[發明專利]一種顯微分光光度計的載片治具及透鏡的多點測試方法

在審

• 申請號: 202110322280.8
• 申請日: 2021-03-25
• 公開（公告）號: CN113049510A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 戰永剛;陳合金;馮紅濤;戰捷;尹強
• 申請（專利權）人: 深圳市三束鍍膜技術有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 劉曰瑩

1.一種顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，包括：底座、X軸轉動部、Z軸轉動部和鏡片夾具，其中，

所述X軸轉動部包括：轉動塊和兩第一緊固件，所述轉動塊上設有一Z向的通孔；

所述底座上設有兩支撐架，兩第一緊固件可將所述轉動塊鎖緊于兩支撐架之間；

所述Z軸轉動部包括：轉動軸、載片臺和兩第二緊固件，所述載片臺設于所述轉動軸上，所述轉動軸可轉動地設于所述Z向通孔內，兩第二緊固件穿過所述轉動塊可將所述Z軸轉動部鎖緊于所述轉動塊上；所述鏡片夾具卡設于所述載片臺上。

2.根據權利要求1所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，所述Z軸轉動部還包括一轉盤，所述轉盤固定于所述載片臺的下方，所述轉盤的直徑大于所述載片臺的直徑。

3.根據權利要求1或2所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，所述轉動軸上還橫向設有一圈凹槽，所述凹槽對應所述第二緊固件設置。

4.根據權利要求1所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，兩所述支撐架的頂面上沿X軸方向各設有第一指示線，所述轉動塊的與兩支撐架相對的兩面上設有第二指示線，所述第一指示線和所述第二指示線相配合指示所述轉動塊的轉動角度。

5.根據權利要求2所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，所述轉動塊的頂面上沿X軸設有第三刻度線，所述轉盤上設有第四刻度線，所述第三刻度線和所述第四刻度線相配合指示所述轉動軸的轉動角度。

6.根據權利要求1所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，所述鏡片夾具包括：底板、多個彈性夾和多個限位夾，每一所述彈性夾具有向內彎曲的弧度，每一所述彈性夾一端設于所述底板上，另一端延伸至所述底板下方，每一所述限位夾一端設有卡扣，每一所述限位夾固定于所述底板的邊緣處，每一所述卡扣朝向所述底板的中心設置。

7.根據權利要求6所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，至少一所述卡扣為一彈性件。

8.權利要求1所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，所述第一緊固件和所述第二緊固件均為緊固螺釘。

9.一種透鏡的多點測試方法，其特征在于，通過權利要求1-8任一項所述的顯微分光光度計的載片治具完成，包括以下步驟：

步驟S10、調整所述X軸轉動部和所述Z軸轉動部處于初始狀態；

步驟S20、將透鏡安裝于鏡片夾具上，測試C點的反射光譜；

步驟S30、選定透鏡上的一測試點A點，調整轉動塊使透鏡表面該點處的法線與測試光線平行，固定轉動塊；

S40、移動載片治具，使A點處于測試光線的光斑上，測試A點的反射光譜；

S50、調整轉動軸，使透鏡上B點處于測試光線的光斑上，測試B點的反射光譜。

10.根據權利要求9所述的顯微分光光度計的載片治具，其特征在于，還包括：

步驟S60、重復步驟S50，依次測試多個與A點和B點處于同一圓周上的多個點的反射光譜。