[發明專利]用于CPU散熱板缺陷的檢測方法及檢測系統有效
| 申請號： | 202110309288.0 | 申請日： | 2021-03-23 |
| 公開（公告）號： | CN112927218B | 公開（公告）日： | 2023-07-25 |
| 發明（設計）人： | 劉新輝 | 申請（專利權）人： | 上海晨興希姆通電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司： | 上海唯源專利代理有限公司 31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 201799 上海市青浦區青浦工*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 cpu 散熱 缺陷 檢測 方法 系統 | ||
本發明公開了一種用于CPU散熱板缺陷的檢測方法及檢測系統，通過分析待測散熱板的背景孔的頻率特征，將背景孔對應的幅值頻率設為零以將其從圖像中排除，避免在檢測中需要對待測散熱板的背景孔精準定位的弊端，解決了因背景孔干擾而導致待測散熱板的小黑點缺陷的容易漏判的問題，在此基礎上，基于行灰度值均值的局部極小值分割，找到缺陷，檢測效率高且檢測精度高。本發明解決了在采用傳統的缺陷檢測方法對CPU散熱板檢測時，由于CPU散熱板的多個背景孔的干擾容易導致CPU散熱板的缺陷(如小黑點缺陷)的漏判的問題。
技術領域
本發明涉及CPU散熱板檢測技術領域，具體涉及一種用于CPU散熱板缺陷的檢測方法及檢測系統。
背景技術
CPU散熱板由于其具有呈矩陣式排布的多個孔，在采用傳統的缺陷檢測方法對CPU散熱板檢測時，由于多個背景孔的干擾而容易導致CPU散熱板的缺陷(如小黑點缺陷)的漏判。
發明內容
為克服現有技術所存在的缺陷，現提供一種用于CPU散熱板缺陷的檢測方法及檢測系統，以解決在采用傳統的缺陷檢測方法對CPU散熱板檢測時，由于CPU散熱板的多個背景孔的干擾容易導致CPU散熱板的缺陷(如小黑點缺陷)的漏判的問題。
為實現上述目的，提供一種用于CPU散熱板缺陷的檢測方法，包括以下步驟：
獲取待測散熱板的初始圖像；
在所述初始圖像中定位待測散熱板的背景孔的位置，并將所述背景孔位置上的像素點的灰度值替換為0獲得去孔灰度圖像，使得所述背景孔從所述初始圖像中消除；
遍歷所述去孔灰度圖像并計算所述去孔灰度圖像的每一行的灰度均值，用所述灰度均值替換所述去孔灰度圖像的每一個像素點的原灰度值以獲得背景分布圖像；
以所述背景分布圖像的灰度值為基準，計算所述去孔灰度圖像的每一像素點的灰度值與所述背景分布圖像中位置對應的像素點的灰度值的差值，在所述差值大于預設閾值時，對該位置的像素點進行標記以獲得差異圖像；
對所述差異圖像進行二值化分割、遍歷輪廓、保留滿足預設參數的輪廓并對保留的所述輪廓進行標記以獲得缺陷標記圖像。
進一步的，所述獲取待測散熱板的初始圖像的步驟包括：
采集所述待測散熱板的初始圖像；
對所述初始圖像進行二值化分割，遍歷輪廓以獲取所述待測散熱板的最大輪廓；
根據所述最大輪廓的角度矯正所述最大輪廓；
對矯正后的所述最大輪廓進行內縮以獲得所述初始圖像。
進一步的，所述在所述初始圖像中定位待測散熱板的背景孔的位置的步驟包括：
對所述初始圖像通過fft變換獲得頻率圖像，并對所述頻率圖像進行split分離獲得原實部圖像和原虛部圖像；
根據笛卡爾坐標轉換到極坐標的轉換公式，將所述原實部圖像和所述原虛部圖像分別轉換得到原幅頻圖像和原相位圖像；
遍歷所述原幅頻圖像以獲得十字亮點圖，所述十字亮點圖中的十字亮點即為所述背景孔的位置。
進一步的，所述將所述背景孔位置上的像素點替換為0獲得去孔灰度圖像的步驟包括：
將所述十字亮點圖中十字亮點的位置的像素點的灰度值替換為0以獲得新幅頻圖像；
根據極坐標轉換到笛卡爾坐標的轉換公式，將所述新幅頻圖像和所述原相位圖像分別轉換得到新實部圖像和新虛部圖像；
將所述新實部圖像和所述新虛部圖像合并并通過fft逆變換獲得所述去孔灰度圖像。
本發明提供一種用于CPU散熱板缺陷的檢測方法的檢測系統包括：
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