[發明專利]一種基于物聯網的主板AOI檢測方法有效
| 申請號: | 202110373103.2 | 申請日: | 2021-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN113052829B | 公開(公告)日: | 2022-06-28 |
| 發明(設計)人: | 魯偉;李文科;曾風平;劉文;徐思通 | 申請(專利權)人: | 深圳市磐鋒精密技術有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/90;G06T7/62 |
| 代理公司: | 深圳市道勤知酷知識產權代理事務所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;呂詩 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明區光明街道*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 聯網 主板 aoi 檢測 方法 | ||
本發明公開了一種基于物聯網的主板AOI檢測方法,涉及主板AOI檢測技術領域,解決了現有技術中不能夠對圖像進行處理導致主板檢測不準確的技術問題,通過高分辨率的電荷耦合器件對待檢測主板進行圖像獲取,并將對應的圖像標記為待檢測圖像,隨后對待檢測圖像進行圖像處理,同時通過高分辨率的電荷耦合器件獲取到檢測正常主板的圖像,并將其標記為標準圖像,將待檢測圖像與標準圖像進行比對;圖像分割定位,將待檢測圖像和標準圖像進行圖像分割,隨后對待檢測圖像和標準圖像進行二次比對,對待檢測主板進行圖像獲取并對獲取的圖像進行處理,提高了主板檢測的準確性能,同時能夠給主板檢測帶來便利,提高了主板檢測的工作效率。
技術領域
本發明涉及主板AOI檢測技術領域,具體為一種基于物聯網的主板AOI檢測方法。
背景技術
電子技術發展越來越趨向小型化發展,為了滿足這樣的需求,主板也一定向微型化這個方向努力,所以主板上的線路越米越小的趨勢進行,因此適應這種發展趨勢,AOI技術有飛速的發展,AOI能較好地解決PCB生產中的質量檢測問題,但對于國外的AOI設備,因為它的設備利用了多攝像頭技術,功能十分強大;
而在現有技術中,AOI檢測過程中不能夠對圖像進行處理,導致主板檢測不準確,提高了檢測成本。
發明內容
本發明的目的就在于提出一種基于物聯網的主板AOI檢測方法,通過高分辨率的電荷耦合器件對待檢測主板進行圖像獲取,并將對應的圖像標記為待檢測圖像,隨后對待檢測圖像進行圖像處理,同時通過高分辨率的電荷耦合器件獲取到檢測正常主板的圖像,并將其標記為標準圖像,將待檢測圖像與標準圖像進行比對;圖像分割定位,將待檢測圖像和標準圖像進行圖像分割,獲取待檢測圖像和標準圖像的特征信息,并將其進行比較,隨后對待檢測圖像和標準圖像進行二次比對,對待檢測主板進行圖像獲取并對獲取的圖像進行處理,提高了主板檢測的準確性能,同時能夠給主板檢測帶來便利,提高了主板檢測的工作效率。
本發明的目的可以通過以下技術方案實現:
一種基于物聯網的主板AOI檢測方法,主板AOI檢測方法具體步驟如下:
步驟一、圖像采集處理,通過高分辨率的電荷耦合器件對待檢測主板進行圖像獲取,并將對應的圖像標記為待檢測圖像,隨后對待檢測圖像進行圖像處理,同時通過高分辨率的電荷耦合器件獲取到檢測正常主板的圖像,并將其標記為標準圖像,將待檢測圖像與標準圖像進行比對;
步驟二、圖像分割定位,將待檢測圖像和標準圖像進行圖像分割,獲取待檢測圖像和標準圖像的特征信息,并將其進行比較,隨后對待檢測圖像和標準圖像進行二次比對,特征信息包括對應圖像的亮度和飽和度;對待檢測主板進行圖像獲取并對獲取的圖像進行處理,提高了主板檢測的準確性能,同時能夠給主板檢測帶來便利,提高了主板檢測的工作效率;
步驟三、缺陷檢測,將待檢測圖像與標準圖像進行比較,對待檢測圖形進行短路檢測和劃痕檢測;通過圖像的比較獲取到待檢測主板的缺陷,提高了缺陷檢測的準確性能;
步驟四、線路檢測,對待檢測圖像內的線路進行線寬檢測和線距檢測;更加快速高效的檢測出主板的缺陷,防止出現主板運行過程中發生線路故障,導致工作效率降低;
步驟一中圖像采集處理的具體步驟如下:
步驟S1:通過高分辨率的電荷耦合器件對待檢測主板進行圖像獲取,并將對應的圖像標記為待檢測圖像,隨后對待檢測圖像進行圖像處理,同時通過高分辨率的電荷耦合器件獲取到檢測正常主板的圖像,并將其標記為標準圖像,其中,待檢測主板和標準主板型號相同;
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