[發明專利]電源測試開關電路及其驅動方法和電源測試開關系統

在審

• 申請號: 202110337964.5
• 申請日: 2021-03-30
• 公開（公告）號: CN113054974A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 朱寧
• 申請（專利權）人: 展訊通信（上海）有限公司
• 主分類號: H03K17/687
• 分類號: H03K17/687
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 汪源

本發明實施例提供了一種電源測試開關電路及其驅動方法和電源測試開關系統。該電路中第一開關模塊在第二導通方向上導通，第二開關模塊在第一導通方向上導通，第一導通方向和第二導通方向相反；第一開關模塊的第一端連接至第一端子，第一開關模塊的第二端連接至第二開關模塊的第一端，第一開關模塊的控制端連接至第一節點；第二開關模塊的第二端連接至第二端子，第二開關模塊的控制端連接至第一節點；控制模塊的第一端連接至第一節點，控制模塊的第二端接地，控制模塊的控制端連接至第三端子；控制模塊用于控制第一開關模塊在第一導通方向上導通且第二開關模塊在第二導通方向上導通。本發明實施例實現了可靠性高且開關速度快的可控開關。

【技術領域】

本發明涉及電源測試領域，尤其涉及一種電源測試開關電路及其驅動方法和電源測試開關系統。

【背景技術】

電源管理芯片(Power Management IC，簡稱PMIC)作為給手機系統供電的芯片時，對穩定性要求非常高，新的PMIC在設計成型后需要進行上千次甚至幾萬次的壓力測試和功能測試才能應用到項目產品上，因此需要一個可靠性高且響應及時的可控開關在測試過程中對PMIC進行控制。

相關技術中，通常采用程控電源或者繼電器實現可控開關的功能。程控電源的開關瞬態響應的時間為幾十至幾百us甚至達到ms級別，響應時間慢，造成開關速度慢；程控電源有內阻，無法完全模擬電源斷開。繼電器的開關時間為5ms至10ms，開關瞬態響應的時間更大，開關速度慢；繼電器的開關壽命在百萬次，使用壽命有限制；繼電器體積大。

【發明內容】

有鑒于此，本發明實施例提供了一種電源測試開關電路及其驅動方法和電源測試開關系統，用于實現可靠性高且開關速度快的可控開關。

第一方面，本發明實施例提供了一種電源測試開關電路，包括：第一開關模塊、第二開關模塊、控制模塊、第一端子、第二端子和第三端子，所述第一開關模塊在第二導通方向上導通，所述第二開關模塊在第一導通方向上導通，所述第一導通方向和所述第二導通方向相反；

所述第一開關模塊的第一端連接至所述第一端子，所述第一開關模塊的第二端連接至所述第二開關模塊的第一端，所述第一開關模塊的控制端連接至第一節點；

所述第二開關模塊的第二端連接至所述第二端子，所述第二開關模塊的控制端連接至所述第一節點；

所述控制模塊的第一端連接至第一節點，所述控制模塊的第二端接地，所述控制模塊的控制端連接至所述第三端子；

所述控制模塊用于控制所述第一開關模塊在所述第一導通方向上導通且所述第二開關模塊在所述第二導通方向上導通。

在一種可能的實現方式中，所述第一開關模塊為第一PMOS晶體管，所述第二開關模塊為第二PMOS晶體管。

在一種可能的實現方式中，所述第一PMOS的第一端為源極，所述第一PMOS的第二端為漏極；

所述第二PMOS的第一端為漏極，所述第二PMOS的第二端為源極。

在一種可能的實現方式中，所述控制模塊為NMOS晶體管。

在一種可能的實現方式中，所述NMOS晶體管的第一端為漏極，所述NMOS晶體管的第二端為源極。

在一種可能的實現方式中，還包括下拉電阻，所述下拉電阻的一端連接至第二節點，所述下拉電阻的另一端接地；

所述第三端子和所述NMOS晶體管的控制端均連接至所述第二節點。

在一種可能的實現方式中，所述第一端子包括USB接口、Type-C接口或者鱷魚夾；

所述第二端子包括USB接口、Type-C接口或者鱷魚夾。