[發明專利]基準定位點設定錯位加工孔的方法

有效

• 申請號: 202110369213.1
• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號: CN113102804B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 蔣國華;楊慶明;潘明強
• 申請（專利權）人: 常州寶菱重工機械有限公司
• 主分類號: B23B49/00
• 分類號: B23B49/00;B23B41/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種基準定位點設定錯位加工孔的方法，S1，通過第一基準和第二基準建立公共中心線設定平面X軸及Y軸的起始坐標，以該起始坐標為基準確定各組凸緣上的第一孔和第二孔的起始加工中心坐標；S2，半精鏜各個第一孔和第二孔；S3，采用三坐標檢測儀檢測各個半精鏜后的第一孔和第二孔的中心坐標；S4，根據檢測得到的半精鏜后的第一孔和第二孔的中心坐標，對第一孔進行精鏜，對第二孔進行試鏜，采用三坐標檢測儀檢測精鏜后的第一孔的坐標，以及第二孔的坐標；S5，以三坐標檢測儀檢測的偏差調整鏜桿的坐標對第二孔進行錯位精鏜。本發明能夠提升兩個位于同一軸線上的離散孔的加工精度。

技術領域

本發明涉及鍵槽加工技術領域，特別涉及一種基準定位點設定錯位加工孔的方法。

背景技術

眾所周知，機械加工行業中對任何產品的加工均必須要通過不同的加工設備來達到要求，而加工設備的本體精度更是保證被加工產品質量的前提，繼而在企業中對于高精度、超范圍的產品來說由于企業的特性或加工設備由于多年的使用而精度下降來說用常規方法是無法達到產品使用質量的。

例如，如圖1和圖2中的工件1，該工件1的周面上設有多組凸緣和多個空心柱體2，這些空心柱體2與每組凸緣沿著工件1的周向交替布置，各組凸緣包括上凸緣3、下凸緣4，上凸緣3上設有第一孔5，下凸緣4上設有第二孔6，其中第一孔5為通孔，第二孔6為盲孔。針對上述工件1中的第一孔5和第二孔6的加工一般均采用立式鏜削或臥式鏜削，加工設備的精度直接影響產品的質量。

然而，我國在驗收加工設備時的標準(GB/T19362.1—2003)ab的間距300mm時允許的公差為0.02mm(如圖3所示)，按照上述計算原則,如圖4所示，第一孔5和第二孔6間距為H(H為981mm)時允許的公差要求僅為位置度為0.05/2＝0.025，眾所周知，一般企業的設備在實際運行中已經是難以達到設備驗收要求，何況一些設備經過多年的運行，各部分配合面難免有不同程度的磨損。經檢測現有準備加工的龍門銑(MVR35)實際精度在H1(H1為300mm)間距上第一誤差L1為0.025mm，轉化計算在間距為H時的第二誤差為L2，L2的實測值為0.0793mm。因此，現有的加工設備無法滿足允許的公差要求。

發明內容

本發明提供一種基準定位點設定錯位加工孔的方法，本發明能夠提升兩個位于同一軸線上的離散孔的加工精度。

基準定位點設定錯位加工孔的方法，包括以下步驟：

S1，以工件一端的外圓為第一基準，以工件另一端的外圓為第二基準，通過第一基準和第二基準建立公共中心線設定平面X軸及Y軸的起始坐標，以該起始坐標為基準確定各組凸緣上的第一孔和第二孔的起始加工中心坐標；

S2，根據步驟S1中確定的各個第一孔和第二孔的起始加工中心坐標，半精鏜各個第一孔和第二孔，并留精鏜余量；

S3，以步驟S1中設置的平面X軸及Y軸的起始坐標作為基準，采用三坐標檢測儀檢測各個半精鏜后的第一孔和第二孔的中心坐標；

S4，根據檢測得到的半精鏜后的第一孔和第二孔的中心坐標，對第一孔進行精鏜，對第二孔進行試鏜，采用三坐標檢測儀檢測精鏜后的第一孔的坐標，以及第二孔的坐標；

S5，以步驟S4中三坐標檢測儀檢測精鏜第一孔及第二孔試鏜的坐標偏差為根本，以精鏜后第一孔的坐標為基準，以三坐標檢測儀檢測的偏差調整鏜桿的坐標對第二孔進行錯位精鏜。

進一步地，步驟S4中，所述對第二孔的試鏜是指對第二孔的一部分進行精鏜，以供三坐標檢測儀檢測檢測出第一孔與第二孔的坐標偏差。

進一步地，精鏜第二孔的一部分是指精鏜第二孔的孔口至孔內8至12mm的部分。

本發明的優點為：