[發(fā)明專利]顯示面板的對位方法、補償方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110308579.8 | 申請日: | 2021-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN113077478A | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王巖巖;熊星 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/11 | 分類號: | G06T7/11;G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 沈曉敏 |
| 地址: | 215000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 面板 對位 方法 補償 系統(tǒng) 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
本發(fā)明揭示了一種顯示面板的對位方法、補償方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì),對位方法包括步驟:獲取待檢測顯示面板顯示的目標圖像;沿水平方向切割掉目標圖像上的邊角而得到第一矩形圖像;沿垂直方向切割掉目標圖像上的邊角而得到第二矩形圖像;獲取第一矩形圖像的第一頂點坐標組以及第二矩形圖像的第二頂點坐標組;根據(jù)第一頂點坐標組及第二頂點坐標組得到目標圖像的實際頂點坐標組;根據(jù)實際頂點坐標組對目標圖像的外輪廓進行對位。本發(fā)明的對位方法可提高待檢測顯示面板的對位精度,以滿足更高的測試需求。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示面板檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種顯示面板的對位方法、補償方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
顯示面板在出廠前需要進行顯示測試,對顯示不均等缺陷進行補償。
在實際操作中,對顯示面板進行補償前,需要先獲取顯示面板顯示的待檢測圖像,而后通過圖像處理實現(xiàn)缺陷的補償,現(xiàn)有技術(shù)一般通過直線檢測方法對待檢測圖像的外輪廓進行對位,但是這種方法只能得到大概的輪廓區(qū)域,可能會有幾個像素的偏差,如果顯示面板的四個頂角是直角,可以通過增加一些簡單的算法判定計算的位置和實際的位置是否相符,但是當顯示面板的四個頂角是倒角的情況下,因為算法計算的頂點處是沒有數(shù)據(jù)的,因此不易做判定和優(yōu)化。
有鑒于此,有必要對現(xiàn)有的外輪廓的對位方法予以改進,以解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板的對位方法、補償方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì),其可提高對位精度,以滿足更高的測試需求。
為實現(xiàn)上述發(fā)明目的之一,本發(fā)明一實施方式提供一種顯示面板的對位方法,包括步驟:
獲取待檢測顯示面板顯示的目標圖像;
沿水平方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第一矩形圖像;
沿垂直方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第二矩形圖像;
獲取所述第一矩形圖像的第一頂點坐標組以及所述第二矩形圖像的第二頂點坐標組;
根據(jù)所述第一頂點坐標組及所述第二頂點坐標組得到所述目標圖像的實際頂點坐標組;
根據(jù)所述實際頂點坐標組對所述目標圖像的外輪廓進行對位。
作為本發(fā)明一實施方式的進一步改進,步驟“沿水平方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第一矩形圖像;沿垂直方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第二矩形圖像”具體包括:
根據(jù)所述邊角與所述目標圖像之間的比例關(guān)系獲取沿水平方向延伸的第一切割線及沿豎直方向延伸的第二切割線,所述第一切割線及所述第二切割線均與所述邊角相互分離;
沿所述第一切割線切割所述目標圖像而得到第一矩形圖像;
沿所述第二切割線切割所述目標圖像而得到第二矩形圖像。
作為本發(fā)明一實施方式的進一步改進,步驟“沿水平方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第一矩形圖像;沿垂直方向切割掉所述目標圖像上的邊角而得到第二矩形圖像”具體包括:
根據(jù)所述邊角與所述目標圖像之間的比例關(guān)系獲取沿水平方向延伸的兩條第一切割線及沿豎直方向延伸的兩條第二切割線,兩條第一切割線分別位于所述目標圖像的水平中心線的兩側(cè),兩條第二切割線分別位于所述目標圖像的垂直中心線的兩側(cè),且所述第一切割線及所述第二切割線均與所述邊角相互分離;
沿兩條第一切割線切割所述目標圖像而得到第一矩形圖像;
沿兩條第二切割線切割所述目標圖像而得到第二矩形圖像。
作為本發(fā)明一實施方式的進一步改進,步驟“根據(jù)所述邊角與所述目標圖像之間的比例關(guān)系獲取沿水平方向延伸的第一切割線及沿豎直方向延伸的第二切割線”具體包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司,未經(jīng)蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110308579.8/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:電芯及用電設(shè)備
- 下一篇:一種管樁板裙端板鉚壓設(shè)備





