[發(fā)明專利]避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110414009.7 | 申請日: | 2021-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN113118879B | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周子元;王志豪;李文宗;黎發(fā)志 | 申請(專利權(quán))人: | 南京英田光學(xué)工程股份有限公司 |
| 主分類號: | B24B1/00 | 分類號: | B24B1/00;B24B13/01;B24B49/12 |
| 代理公司: | 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 32206 | 代理人: | 許小莉 |
| 地址: | 210028 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 避免 表面 出現(xiàn) 斷層 孔洞 燒結(jié) 碳化硅 加工 方法 | ||
本發(fā)明提供一種避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法。本發(fā)明方法包括如下步驟:S1.利用CCOS技術(shù)對反應(yīng)燒結(jié)碳化硅反射鏡進(jìn)行細(xì)磨使得面型收斂至PV:0.45um,RMS:0.10um;S2.細(xì)磨結(jié)果后,進(jìn)行拋光,拋光磨盤材料選用瀝青,磨料選用氧化鈰,拋光階段仍然利用干涉儀與CCOS技術(shù)相結(jié)合進(jìn)行拋光,在保持面型不變的情況下,觀察是否出現(xiàn)白色斑點(diǎn),如不出現(xiàn)白色斑點(diǎn)則完成該道工序;S3.拋光結(jié)束后進(jìn)行改性鍍膜;S4.改性結(jié)束后繼續(xù)拋光至達(dá)到產(chǎn)品要求。本發(fā)明可以避免鏡面表面斷層,孔洞等現(xiàn)象,可得到面型與表面較好的反射鏡。
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法,屬于光學(xué)設(shè)備加工技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
傳統(tǒng)RB-SiC加工流程為細(xì)磨,拋光,鍍膜改性,再拋光過程;而斷層孔洞現(xiàn)在則集中出現(xiàn)在拋光階段。傳統(tǒng)研磨對硬度很大的RB-SiC存在加工效率慢,精度收斂慢,只適合單件小批量生產(chǎn)的缺陷;超精密磨削技術(shù)對工件產(chǎn)生微形變,且殘余應(yīng)力大;等離子體氣化加工會使鏡面表面出現(xiàn)孔洞等缺陷;離子束加工加工成本高,且由于RB-SiC中Si相和SiC相物理化學(xué)性質(zhì)不一致導(dǎo)致鏡面表面有凸起物;化學(xué)機(jī)械拋光由于RB-SiC中Si和SiC相得化學(xué)性質(zhì)不同導(dǎo)致拋光后出現(xiàn)斷層,孔洞等。
發(fā)明內(nèi)容:
針對上述存在的問題,本發(fā)明提供一種避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法,通過傳統(tǒng)拋光技術(shù)為基礎(chǔ),利用RB-SiC的特性調(diào)整加工環(huán)節(jié)避免了傳統(tǒng)方法的缺陷,結(jié)合計(jì)算機(jī)控制光學(xué)表面成型技術(shù),即CCOS技術(shù),不需要過高的技術(shù)支持,且可以避免鏡面表面斷層,孔洞等現(xiàn)象,可得到面型與表面較好的反射鏡。
上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法,該方法包括如下步驟:
S1. 利用CCOS技術(shù)對反應(yīng)燒結(jié)碳化硅反射鏡進(jìn)行細(xì)磨使得面型收斂至PV:0.45um,RMS:0.10um;
S2. 細(xì)磨結(jié)果后,進(jìn)行拋光,拋光磨盤材料選用瀝青,磨料選用氧化鈰,拋光階段仍然利用干涉儀與CCOS技術(shù)相結(jié)合進(jìn)行拋光,在保持面型不變的情況下,觀察是否出現(xiàn)白色斑點(diǎn),如不出現(xiàn)白色斑點(diǎn)則完成該道工序;
S3. 拋光結(jié)束后進(jìn)行改性鍍膜;
S4. 改性結(jié)束后繼續(xù)拋光至達(dá)到產(chǎn)品要求。
所述的避免鏡面表面出現(xiàn)斷層孔洞的燒結(jié)碳化硅的加工方法,步驟S1的具體方法是:
S11. 利用三坐標(biāo)測量面型得到數(shù)據(jù)后再利用CCOS技術(shù)進(jìn)行細(xì)磨,磨料選擇7-8um鉆石粉拋光粉,經(jīng)一輪細(xì)磨即可使鏡面達(dá)到干涉儀測量標(biāo)準(zhǔn),此后面型測量更換為干涉儀測量;
S12. 鏡面達(dá)到干涉儀測量標(biāo)準(zhǔn)后,將磨料更換為5-6um鉆石粉,鏡面細(xì)磨至最終面型結(jié)果是PV:4.65um,RMS:1.22um;
S13. 面型穩(wěn)定后更換3-4um鉆石粉繼續(xù)細(xì)磨,本道細(xì)磨至最終面型結(jié)果是pv:0.68um,RMS:0.15um;
S14. 最后更換0.5-1um鉆石粉進(jìn)行細(xì)磨,該道細(xì)磨最終得到面型為PV:0.45um,RMS:0.1um。
有益效果:
本發(fā)明提出了一種全新的加工燒結(jié)反射鏡的方法,可以有效解決加工過程中鏡面出現(xiàn)斷層孔洞現(xiàn)象;目前可將120mm碳化硅反射鏡在細(xì)磨階段面型收斂至PV:0.45um,RMS:0.10um。
附圖說明:
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中拋光前反射鏡顯微示意圖。
圖2是現(xiàn)有技術(shù)中拋光后反射鏡顯微示意圖。
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