[發明專利]芯片及其使用方法

在審

• 申請號: 202110368348.6
• 申請日: 2021-04-06
• 公開（公告）號: CN113190386A
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 蔣義冠;許明亮
• 申請（專利權）人: 深圳市紫光同創電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市智圈知識產權代理事務所(普通合伙) 44351
• 代理人: 周獻

本申請實施例公開了一種芯片及其使用方法，涉及電子技術領域。其中，該芯片包括：存儲單元、數據處理單元、測試控制單元以及檢測設備，其中，所述數據處理單元與所述存儲單元連接，用于從上位機中獲取配置信息并將所述配置信息存儲到所述存儲單元；所述測試控制單元與所述數據處理單元連接，用于通過所述數據處理單元從所述存儲單元獲取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待測試芯片；所述檢測設備分別與所述測試控制單元和所述待測試芯片連接，用于對被配置后的待測試芯片進行檢測，以得到測試數據。本申請能夠有效提升了測試效率、降低了測試成本。

技術領域

本申請涉及電子技術領域，更具體地，涉及一種芯片及其使用方法。

背景技術

隨著集成電路產業的快速發展，集成電路芯片的測試成本所占比例不斷攀升，集成電路設計公司在芯片設計和生產出來后往往需要尋找專業芯片測試機對芯片進行測試，以識別并挑選出壞片，只有通過測試的合格芯片才可以銷售使用。

然而，目前國內對芯片的測試普遍還是處于人工測試的階段，從而導致測試成本較高、測試效率低下。

發明內容

鑒于上述問題，本申請提出了一種芯片及其使用方法，以解決或部分解決上述問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種芯片，該芯片包括：存儲單元、數據處理單元、測試控制單元以及檢測設備，其中：數據處理單元與存儲單元連接，用于從上位機中獲取配置信息并將配置信息存儲到存儲單元；測試控制單元與數據處理單元連接，用于通過數據處理單元從存儲單元獲取配置信息，并基于配置信息配置待測試芯片；檢測設備分別與測試控制單元和待測試芯片連接，用于對被配置后的待測試芯片進行檢測，以得到測試數據。

第二方面，本申請實施例提供了一種芯片使用方法，該芯片使用方法應用于第一方面的芯片，該芯片使用方法包括：控制測試控制單元通過數據處理單元從存儲單元中獲取預先存儲的配置信息，并根據配置信息對待測試芯片進行配置；獲取待測試芯片的配置狀態；若待測試芯片的配置狀態為指定狀態，通過檢測設備對處于指定狀態下的待測試芯片進行測試，得到測試數據。

本申請實施例提供的芯片及其使用方法，通過存儲單元、數據處理單元、測試控制單元以及檢測設備搭建的芯片，其中：數據處理單元與存儲單元連接，用于從上位機中獲取配置信息并將配置信息存儲到存儲單元；測試控制單元與數據處理單元連接，用于通過數據處理單元從存儲單元獲取配置信息，并基于配置信息配置待測試芯片；檢測設備分別與測試控制單元和待測試芯片連接，用于對被配置后的待測試芯片進行檢測，以得到測試數據，從而實現了對芯片的自動化測試，提升了測試效率，減少人工介入，確保了測試數據的可靠性和穩定性。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1示出了根據本申請實施例提供的芯片的結構示意圖。

圖2示出了根據本申請實施例提供的芯片的具體框架示意圖。

圖3示出了根據本申請實施例提供的測試控制單元的結構示意圖。

圖4示出了根據本申請實施例提供的數據處理單元的結構示意圖。

圖5示出了根據本申請一個實施例提供的芯片使用方法流程圖。

圖6示出了根據本申請另一個實施例提供的芯片使用方法流程圖。

圖7示出了根據本申請又一個實施例提供的芯片使用方法流程圖。

圖8示出了根據本申請實施例提供的芯片使用方法的實施流程圖。

圖9示出了根據本申請再一個實施例提供的芯片使用方法流程圖。