[發(fā)明專利]一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110421735.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113126113B | 公開(公告)日: | 2023-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉立超;畢全鵬;陳黎卿;陳狀;畢大偉;王韋韋;張春嶺 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01S17/88 | 分類號(hào): | G01S17/88;G01S17/00;G01S7/48;G01S7/481 |
| 代理公司: | 北京保識(shí)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11874 | 代理人: | 汪浩 |
| 地址: | 230036 安徽省合肥*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 接觸 地表 粗糙 測(cè)量 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置及方法,屬于地表微地貌測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置與測(cè)量方法相匹配,其方法包括以下步驟:S1、調(diào)整下支架高度;S2、裝置初始化;S3、驅(qū)動(dòng)控制器控制步進(jìn)電機(jī)B按設(shè)定的程序精準(zhǔn)轉(zhuǎn)動(dòng),激光雷達(dá)以線掃描方式對(duì)待測(cè)土壤采樣,并將數(shù)據(jù)傳給便攜式計(jì)算機(jī);S4、驅(qū)動(dòng)控制器控制步進(jìn)電機(jī)A按設(shè)定的程序精準(zhǔn)轉(zhuǎn)動(dòng);S5、重復(fù)S3的工作步驟;S6、數(shù)據(jù)去趨勢(shì)化處理,得到完整的、較符合評(píng)價(jià)地表微地貌的三維高程數(shù)據(jù);S7、對(duì)地表微地貌進(jìn)行評(píng)價(jià)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有的測(cè)量方法在測(cè)量效率低以及數(shù)據(jù)后處理得到的三維數(shù)據(jù)與耕作后形成的不同尺度實(shí)際微地貌相符合程度低的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及地表微地貌測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置及方法。
背景技術(shù)
地表土壤粗糙度反映了土壤表面高程的小尺度變化,是影響地表水文和侵蝕過程的重要因素。目前,對(duì)于耕作后的地表粗糙度大多還局限于接觸式測(cè)量,這種測(cè)量方法雖結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,但是測(cè)量精度低,容易破壞原有地表。攝像技術(shù)多用于在光照均勻且無陰影環(huán)境下使用,測(cè)量精度較高,但在壟溝高程變化大的環(huán)境下精度較低,應(yīng)用較少。激光測(cè)距的方法在非接觸式測(cè)量中也得到了廣泛的應(yīng)用,可實(shí)現(xiàn)毫米級(jí)或亞毫米級(jí)的測(cè)量精度,但測(cè)量較為耗時(shí),效率不高。
土壤粗糙度分為兩種,一種是由于壟溝的斜面造成的定向粗糙度,一種是反映土地真實(shí)地貌的隨機(jī)粗糙度。現(xiàn)有的數(shù)據(jù)后處理方法中,往往沒有考慮到定向粗糙度的影響,在評(píng)價(jià)地表微地貌參數(shù)時(shí),就會(huì)導(dǎo)致計(jì)算的結(jié)果與實(shí)際微地貌不一致,精度降低。
為解決以上存在的問題,進(jìn)一步提高測(cè)量效率以及數(shù)據(jù)后處理得到的三維數(shù)據(jù)與耕作后形成的不同尺度實(shí)際微地貌相符合程度,本發(fā)明提供了一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置及方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置及方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題:
現(xiàn)有的測(cè)量方法在測(cè)量效率低以及數(shù)據(jù)后處理得到的三維數(shù)據(jù)與耕作后形成的不同尺度實(shí)際微地貌相符合程度低的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案:
一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量裝置,包括有伸縮下支架和上支架,所述伸縮下支架包括有底桿和伸縮桿,所述伸縮桿伸縮連接在底桿上,所述伸縮桿上設(shè)置有刻度尺,所述伸縮桿和底桿的連接處固定安裝有可調(diào)節(jié)裝置,所述伸縮桿的頂端固定連接有步進(jìn)電機(jī)A,所述步進(jìn)電機(jī)A上集成安裝有編碼器A,所述步進(jìn)電機(jī)A的輸出軸上固定安裝有平鍵,所述上支架通過平鍵與步進(jìn)電機(jī)A固定連接,所述上支架上安裝有激光探測(cè)裝置,
優(yōu)選地,所述激光探測(cè)裝置包括有保護(hù)殼、激光雷達(dá)、步進(jìn)電機(jī)B、編碼器B、連接軸和軸承,所述保護(hù)殼通過連接螺栓與上支架固定連接,所述步進(jìn)電機(jī)B固定連接在保護(hù)殼的內(nèi)部,所述編碼器B集成安裝在步進(jìn)電機(jī)B上,所述步進(jìn)電機(jī)B的輸出軸上固定連接有固定板,所述連接軸一端與固定板遠(yuǎn)離步進(jìn)電機(jī)B一側(cè)固定連接,另一端與軸承固定連接,所述連接軸通過軸承與保護(hù)殼轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述激光雷達(dá)通過螺栓固定安裝在固定板上;所述保護(hù)殼的內(nèi)部還固定安裝有電源,所述電源與步進(jìn)電機(jī)A、步進(jìn)電機(jī)B、編碼器A和編碼器B電性連接。
一種非接觸式地表粗糙度測(cè)量方法,包括以下步驟:
S1、調(diào)整下支架高度,使其達(dá)到測(cè)量數(shù)據(jù)的理想高度H;
S2、啟動(dòng)電源,裝置初始化;
S3、驅(qū)動(dòng)控制器獲取編碼器B的信號(hào),控制步進(jìn)電機(jī)B按設(shè)定的程序精準(zhǔn)轉(zhuǎn)動(dòng),激光雷達(dá)以線掃描方式對(duì)待測(cè)土壤采樣,并將數(shù)據(jù)傳給便攜式計(jì)算機(jī);
S4、驅(qū)動(dòng)控制器獲取編碼器A的信號(hào),控制步進(jìn)電機(jī)A按設(shè)定的程序精準(zhǔn)轉(zhuǎn)動(dòng);
S5、重復(fù)S3的工作步驟;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于安徽農(nóng)業(yè)大學(xué),未經(jīng)安徽農(nóng)業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110421735.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01S 無線電定向;無線電導(dǎo)航;采用無線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專門適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)
- 構(gòu)建近地表結(jié)構(gòu)模型的方法
- 地表發(fā)射率計(jì)算方法和裝置
- 地表溫度信息獲取方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 構(gòu)建近地表結(jié)構(gòu)模型的方法和裝置
- 獲取最優(yōu)地表類型數(shù)據(jù)集配置的方法和設(shè)備
- 一種不同尺度地表徑流過程自動(dòng)監(jiān)測(cè)整編系統(tǒng)
- 近地表結(jié)構(gòu)模型構(gòu)建的方法及裝置
- 一種地表電位還原方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種區(qū)域地表溫度場(chǎng)的時(shí)間過程模擬方法及系統(tǒng)
- 虛擬地表的處理方法、裝置及電子裝置
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





