[發明專利]一種矢量磁強計在軌實時標校系統及方法有效
| 申請號： | 202110403413.4 | 申請日： | 2021-04-15 |
| 公開（公告）號： | CN113109751B | 公開（公告）日： | 2021-11-30 |
| 發明（設計）人： | 孫樹全;杜愛民;趙琳;張瑩;李智;馮曉 | 申請（專利權）人： | 中國科學院地質與地球物理研究所 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562 | 代理人： | 賈耀淇 |
| 地址： | 100029 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 矢量 磁強計 實時 系統 方法 | ||
1.一種矢量磁強計在軌實時標校系統，其特征在于，包括：
標校線圈（100）、標校控制電路（200）、標量磁強計（300）、矢量磁強計（400）；
所述標校控制電路（200）分別與所述標校線圈（100）、所述標量磁強計（300）和所述矢量磁強計（400）連接；
所述標校控制電路（200）包括第一接口單元（201）、第二接口單元（205）、標校數據存儲與處理單元（204）、電流參數計算控制單元（202）、電流源輸出單元（203）；
所述標量磁強計（300）通過所述第一接口單元（201）與所述電流參數計算控制單元（202）連接；
所述電流參數計算控制單元（202）分別與所述標校數據存儲與處理單元（204）、所述電流源輸出單元（203）連接；
所述標校數據存儲與處理單元（204）通過所述第二接口單元（205）與所述矢量磁強計（400）連接；
所述電流源輸出單元（203）與所述標校線圈（100）連接；
所述電流源輸出單元（203），包括DAC輸出模塊、運算求和模塊、電壓轉電流模塊；
所述電流參數計算控制單元（202）與所述DAC輸出模塊連接；
所述DAC輸出模塊通過所述運算求和模塊與所述電壓轉電流模塊連接；
所述電流參數計算控制單元（202）用于通過計算獲得輸出參數，依據所述輸出參數，所述DAC模塊輸出第一電壓，所述運算求和模塊包括第二電壓，所述運算求和模塊依據所述第一電壓和所述第二電壓，獲得輸出電壓，所述電壓轉電流模塊依據所述輸出電壓，控制所述電流源輸出單元的輸出電流；
所述DAC輸出模塊包括DAC模塊和第一運算放大器；
所述DAC模塊通過所述第一運算放大器與所述運算求和模塊連接；
所述運算求和模塊包括第一電阻R0、第二電阻R1、第三電阻R2、第一電容C1和第二運算放大器；
所述第一運算放大器通過所述第一電阻R0分別與所述第二電阻R1、所述第三電阻R2、所述第一電容C1、所述第二運算放大器連接；
所述第二電阻R1包括第二電阻第一端和第二電阻第二端，所述第二電阻第一端設置有所述第二電壓，所述第二電阻第二端分別于所述第一電阻R0、所述第三電阻R2、所述第一電容C1和所述第二運算放大器連接；
所述第三電阻R2、所述第一電容C1和所述第二運算放大器并聯連接；
所述第二運算放大器的第一輸出端與所述電壓轉電流模塊連接；
所述電壓轉電流模塊包括第四電阻R3、第五電阻R4、第六電阻R6、第七電阻R5、第八電阻R7、第二電容C2和第三運算放大器；
所述第二運算放大器的所述第一輸出端通過所述第四電阻R3分別與所述第五電阻R3、所述第二電容C2和所述第三運算放大器連接；
所述第五電阻R4、所述第二電容C2和所述第三運算放大器并聯連接；
所述第三運算放大器的負極輸入端分別與所述第四電阻R3、所述第五電阻R4和所述第二電容C2連接；
所述第三運算放大器的正極輸入端分別于所述第七電阻R5、所述第八電阻R7連接；
所述第三運算放大器的第二輸出端分別與所述第五電阻R4、所述第二電容C2和所述第六電阻R6連接；
所述第六電阻R6通過所述第七電阻R5與所述第八電阻R7連接；
所述電壓轉電流模塊的第三輸出端分別與所述第六電阻R6、所述第七電阻R5連接。
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