[發明專利]一種并行驗簽的方法

有效

• 申請號: 202110309614.8
• 申請日: 2021-03-23
• 公開（公告）號: CN113114466B
• 公開（公告）日: 2023-09-29
• 發明（設計）人: 王茜艷;涂翠;何德彪
• 申請（專利權）人: 武漢珈港科技有限公司
• 主分類號: H04L9/32
• 分類號: H04L9/32
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 張火春

1.一種并行驗簽的方法，其特征在于，所述并行驗簽的方法包括：

獲取若干待處理消息，以及若干簽名，其中，所述若干簽名和所述若干待處理消息一一對應；

若所述若干簽名中的每個簽名均滿足第一預設條件，則隨機選取若干第一數值，其中，所述若干第一數值與所述若干簽名一一對應；

基于所述若干第一數值和所述若干簽名確定驗簽曲線點，以及基于所述若干第一數值、若干待處理消息和所述若干簽名確定若干驗簽橫坐標；

基于所述若干驗簽橫坐標和所述驗簽曲線點確定驗證值，若所述驗證值滿足第二預設條件則并行驗簽成功，若所述驗證值不滿足第二預設條件，則并行驗簽失敗。

2.根據權利要求1所述的并行驗簽的方法，其特征在于，對于每個簽名，所述簽名包括：第一簽名值和第二簽名值；所述基于所述若干第一數值和所述若干簽名確定驗簽曲線點，具體包括：

對于每個簽名，基于所述第一簽名值和所述第二簽名值確定該簽名的驗簽中間值；

基于橢圓曲線上的n階基點、每個簽名各自分別對應的第一數值、第一簽名值、驗簽中間值和簽名公鑰確定驗簽曲線點。

3.根據權利要求1所述的并行驗簽的方法，其特征在于，對于每個簽名，所述簽名包括：第一簽名值和第二簽名值；所述基于所述若干第一數值、若干待處理消息和所述若干簽名確定若干驗簽橫坐標，具體包括：

對于每個簽名，確定該簽名對應的待處理消息的哈希值，以及該簽名的第一簽名值，根據所述哈希值和所述第一簽名值確定第一差值，所述第一差值對n取模，以得到簽名橫坐標；

基于所述簽名橫坐標確定第一變量點和第二變量點；

對于每個第一數值，將所述第一數值轉換為預設長度的二進制數，對于所述二進制數中的每個非首位字符，基于該非首位字符對所述第一變量點和所述第二變量點進行更新，以得到更新后的第一變量點和更新后的第二變量點，直至得到所述第一變量點對應的目標點，基于所述目標點確定所述第一數值對應的驗簽橫坐標。

4.根據權利要求3所述的并行驗簽的方法，其特征在于，所述第一變量點和所述第二變量點均為三維坐標點；所述基于所述簽名橫坐標確定第一變量點和第二變量點，具體包括：

(h₁，m₁，n₁)＝(x_i，1，1)

(h₂，m₂，n₂)＝dub((h₁，m₁，n₁))

其中，(h₁，m₁，n₁)是所述第一變量點，x_i是所述簽名橫坐標，h₁是所述第一變量點的第一坐標值，m₁是所述第一變量點的第二坐標值，n₁是所述第一變量點的第三坐標值，(h₂，m₂，n₂)是所述第二變量點，h₂是所述第二變量點的第一坐標值，m₂是所述第二變量點的第二坐標值，n₂是所述第二變量點的第三坐標值，dub(·)是倍乘運算。