[發(fā)明專利]一種劣化瓷絕緣子的檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110426397.0 | 申請日： | 2021-04-20 |
| 公開（公告）號： | CN113092864A | 公開（公告）日： | 2021-07-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 趙晨龍;周軍;文路;劉洋;黃瑞平;高嵩;陳杰 | 申請（專利權(quán)）人： | 清華珠三角研究院;國網(wǎng)江蘇省電力有限公司電力科學(xué)研究院;中國電力科學(xué)研究院有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02;G01N27/20 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 陳嘉雯 |
| 地址： | 510000 廣東省廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 劣化瓷 絕緣子 檢測 方法 | ||
1.一種劣化瓷絕緣子的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
S1：測量絕緣子第一端和第二端之間的絕緣電阻，記為R1；
S2：將絕緣子第一端浸泡于溶液中，持續(xù)測量絕緣子第一端和第二端之間的絕緣電阻，記為R2；
S3：對比R1和R2，若R1/R2＞1，則絕緣子為劣化絕緣子。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，若R1-R21000MΩ，則絕緣子為劣化絕緣子。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，若R1/R2＞5，則絕緣子為劣化絕緣子。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，對持續(xù)測量的絕緣電阻值進行線性擬合得到斜率k；
若k-0.01MΩ/s，則絕緣子為劣化絕緣子。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述絕緣電阻的測量方法為：直流高壓測量，電壓為250～5000V。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述溶液為去離子水。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述溶液液面距離所述絕緣子第一端的豎直高度為10～60mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述溶液的pH值為5.5～7.0，電導(dǎo)率小于10μS/cm，電阻率大于0.5MΩ·cm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述溶液的溫度為室溫，所述持續(xù)測量的壓強為101.3kPa，時間為1～2h。
10.權(quán)利要求1～9任意一項所述檢測方法在檢測瓷絕緣子內(nèi)部裂紋、微氣孔或貫穿性通道中的應(yīng)用。
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