[發(fā)明專利]一種制造微電子集成電路元件的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110334525.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113078104A | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 惠保鑫;張溢博 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 青島科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;H01L21/28 |
| 代理公司: | 泰州淘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32365 | 代理人: | 胡煒晨 |
| 地址: | 266061 山東省青島市*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 制造 微電子 集成電路 元件 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種制造微電子集成電路元件的方法,包括準(zhǔn)備載體基片、具有集成電路的微電子管芯;準(zhǔn)備載體基片和管芯之間的無(wú)流動(dòng)底部填充材料;通過預(yù)加熱無(wú)流動(dòng)底部填充材料改善無(wú)流動(dòng)底部填充材料的潤(rùn)濕和流動(dòng)特性;形成一護(hù)層覆蓋于載體基片上,形成掩膜層;移除部分該護(hù)層,留下部分位于其上,形成犧牲層;形成定高層,定高層位于犧牲層的上表面上的下表面。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及微電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種制造微電子集成電路元件的方法。
背景技術(shù)
微電子技術(shù)是一門作用于半導(dǎo)體上的微小型集成電路系統(tǒng)的學(xué)科。微電子技術(shù)的關(guān)鍵在于研究集成電路的工作方式以及如何實(shí)際制造應(yīng)用。
集成電路的發(fā)展依賴于半導(dǎo)體器件的不斷演化。微電子技術(shù)可在納米級(jí)超小的區(qū)域內(nèi)通過固體內(nèi)的微觀電子運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)信息的處理與傳遞,并且有著很好的集成性。
從本質(zhì)上來看,微電子技術(shù)的核心在于集成電路,它是在各類半導(dǎo)體器件不斷發(fā)展過程中所形成的。在信息化時(shí)代下,微電子技術(shù)對(duì)人類生產(chǎn)、生活都帶來了極大的影響。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
為了克服現(xiàn)有技術(shù)不足,現(xiàn)提出一種制造微電子集成電路元件的方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
(二)技術(shù)方案
本發(fā)明通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):本發(fā)明提出了一種制造微電子集成電路元件的方法,其特征在于:包括如下步驟:
S1:準(zhǔn)備載體基片、具有集成電路的微電子管芯;
S2:準(zhǔn)備載體基片和管芯之間的無(wú)流動(dòng)底部填充材料;
S3:通過預(yù)加熱無(wú)流動(dòng)底部填充材料改善無(wú)流動(dòng)底部填充材料的潤(rùn)濕和流動(dòng)特性;
S4:形成一護(hù)層覆蓋于載體基片上,形成掩膜層;
S5:移除部分該護(hù)層,留下部分位于其上,形成犧牲層;
S6:形成定高層,定高層位于犧牲層的上表面上的下表面。
進(jìn)一步而言,無(wú)流動(dòng)底部填充材料在與微電子管芯或載體基片相接觸前被預(yù)加熱。
進(jìn)一步而言,通過將無(wú)流動(dòng)底部填充材料分配到載體基片上并隨后鄰近于無(wú)流動(dòng)底部填充材料以裝配結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步而言,通過將無(wú)流動(dòng)底部填充材料分配到微電子管芯上并隨后鄰近于無(wú)流動(dòng)底部填充材料以裝配結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步而言,形成一柵極介電層于其上方。
進(jìn)一步而言,形成一柵極電極層于其上方。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
本發(fā)明提出了一種制造微電子集成電路元件的方法,其特征在于:包括如下步驟:
S1:準(zhǔn)備載體基片、具有集成電路的微電子管芯;
S2:準(zhǔn)備載體基片和管芯之間的無(wú)流動(dòng)底部填充材料;
S3:通過預(yù)加熱無(wú)流動(dòng)底部填充材料改善無(wú)流動(dòng)底部填充材料的潤(rùn)濕和流動(dòng)特性;
S4:形成一護(hù)層覆蓋于載體基片上,形成掩膜層;
S5:移除部分該護(hù)層,留下部分位于其上,形成犧牲層;
S6:形成定高層,定高層位于犧牲層的上表面上的下表面。
第一實(shí)施例:
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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