[發(fā)明專利]小目標(biāo)物檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110345419.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113222890B | 公開(公告)日: | 2023-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賴柏霖;吳宥萱;白曉宇;黃凌云;周曉云;亞當(dāng)·哈里森;呂樂;肖京 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 平安科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司: | 深圳市沃德知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44347 | 代理人: | 高杰;于志光 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田區(qū)福*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo) 檢測(cè) 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種小目標(biāo)物檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取原始圖像,對(duì)所述原始圖像進(jìn)行目標(biāo)物標(biāo)注,得到標(biāo)注圖像;
利用預(yù)構(gòu)建的分割算法對(duì)所述標(biāo)注圖像進(jìn)行圖像分割,得到分割圖像;
利用所述分割圖像訓(xùn)練預(yù)構(gòu)建的分割網(wǎng)絡(luò),得到圖像分割模型;
利用所述圖像分割模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行目標(biāo)物檢測(cè),得到候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果;
對(duì)所述候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行腐蝕及膨脹處理,得到目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果;
其中,所述對(duì)所述原始圖像進(jìn)行目標(biāo)物標(biāo)注,得到標(biāo)注圖像,包括:基于所述原始圖像中的原始標(biāo)注生成外接橢圓;基于所述外接橢圓,生成與所述原始圖像的邊平行或垂直的外接矩形,并以所述外接矩形作為標(biāo)注,生成包含所述外接矩形的標(biāo)注圖像;
所述利用預(yù)構(gòu)建的分割算法對(duì)所述標(biāo)注圖像進(jìn)行圖像分割,得到分割圖像,包括:將所述標(biāo)注圖像中外接矩形之外的區(qū)域設(shè)置為背景區(qū)域,及將所述外接矩形中原始標(biāo)注內(nèi)的區(qū)域設(shè)置為前景區(qū)域;基于所述背景區(qū)域及所述前景區(qū)域構(gòu)造分割函數(shù),利用所述分割函數(shù)對(duì)所述標(biāo)注圖像進(jìn)行圖像分割,得到所述分割圖像,其中,所述分割圖像中包括分割區(qū)域;
所述利用所述分割圖像訓(xùn)練預(yù)構(gòu)建的分割網(wǎng)絡(luò),得到圖像分割模型,包括:以所述分割區(qū)域作為偽標(biāo)注,利用所述分割網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)所述分割圖像中每個(gè)分割區(qū)域位置的概率及每個(gè)分割區(qū)域位置的標(biāo)注;利用所述每個(gè)分割區(qū)域位置的概率及每個(gè)分割區(qū)域位置的標(biāo)注構(gòu)建總損失函數(shù);利用預(yù)構(gòu)建的優(yōu)化器對(duì)所述總損失函數(shù)進(jìn)行梯度優(yōu)化,直到所述總損失函數(shù)的輸出值滿足預(yù)設(shè)的閾值時(shí),生成所述圖像分割模型;
所述總損失函數(shù),包括:
Loss=LTversky+Ldis
其中,LTversky為特沃斯基損失,Ldis為距離損失,Loss為總損失函數(shù),pk和yk分別表示輸出中每個(gè)預(yù)測(cè)位置的概率和每個(gè)預(yù)測(cè)位置對(duì)應(yīng)的標(biāo)注,dk表示每個(gè)預(yù)測(cè)位置到標(biāo)注中最近的分割區(qū)域邊界的距離,Ω表示所有像素點(diǎn)的個(gè)數(shù),λ1、λ2為超參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的小目標(biāo)物檢測(cè)方法,其特征在于,所述利用所述圖像分割模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行目標(biāo)物檢測(cè),得到候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果,包括:
利用所述圖像分割模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行目標(biāo)物分割,得到目標(biāo)物分割區(qū)域;
匯總所有的目標(biāo)物分割區(qū)域,得到目標(biāo)物分割集合,并將所述目標(biāo)物分割集合作為候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果。
3.如權(quán)利要求2所述的小目標(biāo)物檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)所述候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行腐蝕及膨脹處理,得到目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果,包括:
利用預(yù)設(shè)大小的矩形區(qū)域依次對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行區(qū)域選取,得到腐蝕區(qū)域;
依次將所述腐蝕區(qū)域中的目標(biāo)物分割區(qū)域設(shè)為背景,得到腐蝕圖像;
利用所述矩形區(qū)域依次對(duì)所述腐蝕圖像進(jìn)行區(qū)域選取,得到膨脹區(qū)域;
依次將所述膨脹區(qū)域中的背景像素點(diǎn)設(shè)為目標(biāo)物檢測(cè)區(qū)域,并選取滿足預(yù)設(shè)大小的所述目標(biāo)物檢測(cè)區(qū)域作為所述目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果。
4.一種小目標(biāo)物檢測(cè)裝置,用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的小目標(biāo)物檢測(cè)方法,其特征在于,所述裝置包括:
圖像標(biāo)注模塊,用于獲取原始圖像,對(duì)所述原始圖像進(jìn)行目標(biāo)物標(biāo)注,得到標(biāo)注圖像;
圖像分割模塊,用于利用預(yù)構(gòu)建的分割算法對(duì)所述標(biāo)注圖像進(jìn)行圖像分割,得到分割圖像;
模型訓(xùn)練模塊,用于利用所述分割圖像訓(xùn)練預(yù)構(gòu)建的分割網(wǎng)絡(luò),得到圖像分割模型;
目標(biāo)物檢測(cè)模塊,用于利用所述圖像分割模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行目標(biāo)物檢測(cè),得到候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果;
目標(biāo)物選取模塊,用于對(duì)所述候選目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行腐蝕及膨脹處理,得到目標(biāo)物檢測(cè)結(jié)果。
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