[發(fā)明專利]一種基于嵌入式平臺特點改進的目標檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110319663.X | 申請日: | 2021-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN113033661A | 公開(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 牛軍浩;蘇金操;王文勝;駱薇羽;許川佩 | 申請(專利權)人: | 桂林電子科技大學 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06N5/04 |
| 代理公司: | 桂林文必達專利代理事務所(特殊普通合伙) 45134 | 代理人: | 張學平 |
| 地址: | 541004 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 嵌入式 平臺 特點 改進 目標 檢測 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于嵌入式平臺特點改進的目標檢測方法,通過選擇yolo作為整體結構構建目標檢測模型,以CSPDarknet53作為骨干網(wǎng)絡BackBone提取圖像特征,利用所述Batch Group Normalization將新維度劃分為特征組,計算整個小批和特征組,在所述Neck層只選取P3,P4,P5進行計算,結合內(nèi)存訪問速度、內(nèi)存帶寬、DRAM速度的影響,提出更適合嵌入式平臺輕量型模型,結合實際嵌入式平臺的運算資源設計一個結構更簡單,檢測速度也更快的檢測方法。
技術領域
本發(fā)明涉及計算機視覺技術領域,尤其涉及一種基于嵌入式平臺特點改進的目標檢測方法。
背景技術
隨著深度學習的發(fā)展,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡不斷與一些傳統(tǒng)的算法相融合,并引入遷移學習方法,2006年,Hinton等人在《Science》上發(fā)文,要點是多隱層的人工神經(jīng)網(wǎng)絡特征學習能力優(yōu)秀,學習到的特征更能反映數(shù)據(jù)的本質關聯(lián)性:“逐層預訓練”可有效克服深層神經(jīng)網(wǎng)絡在訓練上的困難。2014年Girshick設計了R-CNN模型,該模型在PASCAL VOC上進行目標檢測,相較于傳統(tǒng)的目標檢測方法,檢測準確度評估指標平均準確率均值(mean AveragePrecision,mAP)提高約20%,達到了62.4%。目前已經(jīng)出現(xiàn)了很多算法(或者訓練技巧,tricks)來提升神經(jīng)網(wǎng)絡的準確率。
Yolo-V4的主要目的在于設計一個能夠應用于實際工作環(huán)境中的快速目標檢測系統(tǒng),且能夠被并行優(yōu)化,并沒有很刻意的去追求理論上的低計算量,所帶來的數(shù)據(jù)量也是成指數(shù)級的增長,并且沒有考慮到方法的復雜性和計算效率,以致需要依賴高功耗的計算平臺,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡參數(shù)量大,完成一次目標檢測任務需要做大量的數(shù)據(jù)存取以及至少上億次的迭代運算,在嵌入式平臺的實時應用領域,存儲空間和計算開銷成為卷積神經(jīng)網(wǎng)絡發(fā)展的阻礙。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于嵌入式平臺特點改進的目標檢測方法,旨在結合實際嵌入式平臺的的運算資源設計一個結構更簡單,檢測速度也更快的檢測方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的一種基于嵌入式平臺特點改進的目標檢測方法,包括下列步驟:
構建目標檢測模型;
選擇檢測目標,輸入所述目標檢測模型,提取淺層視覺特征;
增強所述淺層視覺特征,獲得特征組,優(yōu)化計算;
量化權重,輸出檢測結果。
其中,所述目標檢測模型包括由輸入端,BackBone層,Neck層和Pridiction層,所述輸入端,所述BackBone層,所述Neck層和所述Pridiction層依次連接設置。
其中,在選擇檢測目標,輸入所述目標檢測模型,提取淺層視覺特征的過程中,所述淺層視覺特征在所述BackBone層進行提取,所述BackBone層使用CSPDarknet53作為骨干網(wǎng)絡。
其中,在增強所述淺層視覺特征,獲得特征組,優(yōu)化計算的過程中,使用了BatchGroup Normalization作為歸一化方式,利用所述Batch Group Normalization將新維度劃分為特征組,計算整個小批和特征組的統(tǒng)計量。
其中,在利用所述Batch Group Normalization將新維度劃分為特征組,計算整個小批和特征組的統(tǒng)計量的過程中,包括下列步驟:
以特征組的形式劃分特征圖;
計算每個特征組的均值和方差統(tǒng)計;
用計算出的統(tǒng)計量歸一化每個特征組;
重新縮放并重新移動歸一化特征圖,保持深度卷積神經(jīng)的表示能力。
其中,所述Neck層使用PAnet,只選取P3,P4,P5進行計算。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于桂林電子科技大學,未經(jīng)桂林電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110319663.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





