[發(fā)明專利]一種用于快速離化器件的數(shù)值仿真方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110316014.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113076669A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁琳;黃鑫遠(yuǎn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F30/23 | 分類號(hào): | G06F30/23;G06F111/10 |
| 代理公司: | 武漢華之喻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42267 | 代理人: | 鄧彥彥;廖盈春 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 快速 器件 數(shù)值 仿真 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供一種用于快速離化器件的數(shù)值仿真方法及系統(tǒng),包括:確定快速離化器件的待仿真區(qū)域及其尺寸,利用相互垂直的線段將待仿真區(qū)域劃分為多個(gè)網(wǎng)格,根據(jù)各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)對(duì)應(yīng)的快速離化器件的摻雜情況賦予各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的摻雜濃度值;選用漂移擴(kuò)散模型及對(duì)應(yīng)的模型參數(shù),以及電子和空穴遷移率模型、復(fù)合率模型以及產(chǎn)生率模型求解快速離化器件動(dòng)態(tài)觸發(fā)過(guò)程中的器件特性;基于各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的摻雜濃度值,將漂移擴(kuò)散模型中的微分方程離散化,得到離散化處理后的漂移擴(kuò)散模型;基于離散化處理后的模型采用牛頓迭代法同時(shí)求解各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)上的器件特性參數(shù),以完成對(duì)器件動(dòng)態(tài)觸發(fā)過(guò)程中不同時(shí)刻的器件特性進(jìn)行數(shù)值仿真。本發(fā)明可以用于器件動(dòng)態(tài)過(guò)程的仿真。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體分析領(lǐng)域,更具體地,涉及一種用于快速離化器件的數(shù)值仿真方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
快速離化器件是非光控半導(dǎo)體器件中,導(dǎo)通速度最快的功率半導(dǎo)體器件,其在脈沖功率技術(shù)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。快速離化器件的導(dǎo)通機(jī)理是延遲雪崩擊穿現(xiàn)象,這種特殊的物理現(xiàn)象目前仍處于研究中。對(duì)于延遲雪崩擊穿現(xiàn)象的研究,需要憑借半導(dǎo)體器件的數(shù)值仿真,來(lái)對(duì)器件內(nèi)部的物理過(guò)程進(jìn)行模擬。此外,通過(guò)半導(dǎo)體器件的數(shù)值仿真,可以確定出器件的最佳特性參數(shù),進(jìn)而用于快速離化器件的生產(chǎn)制備。
半導(dǎo)體器件的數(shù)值仿真可以對(duì)半導(dǎo)體器件的特性進(jìn)行仿真預(yù)測(cè),是器件的設(shè)計(jì)中必不可少的重要工具,為器件的生產(chǎn)制備提供了指導(dǎo),可以降低器件的生產(chǎn)成本。
用于半導(dǎo)體器件模擬的軟件稱為TCAD(Technology Computer Aided Design)軟件,如今,世界上已有多款商用的TCAD軟件。然而,由于快速離化器件的導(dǎo)通機(jī)理尚處于研究階段,在研究過(guò)程中,對(duì)要求所使用的TCAD軟件有盡可能大的靈活性以及修改空間。目前商用的TCAD軟件,出于對(duì)軟件的保護(hù),程序的靈活性受限,給用戶提供的可修改空間非常小。因此,商用的TCAD軟件不適合用于快速離化器件的研究和數(shù)值仿真。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種用于快速離化器件的數(shù)值仿真方法及系統(tǒng),旨在解決現(xiàn)有軟件不適合用于快速離化器件仿真的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,第一方面,本發(fā)明提供了一種用于快速離化器件的數(shù)值仿真方法,包括如下步驟:
確定快速離化器件的待仿真區(qū)域及其尺寸,利用相互垂直的線段將待仿真區(qū)域劃分為多個(gè)網(wǎng)格,根據(jù)各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)對(duì)應(yīng)的快速離化器件的摻雜情況賦予各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的摻雜濃度值;
選用漂移擴(kuò)散模型及對(duì)應(yīng)的模型參數(shù),以及相關(guān)的電子和空穴遷移率模型、復(fù)合率模型以及產(chǎn)生率模型求解快速離化器件動(dòng)態(tài)觸發(fā)過(guò)程中的器件特性;
基于所述各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的摻雜濃度值,利用有限差分法將所述漂移擴(kuò)散模型中的微分方程離散化,得到離散化處理后的漂移擴(kuò)散模型;
基于離散化處理后的漂移擴(kuò)散模型采用牛頓迭代法同時(shí)求解各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)上的器件特性參數(shù),以完成對(duì)快速離化器件動(dòng)態(tài)觸發(fā)過(guò)程中不同時(shí)刻的器件特性進(jìn)行數(shù)值仿真。
在一個(gè)可選的示例中,所述快速離化器件的漂移擴(kuò)散模型為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華中科技大學(xué),未經(jīng)華中科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110316014.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 數(shù)值控制方法及數(shù)值控制系統(tǒng)
- 數(shù)值保存系統(tǒng)、數(shù)值保存方法、數(shù)值保存程序和交易系統(tǒng)
- 數(shù)值筆
- 數(shù)值控制機(jī)床及數(shù)值控制裝置
- 數(shù)值控制裝置和數(shù)值控制方法
- 數(shù)值控制裝置以及數(shù)值控制方法
- 數(shù)值控制裝置、數(shù)值控制方法以及數(shù)值控制程序
- 數(shù)值控制裝置、數(shù)值控制方法以及數(shù)值控制程序
- 數(shù)值控制裝置和數(shù)值控制系統(tǒng)
- 數(shù)值控制裝置和數(shù)值控制系統(tǒng)





