[發明專利]電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法、裝置及相關設備在審
| 申請號: | 202110346070.2 | 申請日: | 2021-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN113284086A | 公開(公告)日: | 2021-08-20 |
| 發明(設計)人: | 林嘉鑫;賴蔚蔚;吳廣財;鄭杰生;鄭穎龍;周昉昉;劉佳木;陳穎璇 | 申請(專利權)人: | 廣東電力信息科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 深圳市華優知識產權代理事務所(普通合伙) 44319 | 代理人: | 余薇 |
| 地址: | 510000 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電力 稀缺 缺陷 圖像 生成 檢測 方法 裝置 相關 設備 | ||
1.一種電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取第一缺陷絕緣子圖像以及完整絕緣子圖像,并根據所述第一缺陷絕緣子圖像將所述完整絕緣子圖像轉換為缺陷絕緣子圖像,得到樣本缺陷絕緣子圖像;
將所述完整絕緣子圖像以及所述樣本缺陷絕緣子圖像訓練缺陷絕緣子檢測模型,得到訓練好的缺陷絕緣子檢測模型;
將待檢測圖像輸入到所述訓練好的缺陷絕緣子檢測模型進行檢測。
2.如權利要求1所述的電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一缺陷絕緣子圖像將所述完整絕緣子圖像轉換為缺陷絕緣子圖像,得到樣本缺陷絕緣子圖像,包括:
對所述第一缺陷絕緣子圖像進行擴充,得到第二缺陷絕緣子圖像;
根據所述第二缺陷絕緣子圖像將所述完整絕緣子圖像轉換為缺陷絕緣子圖像,得到第三缺陷絕緣子圖像;
基于所述第三缺陷絕緣子圖像,得到樣本缺陷絕緣子圖像。
3.如權利要求2所述的電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法,其特征在于,所述對所述第一缺陷絕緣子圖像進行擴充,得到第二缺陷絕緣子圖像,包括:
通過數據增強方式對所述第一缺陷絕緣子圖像進行擴充,得到第二缺陷絕緣子圖像。
4.如權利要求2所述的電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法,其特征在于,所述根據所述第二缺陷絕緣子圖像將所述完整絕緣子圖像轉換為缺陷絕緣子圖像,得到第三缺陷絕緣子圖像,包括:
根據所述第二缺陷絕緣子圖像,劃分第一樣本集,根據所述完整絕緣子圖像劃分第二樣本集;
根據所述第一樣本集與所述第二樣本集訓練缺陷絕緣子圖像生成網絡,得到訓練好的缺陷絕緣子圖像生成網絡;
將所述完整絕緣子圖像輸入到所述訓練好的缺陷絕緣子圖像生成網絡,得到第三缺陷絕緣子圖像。
5.如權利要求4所述的電力稀缺缺陷圖像生成及檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一樣本集與所述第二樣本集訓練缺陷絕緣子圖像生成網絡,得到訓練好的缺陷絕緣子圖像生成網絡,包括:
構建生成式對抗網絡,所述生成式對抗網絡包括第一生成網絡、第二生成網絡、第一判別網絡以及第二判別網絡;對所述生成式對抗網絡的訓練包括循環的第一階段與第二階段;
其中,所述第一階段包括:
通過所述第一生成網絡,將第二樣本集中的完整絕緣子圖像轉換為第一生成缺陷絕緣子圖像;
通過第一判別網絡對所述第一生成缺陷絕緣子圖像與第一樣本集中的缺陷絕緣子圖像進行判別,并通過第一判別網絡中的第一損失函數對所述第一判別網絡進行參數調整;
通過所述第二生成網絡,將所述第一生成缺陷絕緣子圖像轉換為第一生成完整絕緣子圖像;
通過第一損失函數,計算第一生成完整絕緣子圖像與所述第二樣本集中的完整絕緣子圖像之間的第二損失,并根據所述第一損失調整所述第一生成網絡、第二生成網絡的參數;
所述第二階段包括:
通過所述第二生成網絡,將第一樣本集中的缺陷絕緣子圖像轉換為第二生成完整絕緣子圖像;
通過第二判別網絡對所述第二生成完整絕緣子圖像與第二樣本集中的完整絕緣子圖像進行判別,并通過第二判別網絡中的第三損失函數對所述第二判別網絡進行參數調整;
通過所述第一生成網絡,將所述第二生成完整絕緣子圖像轉換為第二生成缺陷絕緣子圖像;
通過第四損失函數,計算第二生成缺陷絕緣子圖像與所述第一樣本集中的缺陷絕緣子圖像之間的第四損失,并根據所述第四損失調整所述第一生成網絡、第二生成網絡的參數;
循環迭代所述第一階段與所述第二階段,完成訓練后,取所述第一生成網絡作為目標生成網絡。
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