取供電電源的輸出電流，并與理論電流進行比較，如果所述輸出電流大于所述理論電流，則表明電路短路，則對所述輸出電流進行調整；如果所述輸出電流小于或等于所述理論電流，則表明電路電流正常，執(zhí)行下一步；

步驟C：運用信號發(fā)生單元，對通信芯片執(zhí)行讀寫操作，以檢測通信芯片的讀寫功能是否正常，如果讀寫功能正常則進入下一步，否則停止檢測；

步驟D：通過被測通信芯片按設定算法執(zhí)行的結果，去判斷通信芯片的內部寄存器是否失效，如果內部寄存器沒有失效，則進入下一步，否則停止檢測；

步驟E：通過所述信號發(fā)生單元對通信芯片輸入功能信號，并判斷通信芯片輸出的功能數(shù)據(jù)是否與期望數(shù)據(jù)一致，當功能數(shù)據(jù)與期望數(shù)據(jù)一致時，則表明該通信芯片為良品芯片；否則，把不一致的功能數(shù)據(jù)與期望數(shù)據(jù)反饋給所述信號發(fā)生單元進行儲存和分析。

進一步地，在所述步驟A中，所述ID信息包括通信芯片的額定電壓、額定電流、時序和功能描述。

進一步地，在所述步驟B中，所述理論電流I_理=I_額n/4，其中，I_理為芯片的理論電流_，I_額為芯片的額定電流，n為芯片的管腳數(shù)。

進一步地，在所述步驟C中，所述信號發(fā)生單元包括傳輸模塊、電源模塊、FPGA控制模塊、程序存儲模塊和與被測通信芯片信號連接的通訊接口模塊，所述傳輸模塊、所述FPGA控制模塊、所述程序存儲模塊分別與所述電源模塊電性連接，所述傳輸模塊、所述程序存儲模塊和所述通訊接口模塊分別信號連接所述FPGA控制模塊。

進一步地，所述信號發(fā)生單元還包括用于選擇通信芯片的地址選擇模塊，所述地址選擇模塊與所述FPGA控制模塊信號連接。

進一步地，所述信號發(fā)生單元還包括網絡接口，所述網絡接口與所述傳輸模塊信號連接。