[發(fā)明專利]一種利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110312537.1 | 申請日： | 2021-03-24 |
| 公開（公告）號： | CN115128018A | 公開（公告）日： | 2022-09-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 屈迪;范柄辰;蔡金平;吳忠良;葉張瀚;李海科;陳禮賢;陳燈;詹孝傳;孫力凡;張進超;王雅琳;王寶 | 申請（專利權(quán)）人： | 福建福清核電有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 核工業(yè)專利中心 11007 | 代理人： | 呂巖甲 |
| 地址： | 350318*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 利用 gfaas 分析 核電站 回路 水中 方法 | ||
1.一種利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：配制硅標準使用溶液，原子吸收光譜儀自動將硅標準使用溶液稀釋為系列濃度標準溶液，使用硝酸鈀粉末配制出硝酸鈀基體改進劑；原子吸收光譜儀參數(shù)設(shè)定后依次自動吸入硝酸鈀基體改進劑和系列濃度標準溶液，注入原子吸收光譜儀的熱解涂層平臺石墨管中，啟動原子吸收光譜儀，待完成分析后自動記錄吸光度，繪制工作標準曲線；將樣品放入原子吸收光譜儀的自動進樣器中，啟動原子吸收光譜儀，依次進行分析，待分析完成后自動記錄吸光度并在工作標準曲線上查詢對應(yīng)吸光度下的樣品濃度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：原子吸收光譜儀使用PE AA800型，配備AS-800自動進樣器、硅空心陰極燈、熱解涂層平臺石墨管。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：原子吸收光譜儀設(shè)置為：波長251.61nm，狹縫0.7Lnm，燈電流40mA。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：原子吸收光譜儀設(shè)置為：進樣體積20μL，進樣方式為自動進樣。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：原子吸收光譜儀參數(shù)設(shè)定后依次自動吸入5μL硝酸鈀基體改進劑和系列濃度標準溶液。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：使用質(zhì)量分數(shù)為40％鈀的硝酸鈀粉末，配制出濃度為200mg/L的硝酸鈀基體改進劑。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：用有證硅標準溶液配制硅標準使用溶液，硅標準使用溶液濃度優(yōu)選200μg/L。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：原子吸收光譜儀中石墨爐升溫程序為：第一次干燥溫度110℃，停留30s；第二次干燥溫度140℃，停留30s；灰化溫度1000℃，停留20s，原子化溫度2350℃，停留4s；高溫清除溫度2450℃，停留5s。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：系列濃度標準溶液包含5-9個濃度點。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的利用GFAAS分析核電站二回路水中硅的分析方法，其特征在于：系列濃度標準溶液以5個濃度點為最佳，為：0μg/L、50μg/L、100μg/L、150μg/L、200μg/L。
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
